[發明專利]芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統及方法

有效

• 申請號: 201710749228.4
• 申請日: 2017-08-28
• 公開（公告）號: CN107505560B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 張城;李秘;張永峰;馬哲;孫衍琪;渠韶光;張煉;孟飛宇;張志波;楊子硯;鮑巖
• 申請（專利權）人: 北京銀聯金卡科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

本發明公開一種芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統及方法，在錯誤注入攻擊測試過程中，采集待測芯片的狀態信號、電磁信號、功耗信號等，根據其狀態信號、電磁信號、功耗信號判斷分析注入的能量是否合理，根據分析結果，動態調整干擾源的能量參數，并根據調整后的能量參數控制干擾源的輸出能量；通過前期的測試與調整過程，預生成較為合理的能量參數信息，后續按照能量參數信息進行測試工作，并在測試過程中，對預生成的能量參數信息進行更新、優化。本發明的系統及方法，能夠自動調整、優化能量參數，大幅提升測試工作效率，保證測試結果的準確性、有效性。

技術領域

本發明屬于芯片信息安全技術領域，涉及一種芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統及方法。

背景技術

芯片中保存著用戶個人信息、賬戶信息等關鍵信息，一旦被不法分子所攻擊利用，將造成芯片中的信息泄露，如個人信息泄露、用戶名及密碼泄露、財產丟失等，給用戶造成無法挽回的損失。

隨著電子技術的飛速發展，芯片已被廣泛的應用于銀行交易管理、醫療保險、公共交通、移動通訊等領域，其為人們的生活提供了極大的便利，與此同時，芯片的信息安全也成為人們倍加關注的焦點。

現有的針對芯片的攻擊方法已經不僅僅局限于攻擊加密算法本身，而出現了很多針對加密算法以及實現加密算法的密碼系統的攻擊方法。錯誤注入攻擊，指在密碼芯片設備中通過在密碼算法中引入錯誤，導致密碼設備產生錯誤結果，對錯誤結果進行分析從而得到密鑰。錯誤注入攻擊的主要方式是通過對密碼設備進行能量源干擾，使其無法正常工作。芯片作為重要的密碼設備，需要對其進行全面有效的錯誤注入攻擊測試，根據測試結果確定芯片存在的潛在漏洞，及時修補漏洞，實現有效的安全性防護。

目前，在芯片的錯誤注入攻擊測試工作中遇到的問題是，由于芯片的工藝、電路結構不同，導致不同芯片或是同一芯片的不同模塊對能量源(激光、電磁、毛刺等)的敏感度不同，例如，激光能量過大時，可能出現電路發生閂鎖現象，激光能量過小時，無法產生錯誤而達到測試目的，即，能量源的能量參數無法通過自動調節而達到理想的測試效果，測試效果全憑測試工程師的經驗獲得，無法保證測試結果的準確性、全面性，而使用簡單的窮舉法嘗試所有能量參數，不僅造成測試成本過大，且效率低下。

發明內容

鑒于上述原因，本發明的目的在于提供一種芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統及方法，能夠自動調整、優化能量參數，大幅提升測試工作效率，保證測試結果的準確性、有效性。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統，包括：上位機、電磁采集模塊、功耗采集模塊、能量參數分析模塊、能量參數控制模塊，

上位機，用于采集待測芯片的狀態信號，并將該狀態信號傳輸至能量參數分析模塊；

電磁采集模塊，用于采集的待測芯片的電磁信號，并對該電磁信號進行處理后，傳輸至能量參數分析模塊；

功耗采集模塊，用于采集的待測芯片的功耗信號，并對該功耗信號進行處理后，傳輸至能量參數分析模塊；

能量參數分析模塊，用于根據接收的狀態信號，處理后的電磁信號、功耗信號，動態調整能量參數，根據調整后的能量參數，生成能量參數控制信號，傳輸至能量參數控制模塊；

能量參數控制模塊，用于根據能量參數控制信號，控制干擾源輸出的能量。

所述狀態信號包括是否發生閂鎖、是否正常運行，所述能量參數分析模塊動態調整能量參數的方法是：

判斷1：待測芯片是否發生閂鎖？若發生閂鎖，判斷能量注入過大，若未發生閂鎖，進行判斷2；

判斷2：待測芯片是否正常運行？若正常運行，判斷能量注入略小，若運行異常，進行判斷3；