[發明專利]芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統及方法

有效

• 申請號: 201710749228.4
• 申請日: 2017-08-28
• 公開（公告）號: CN107505560B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 張城;李秘;張永峰;馬哲;孫衍琪;渠韶光;張煉;孟飛宇;張志波;楊子硯;鮑巖
• 申請（專利權）人: 北京銀聯金卡科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 朱麗華

1.芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統，其特征在于，包括：上位機、電磁采集模塊、功耗采集模塊、能量參數分析模塊、能量參數控制模塊，

上位機，用于采集待測芯片的狀態信號，并將該狀態信號傳輸至能量參數分析模塊；

電磁采集模塊，用于采集待測芯片的電磁信號，并對該電磁信號進行處理后，傳輸至能量參數分析模塊；

功耗采集模塊，用于采集待測芯片的功耗信號，并對該功耗信號進行處理后，傳輸至能量參數分析模塊；

能量參數分析模塊，用于根據接收的狀態信號，處理后的電磁信號、功耗信號，動態調整能量參數，根據調整后的能量參數，生成能量參數控制信號，傳輸至能量參數控制模塊；

能量參數控制模塊，用于根據能量參數控制信號，控制干擾源輸出的能量。

2.根據權利要求1所述的芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統，其特征在于，所述狀態信號包括是否發生閂鎖、是否正常運行，所述能量參數分析模塊動態調整能量參數的方法是：

判斷1：待測芯片是否發生閂鎖？若發生閂鎖，判斷能量注入過大，若未發生閂鎖，進行判斷2；

判斷2：待測芯片是否正常運行？若正常運行，判斷能量注入略小，若運行異常，進行判斷3；

判斷3：判斷電磁信號或/和功耗信號是否發生異常？若信號未發生異常，判斷能量略??；

根據判斷1-3的分析結果，動態調整能量參數，生成調整后的能量參數。

3.根據權利要求2所述的芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統，其特征在于，所述干擾源為激光器，其對應的能量參數包括能量大小、干擾持續時間、干擾次數；或者所述干擾源為電磁干擾器，其對應的能量參數包括干擾持續時間、電磁驅動電壓、電磁驅動脈寬、干擾次數；或者所述干擾源為毛刺發生器，其對應的能量參數包括毛刺寬度、毛刺深度、毛刺數量。

4.根據權利要求3所述的芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統，其特征在于，對于激光器、電磁干擾器，系統還包括承載待測芯片的移動臺，所述上位機采集該移動臺的位置信息，將該位置信息傳輸至所述能量參數分析模塊，所述能量參數分析模塊根據所述狀態信號，處理后的電磁信號、功耗信號，及該位置信息，動態調整能量參數。

5.根據權利要求4所述的芯片錯誤注入測試中的能量參數調整系統，其特征在于，根據待測芯片不同位置對應的能量參數，統計不同能量參數下芯片對應產生的情況，根據統計特性動態調整能量參數，生成調整后的能量參數。

6.基于權利要求5所述的能量參數調整系統實現的能量參數調整方法，其特征在于，包括：

采集待測芯片的狀態信號、電磁信號、功耗信號；

根據待測芯片的狀態信號、電磁信號、功耗信號，判斷能量參數的合理性，并根據判斷結果，動態調整能量參數，生成調整后的能量參數；

根據調整后的能量參數，控制干擾源的輸出能量。

7.根據權利要求6所述的能量參數調整方法，其特征在于，所述動態調整能量參數的方法是：

判斷1：待測芯片是否發生閂鎖？若發生閂鎖，判斷能量注入過大，若未發生閂鎖，進行判斷2；

判斷2：待測芯片是否正常運行？若正常運行，判斷能量注入略小，若運行異常，進行判斷3；

判斷3：判斷電磁信號或/和功耗信號是否發生異常？若信號未發生異常，判斷能量略??；

根據判斷1-3的分析結果，動態調整能量參數，生成調整后的能量參數。

8.根據權利要求7所述的能量參數調整方法，其特征在于，

對于電磁干擾器、激光器，先對待測芯片上數量為N的測試點分別進行多次能量注入，確定每個測試點的能量參數上限；

之后，對待測芯片上數量為N`的測試點分別進行多次能量注入，能量參數不超過能量參數上限，此過程中，動態調整能量參數，生成位置-能量參數對照信息，該位置-能量參數對照信息包括測試點的位置、該位置對應的能量參數上限及能量參數下限；其中，N`大于N；

按照該位置-能量參數對照信息進行測試，并在測試過程中對該位置-能量參數對照信息進行優化。