[發明專利]一種晶體能量校正方法和裝置在審
| 申請號: | 201710741305.1 | 申請日: | 2017-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN107569249A | 公開(公告)日: | 2018-01-12 |
| 發明(設計)人: | 高鵬;楊龍;寧鵬;梁國棟;張軍 | 申請(專利權)人: | 沈陽東軟醫療系統有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識產權代理有限公司11415 | 代理人: | 陳蕾,靳玫 |
| 地址: | 110167 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 晶體 能量 校正 方法 裝置 | ||
技術領域
本公開涉及醫療成像技術,特別涉及一種晶體能量校正方法和裝置。
背景技術
正電子發射斷層掃描裝置(Positron Emission Tomograph,PET)是根據注入體內的放射性核素在衰變過程中產生的正電子湮滅輻射和符合探測原理構成的計算機斷層裝置。常規的PET系統可以包括主機設備和上位機,其中,主機設備可以包括由晶體和光電倍增管組成的探測器模塊,通過探測器模塊采集正電子湮滅輻射產生的γ光子及光子能量。上位機可以根據光子能量及其他信息進行處理,獲得最終的圖像。但是,由于γ光子擊中晶體位置的不同、以及光電倍增管的個體差異等因素,造成即使是相同能量的γ光子,同一個探測器模塊中的各個晶體輸出的探測到的光子能量也不一致。由此需要對探測器模塊中的各個晶體輸出的能量進行校正,保證能量輸出一致性,才能達到理想的圖像質量。
現有技術中,可以由上位機根據主機設備采集到的γ光子能量進行處理,得到用于能量校正的校正信息,并將校正信息傳輸至主機設備,以使得主機設備據此對光子能量進行校正。但是,這種方式操作繁瑣,需要人工在上位機側觸發校正開始執行,使得能量校正的效率較低。
發明內容
有鑒于此,本公開提供一種晶體能量校正方法和裝置,以通過簡潔的方式快速有效的提高晶體能量一致性的校正效果。
具體地,本公開是通過如下技術方案實現的:
第一方面,提供一種晶體能量校正方法,所述方法由主機設備中的控制器執行,所述主機設備還包括探測器模塊,所述方法包括:
所述控制器獲取所述探測器模塊中的各個晶體的能量分布信息,每個晶體的所述能量分布信息包括:所述晶體探測到的各個光子能量、以及分別對應各光子能量的計數;
所述控制器根據理想能量分布信息和各個晶體的所述能量分布信息,分別獲取對應各個晶體的能量校正參數;
所述控制器根據所述能量校正參數,對所述探測器模塊中的各個晶體進行能量一致性校正。
第二方面,提供一種醫療掃描設備,所述設備包括:多個探測器模塊,每個探測器模塊包括多個晶體;還包括與所述探測器模塊連接的控制器;
所述探測器模塊,用于通過所述各個晶體探測γ光子的光子能量;
所述控制器,用于采集探測器模塊中的各個晶體的能量分布信息,每個晶體的所述能量分布信息包括:所述晶體探測到的各個光子能量、以及分別對應各光子能量的計數;根據理想能量分布信息和各個晶體的所述能量分布信息,分別獲取對應各個晶體的能量校正參數;根據所述能量校正參數,對所述探測器模塊中的各個晶體進行能量一致性校正。
本公開提供的晶體能量校正方法和裝置,通過由主機設備內的控制器執行,可以實現控制器根據采集到的能量信息自動執行能量校正過程,不再需要人工觸發,也不需要傳輸至上位機處理,主機設備自身進行能量校正即可,從而校正實現方式更加簡潔,而且控制器執行處理比較快速。此外,直接由主機自身進行能量校正的處理,不再需要在上位機和主機之間的傳輸過程,也減少了傳輸過程因素對傳輸數據造成的影響。
附圖說明
圖1是本公開一示例性實施例示出的一種PET系統的結構示意圖;
圖2a是本公開一示例性實施例示出的一種能量分布曲線圖;
圖2b是本公開一示例性實施例示出的一種能量分布曲線圖;
圖3是本公開一示例性實施例示出的一種能量校正方法的流程示意圖;
圖4是本公開一示例性實施例示出的一種能量校正方法的流程示意圖。
具體實施方式
這里將詳細地對示例性實施例進行說明,其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時,除非另有表示,不同附圖中的相同數字表示相同或相似的要素。以下示例性實施例中所描述的實施方式并不代表與本公開相一致的所有實施方式。相反,它們僅是與如所附權利要求書中所詳述的、本公開的一些方面相一致的裝置和方法的例子。
如圖1的示意,PET系統可以包括主機設備11和上位機12。其中,主機設備11中可以包括多個探測器模塊111,圖1只示例了兩個探測器模塊,實際實施中的數量更多。每個探測器模塊中可以包括晶體13和PMT(photomultiplier tube,光電倍增管)14(圖1僅示例了一個晶體和PMT,實際中可以包括多個)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于沈陽東軟醫療系統有限公司,未經沈陽東軟醫療系統有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710741305.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





