[發(fā)明專利]微銅柱的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710735809.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107546139B | 公開(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王福亮;王峰;趙志鵬;聶南天;任鑫宇;曾鵬;朱文輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60;H01L23/485 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙永星專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 鄧淑紅 |
| 地址: | 410083 湖南*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微銅柱 制造 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種微銅柱的制造方法,包括:步驟一、在絕緣襯底上完成多層RDL金屬互連結(jié)構(gòu),在最后一層金屬互連結(jié)構(gòu)外對(duì)應(yīng)導(dǎo)電通道位置處設(shè)置焊盤;步驟二、制作微陽(yáng)極,微陽(yáng)極的直徑與微銅柱的直徑相匹配;步驟三、制作微陽(yáng)極夾具盤,將制作好的微陽(yáng)極安裝于微陽(yáng)極夾具盤上對(duì)應(yīng)焊盤的區(qū)域,并將各微陽(yáng)極連通;步驟四、將裝有微陽(yáng)極的微陽(yáng)極夾具盤放置在芯片上方,使微陽(yáng)極與焊盤一一對(duì)應(yīng),將微陽(yáng)極夾具盤連接至電鍍電源的正極,芯片連接至電鍍電源的負(fù)極;步驟五、采用局部電化學(xué)沉積方法,在焊盤上電鍍沉積出需要的微銅柱。對(duì)設(shè)備的要求較低,制備過程簡(jiǎn)單,降低了制作成本;并且可通過多焊盤和多微陽(yáng)極同時(shí)制備多個(gè)微銅柱,生產(chǎn)效率較高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于微電子三維集成互連領(lǐng)域,具體涉及一種微銅柱的制造方法。
背景技術(shù)
集成電路(IC)制造是高新技術(shù)核心的產(chǎn)業(yè)之一。為應(yīng)對(duì)尺寸更小、功能更強(qiáng)的需求挑戰(zhàn),IC的集成度增加、特征線寬降低到32nm以下,逐漸接近物理極限。業(yè)界認(rèn)為更有效的解決方法之一是系統(tǒng)級(jí)封裝(System in Package,SiP)技術(shù)。即將多個(gè)不同功能的有源/無源/MEMS/生物芯片等器件,在三維高度方向上互連,組裝成多功能的單個(gè)標(biāo)準(zhǔn)封裝子系統(tǒng)的先進(jìn)封裝技術(shù)。
微銅柱是實(shí)現(xiàn)不同芯片層之間電學(xué)互連的必要結(jié)構(gòu)之一,一般是在布線層上的焊盤中,制造微銅柱(copper pillar),通過微銅柱與臨近層的微銅柱的鍵合,實(shí)現(xiàn)不同芯片層之間電學(xué)互連。
目前工業(yè)上制造微銅柱的方法主要是圖形化電鍍工藝,其主要步驟為:1)通過PVD工藝淀積金屬粘附層/擴(kuò)散阻擋層/銅種子層;2)通過旋轉(zhuǎn)涂敷光刻膠或干膜工藝涂布光刻膠薄膜;3)通過曝光/顯影等工藝對(duì)光刻膠進(jìn)行圖形化處理,在光刻膠被顯影和去除的區(qū)域進(jìn)行銅電鍍;4)在通過化學(xué)溶液去除光刻膠,最后利用化學(xué)試劑刻蝕種子層/阻擋層/金屬粘附層。這樣的制造方法存在以下問題:1)制造步驟復(fù)雜,需要?jiǎng)觿t上千萬的昂貴光刻和電鍍?cè)O(shè)備,制造成本高;2)微銅柱的電鍍速度慢,制造效率低,高度為40um的微銅柱凸點(diǎn)電鍍時(shí)間約為2小時(shí);3)無法可控的制造非圓柱形的微銅柱,比如錐形凸點(diǎn)。有研究表明,錐形微銅柱可以避免凸點(diǎn)之間因高度差異導(dǎo)致鍵合失效的現(xiàn)象,還可以由于機(jī)械嵌入作用,提高互連點(diǎn)之間的連接強(qiáng)度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種過程簡(jiǎn)單、效率高、成本低的微銅柱的制造方法。
本發(fā)明提供了一種微銅柱的制造方法,它包括以下步驟:
步驟一、在絕緣襯底上完成多層RDL金屬互連結(jié)構(gòu),在最后一層金屬互連結(jié)構(gòu)外對(duì)應(yīng)導(dǎo)電通道位置處設(shè)置焊盤;
步驟二、制作微陽(yáng)極,微陽(yáng)極的直徑與微銅柱的直徑相匹配;
步驟三、制作微陽(yáng)極夾具盤,將制作好的微陽(yáng)極安裝于微陽(yáng)極夾具盤上對(duì)應(yīng)焊盤的區(qū)域,并將各微陽(yáng)極連通;
步驟四、將裝有微陽(yáng)極的微陽(yáng)極夾具盤放置在芯片上方,使微陽(yáng)極與焊盤一一對(duì)應(yīng),將微陽(yáng)極夾具盤連接至電鍍電源的正極,芯片連接至電鍍電源的負(fù)極;
步驟五、采用局部電化學(xué)沉積方法,在焊盤上電鍍沉積出需要的微銅柱。
在上述步驟五中局部電化學(xué)沉積方法的具體步驟為:
(1)將帶有焊盤的芯片和裝有微陽(yáng)極的微陽(yáng)極夾具置于電解液中,焊盤接陰極,微陽(yáng)極接陽(yáng)極,施加測(cè)試電勢(shì),微陽(yáng)極下行;
(2)微陽(yáng)極下行至與焊盤接觸后關(guān)閉電源,控制微陽(yáng)極上行至與焊盤之間距離為設(shè)定間距后施加電鍍電勢(shì),微陽(yáng)極與焊盤之間的局部空間內(nèi)形成局部電場(chǎng),在局部電場(chǎng)作用下微銅柱開始沉積生長(zhǎng);
(3)當(dāng)微銅柱持續(xù)生長(zhǎng)至碰觸到微陽(yáng)極底面時(shí),電流突然增大,切斷電流,控制微陽(yáng)極再次上升一個(gè)設(shè)定間距的行程;
(4)循環(huán)重復(fù)(3),直至微銅柱的高度達(dá)到制造要求。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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