[發(fā)明專利]微銅柱的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710735809.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107546139B | 公開(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王福亮;王峰;趙志鵬;聶南天;任鑫宇;曾鵬;朱文輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60;H01L23/485 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙永星專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 鄧淑紅 |
| 地址: | 410083 湖南*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微銅柱 制造 方法 | ||
1.一種微銅柱的制造方法,其特征在于,它包括以下步驟:
步驟一、在絕緣襯底上完成多層RDL金屬互連結(jié)構(gòu),在最后一層金屬互連結(jié)構(gòu)外對(duì)應(yīng)導(dǎo)電通道位置處設(shè)置焊盤;
步驟二、制作微陽(yáng)極,微陽(yáng)極的直徑與微銅柱的直徑相匹配;
步驟三、制作微陽(yáng)極夾具盤,將制作好的微陽(yáng)極安裝于微陽(yáng)極夾具盤上對(duì)應(yīng)焊盤的區(qū)域,并將各微陽(yáng)極連通;
步驟四、將裝有微陽(yáng)極的微陽(yáng)極夾具盤放置在芯片上方,使微陽(yáng)極與焊盤一一對(duì)應(yīng),將微陽(yáng)極夾具盤連接至電鍍電源的正極,芯片連接至電鍍電源的負(fù)極;
步驟五、采用局部電化學(xué)沉積方法,在焊盤上電鍍沉積出需要的微銅柱,局部電化學(xué)沉積方法的具體步驟為:
(1)將帶有焊盤的芯片和裝有微陽(yáng)極的微陽(yáng)極夾具置于電解液中,焊盤接陰極,微陽(yáng)極接陽(yáng)極,施加測(cè)試電勢(shì),微陽(yáng)極下行;
(2)微陽(yáng)極下行至與焊盤接觸后關(guān)閉電源,控制微陽(yáng)極上行至與焊盤之間距離為設(shè)定間距后施加電鍍電勢(shì),微陽(yáng)極與焊盤之間的局部空間內(nèi)形成局部電場(chǎng),在局部電場(chǎng)作用下微銅柱開始沉積生長(zhǎng);
(3)當(dāng)微銅柱持續(xù)生長(zhǎng)至碰觸到微陽(yáng)極底面時(shí),電流突然增大,切斷電流,控制微陽(yáng)極再次上升一個(gè)設(shè)定間距的行程;
(4)循環(huán)重復(fù)(3),直至微銅柱的高度達(dá)到制造要求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微銅柱的制造方法,其特征在于:所述電鍍電勢(shì)的范圍為2.0V—2.5V。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微銅柱的制造方法,其特征在于:所述設(shè)定間距小于等于5um時(shí)沉積出的微銅柱為圓柱型,設(shè)定間距的大于5um、小于等于25um時(shí)沉積出的微銅柱為圓臺(tái)型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微銅柱的制造方法,其特征在于:所述微陽(yáng)極包括鉑絲電極和包裹于鉑絲電極外的絕緣層,鉑絲電極的直徑匹配于微銅柱的直徑。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微銅柱的制造方法,其特征在于:所述微陽(yáng)極夾具盤上對(duì)應(yīng)所述焊盤的位置處開設(shè)有安裝孔,所述微陽(yáng)極的一端埋入安裝孔內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微銅柱的制造方法,其特征在于:所述絕緣襯底為硅襯底,所述導(dǎo)電通道為TSV。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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