[發明專利]一種適用于CELL工序的色斑修復方法及系統

有效

• 申請號: 201710729437.2
• 申請日: 2017-08-23
• 公開（公告）號: CN107767807B
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 唐斐;李苗;劉釗;鄭增強;沈亞非
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/20
• 分類號: G09G3/20;G09G3/36;G02F1/13
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種適用于CELL工序的色斑修復方法及系統，該色斑修復方法包括：S1)獲取一包含顯示模組Mura缺陷區域的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值與Mura補償數據對應關系的Mura補償數據集；S2)采集該顯示面板Mura缺陷區域的第二初始亮度值、或/和第二初始色度值，并將該第二初始亮度值、或/和第二初始色度值與該Mura補償數據集中的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值進行比較，取誤差最小的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值對應的Mura補償數據作為該顯示面板Mura缺陷區域的DeMura數據。本發明可以在CELL工序中直接對顯示面板的色斑缺陷進行修復，識別出不能進行色斑修復的顯示面板，從而避免平面顯示模組產線MODULE工序的物料浪費，提高良品率。

技術領域

本發明涉及平面顯示技術領域，具體涉及到一種在CELL工序中直接對顯示面板的色斑缺陷進行修復的方法及系統。

背景技術

平面顯示器具有高分辨率、高灰度以及無幾何變形等優點，同時由于其體積小、重量輕和功耗低，因而被廣泛的應用在人們日常使用的消費電子產品中，例如電視、電腦、手機、平板等。平面顯示器的制造工藝復雜，主要包括ARRAY(陣列)、CELL(面板成型)和MODULE(模組構裝)三大工序，且每一個大工序中又包含十幾至幾十個小工序，而且隨著平面顯示器的尺寸越做越大，其灰度的均勻性也越來越難控制，因此在制造過程中難免會出現各種顯示缺陷，而這些顯示缺陷較為常見的是Mura(色斑)缺陷。Mura缺陷是在同一光源且底色相同的畫面下，因視覺感受到的不同顏色或者灰度的差異，從而給人們帶來視覺上的不適，嚴重影響著平面顯示器的品質。

目前已有專門針對平面顯示器的Mura缺陷修復技術，如中國專利《一種修復平面顯示模組Mura缺陷的方法及系統》(公告號CN106097954A)、中國專利《一種消除液晶顯示器Mura的方法和裝置》(公告號CN103680449B)。這些Mura缺陷修復技術采用的技術方案均是在MODULE工序后端對平面顯示模組的Mura缺陷進行修復，即先獲得平面顯示模組的DeMura數據(Mura補償數據)，然后將DeMura數據燒錄至模組PCB板中的Flash IC，最后由模組TCON板中的DeMuraTcon IC(Mura補償芯片)從Flash IC中讀取DeMura數據進行Mura缺陷修復。

在MODULE工序中，需要將CELL工序加工完成的面板與Drive IC(驅動電路)、PCB板(印刷電路板)連接，并裝上背光模組、外框等多種周邊零部件，其工序包括偏光片貼合、TAB貼合、PCB貼合等十幾個小工序。由于現有技術中的這些Mura缺陷修復技術只能在MODULE工序后端(即完成偏光片貼合、TAB貼合、PCB貼合等工序)才能進行Mura缺陷修復過程，對于部分由于物料或制程工藝等客觀原因不能完成Mura缺陷修復或Mura缺陷修復仍不合格的平面顯示模組，在MODULE工序中會造成大量的物料浪費，同時也降低了平面顯示模組產線的良品率。

發明內容

針對上述現有技術的不足，本發明公開一種適用于CELL工序的色斑修復方法及系統，能在CELL工序中直接對顯示面板的色斑缺陷進行修復，識別出不能進行色斑修復的顯示面板，從而避免平面顯示模組產線MODULE工序的物料浪費，提高良品率。

為解決上述技術問題，本發明提供一種適用于CELL工序的色斑修復方法，該色斑修復方法包括以下步驟：

S1)獲取一包含顯示模組Mura缺陷區域的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值與Mura補償數據對應關系的Mura補償數據集；

S2)采集該顯示面板Mura缺陷區域的第二初始亮度值、或/和第二初始色度值，并將該第二初始亮度值、或/和第二初始色度值與該Mura補償數據集中的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值進行比較，取誤差最小的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值對應的Mura補償數據作為該顯示面板Mura缺陷區域的DeMura數據；

S3)將該DeMura數據疊加到一n灰階圖像中，得到第一Mura補償圖像；