[發明專利]一種適用于CELL工序的色斑修復方法及系統

有效

• 申請號: 201710729437.2
• 申請日: 2017-08-23
• 公開（公告）號: CN107767807B
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 唐斐;李苗;劉釗;鄭增強;沈亞非
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/20
• 分類號: G09G3/20;G09G3/36;G02F1/13
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種適用于CELL工序的色斑修復方法，用于在CELL工序中直接對顯示面板的色斑缺陷進行修復，其特征在于，包括以下步驟：

S1)獲取一包含顯示模組Mura缺陷區域的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值與Mura補償數據對應關系的Mura補償數據集；

S2)采集該顯示面板Mura缺陷區域的第二初始亮度值、或/和第二初始色度值，并將該第二初始亮度值、或/和第二初始色度值與該Mura補償數據集中的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值進行比較，取誤差最小的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值對應的Mura補償數據作為該顯示面板Mura缺陷區域的DeMura數據；

S3)將該DeMura數據疊加到一n灰階圖像中，得到第一Mura補償圖像；

S4)將該第一Mura補償圖像輸入到該顯示面板，并識別該顯示面板Mura缺陷區域的修復效果；

若該修復效果滿足顯示要求，則將該顯示面板送入MODULE工序，并將該DeMura數據燒錄到MODULE工序中該顯示面板對應的FlashIC中。

2.根據權利要求1所述的色斑修復方法，其特征在于，判斷所述修復效果滿足顯示要求的步驟包括：

提供一Mura評價值v1，采集該第一Mura補償圖像輸入到該顯示面板的顯示畫面的灰度矩陣I，并獲得該灰度矩陣I的歸一化均方差值w1；

若該歸一化均方差值w1小于該Mura評價值v1，則該修復效果滿足顯示要求。

3.根據權利要求1所述的色斑修復方法，其特征在于，獲取該Mura補償數據集的方法包括以下步驟：

S11)采集該顯示模組一n灰階的全白圖像，得到該全白圖像的灰度矩陣I₁及標準灰度矩陣S，并獲取該顯示模組Mura缺陷區域的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值；

S12)根據該標準灰度矩陣S和該灰度矩陣I₁計算灰度歸一化系數K，并將該灰度歸一化系數K與該灰度矩陣I₁相乘得到灰度矩陣I₂；

S13)根據該灰度矩陣I₂與該標準灰度矩陣S的差異得到補償數據矩陣R，獲得該顯示模組Mura缺陷區域的Mura補償數據；

其中，該標準灰度矩陣S與該灰度矩陣I₁、該灰度矩陣I₂、補償數據矩陣R為同階矩陣，n的取值范圍為0≤n≤255。

4.根據權利要求3所述的色斑修復方法，其特征在于，步驟S12中該灰度歸一化系數K為該標準灰度矩陣S的平均灰度值與該灰度矩陣I₁的平均灰度值的比值。

5.根據權利要求3所述的色斑修復方法，其特征在于，獲取該Mura補償數據集的方法還包括以下步驟：

S14)將該補償數據矩陣R疊加到該灰度矩陣I₁上，得到第二Mura補償圖像，采集該第二Mura補償圖像輸入到該顯示模組的顯示畫面的灰度矩陣I3，并獲得該灰度矩陣I3的歸一化均方差值w2；

S15)提供一Mura評價值v2，

若該歸一化均方差值w2小于該Mura評價值v2，則從該補償數據矩陣R獲得該顯示模組Mura缺陷區域的Mura補償數據；

若該歸一化均方差值w2大于該Mura評價值v2，則根據該灰度矩陣I₃重復步驟S12至S15。

6.根據權利要求1所述的色斑修復方法，其特征在于，還包括以下步驟：

S5)提供一Mura評價值v3，采集MODULE工序后端顯示模組的顯示畫面的灰度矩陣I₄，并獲得該灰度矩陣I₄的歸一化均方差值w3；

若該歸一化均方差值w3大于該Mura評價值v3，則對該MODULE工序后端顯示模組進行色斑修復，獲得該MODULE工序后端顯示模組的Mura缺陷區域的第一初始亮度值、或/和第一初始色度值，以及Mura補償數據，并更新到該Mura補償數據集中。