[發(fā)明專利]非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710722754.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107833589B | 公開(公告)日: | 2020-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 須藤直昭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華邦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C16/06 | 分類號(hào): | G11C16/06;G06F11/10 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 馬雯雯;臧建明 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 非易失性 半導(dǎo)體 存儲(chǔ) 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,包括:存儲(chǔ)器陣列,包含存儲(chǔ)墊(MAT?0、MAT?1);頁(yè)面緩沖器(170?0),保持從存儲(chǔ)墊(MAT?0)讀出的數(shù)據(jù);頁(yè)面緩沖器(170?1),保持從存儲(chǔ)墊(MAT?1)讀出的數(shù)據(jù);ECC電路(140),進(jìn)行數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正;輸出緩沖器(110),輸出數(shù)據(jù);以及轉(zhuǎn)發(fā)控制部,控制頁(yè)面緩沖器(170?0)、頁(yè)面緩沖器(170?1)、ECC電路(140)、輸出緩沖器(110)間的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)。在存儲(chǔ)墊(MAT?0)受到選擇時(shí),轉(zhuǎn)發(fā)控制部將由頁(yè)面緩沖器(170?0)所保持的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至存儲(chǔ)墊(MAT?1)的頁(yè)面緩沖器(170?1)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置,尤其涉及一種搭載有芯片級(jí)(onchip)錯(cuò)誤檢測(cè)糾正(Error Checking Correction,ECC)功能的與非(NAND)型快閃存儲(chǔ)器(flash memory)的讀出方法。
背景技術(shù)
目前在存儲(chǔ)器芯片上,是利用冗余方案在表觀上修復(fù)制造工序中產(chǎn)生的存儲(chǔ)元件的物理缺陷。而且,除了借助冗余存儲(chǔ)器的物理修復(fù)以外,作為軟錯(cuò)誤對(duì)策,還有錯(cuò)誤檢測(cè)糾正電路。
專利文獻(xiàn)1的NAND型快閃存儲(chǔ)器中,高速緩沖寄存器由兩個(gè)部分構(gòu)成,在從其中一個(gè)高速緩沖寄存器輸出數(shù)據(jù)的同時(shí),進(jìn)行另一個(gè)高速緩沖寄存器的數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤糾正碼運(yùn)算,由此,從輸出中去除錯(cuò)誤糾正碼運(yùn)算的延遲,從而可實(shí)現(xiàn)高速讀出。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利特開2013-235642號(hào)公報(bào)
發(fā)明所要解決的問題
圖1是表示現(xiàn)有的搭載芯片級(jí)ECC功能的NAND型快閃存儲(chǔ)器的概略結(jié)構(gòu)的圖。
快閃存儲(chǔ)器可根據(jù)來自外部的命令等來進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀出、數(shù)據(jù)的編程、數(shù)據(jù)的擦除。而且,作為串行接口(serial interface)功能,可響應(yīng)外部的串行時(shí)鐘(serial clock)信號(hào)SCK,而從輸出墊60串行輸出由輸出緩沖器50所保持的數(shù)據(jù)。此時(shí),連續(xù)讀出存儲(chǔ)胞元陣列10內(nèi)的頁(yè)面,并將讀出的數(shù)據(jù)通過轉(zhuǎn)發(fā)電路30、32而轉(zhuǎn)發(fā)至輸出緩沖器50。在進(jìn)行頁(yè)面的連續(xù)讀出時(shí),行地址是通過對(duì)地址計(jì)數(shù)器進(jìn)行增量而生成。在圖2表示進(jìn)行頁(yè)面的連續(xù)讀出時(shí)的時(shí)間圖。首先,進(jìn)行頁(yè)面0的讀出,將頁(yè)面0的數(shù)據(jù)保持于頁(yè)面緩沖器20的鎖存器L1的第1高速緩沖部分C0及第2高速緩沖部分C1(P0C0、P0C1)。接下來,將鎖存器L1的第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L2的第1高速緩沖部分C0,進(jìn)而并行地將第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至ECC電路40。在ECC電路40中,進(jìn)行ECC解碼的運(yùn)算,當(dāng)檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí),對(duì)鎖存器L2的第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正。
接下來,將鎖存器L2的第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至輸出緩沖器50,由輸出緩沖器50所鎖存的數(shù)據(jù)與外部的串行時(shí)鐘SCK同步地從輸出墊60串行輸出。在此期間內(nèi),將鎖存器L1的第2高速緩沖部分C1的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L2,并將轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L2的第2高速緩沖部分C1的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至ECC電路40,在其中進(jìn)行ECC解碼的運(yùn)算,當(dāng)檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí),對(duì)第2高速緩沖部分C1的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正。進(jìn)而,在此期間內(nèi),無論鎖存器L1的第2高速緩沖部分C1的數(shù)據(jù)是否被轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L2,均進(jìn)行存儲(chǔ)器陣列的頁(yè)面1的讀出,并將頁(yè)面1的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L1(P1C0、P1C1)。
接下來,將鎖存器L2的第2高速緩沖部分C1的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至輸出緩沖器50,由輸出緩沖器50所鎖存的數(shù)據(jù)與外部的串行時(shí)鐘CSK同步地從輸出墊60串行輸出。在此期間內(nèi),將鎖存器L1的第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L2,將轉(zhuǎn)發(fā)至鎖存器L2的第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至ECC電路40,在其中進(jìn)行ECC解碼的運(yùn)算,當(dāng)檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí),對(duì)第1高速緩沖部分C0的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正。
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