[發(fā)明專利]X射線透射檢查裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710717081.0 | 申請日： | 2017-08-21 |
| 公開（公告）號： | CN107782750B | 公開（公告）日： | 2021-10-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 高原稔幸 | 申請（專利權(quán)）人： | 日本株式會社日立高新技術(shù)科學(xué) |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人： | 李輝;黃綸偉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 射線 透射 檢查 裝置 | ||
1.一種X射線透射檢查裝置，其特征在于，該X射線透射檢查裝置具有：
X射線源，其對帶狀的試樣照射X射線；
試樣移動機(jī)構(gòu)，其在來自所述X射線源的X射線的照射中使所述試樣在該試樣的延伸方向上連續(xù)移動；
X射線檢測器，其相對于所述試樣設(shè)置在與所述X射線源相反的一側(cè)，檢測透射過所述試樣的所述X射線；
標(biāo)準(zhǔn)試樣移動機(jī)構(gòu)，其能夠使設(shè)置于不同于所述試樣的位置的標(biāo)準(zhǔn)試樣移動；以及
配置變更機(jī)構(gòu)，其能夠使所述X射線源和所述X射線檢測器與所述試樣和所述標(biāo)準(zhǔn)試樣相對移動，能夠?qū)⑺鯴射線源和所述X射線檢測器從與所述試樣對置的配置狀態(tài)變更到與通過所述標(biāo)準(zhǔn)試樣移動機(jī)構(gòu)移動的所述標(biāo)準(zhǔn)試樣對置的配置狀態(tài)，
所述試樣移動機(jī)構(gòu)使所述帶狀的試樣以張緊設(shè)置的狀態(tài)移動，
所述標(biāo)準(zhǔn)試樣移動機(jī)構(gòu)能夠使在與所述試樣相同的高度配置的所述標(biāo)準(zhǔn)試樣在與所述試樣的移動方向平行的方向上移動，并且能夠在所述試樣移動機(jī)構(gòu)引起的所述試樣的移動停止的狀態(tài)下使所述標(biāo)準(zhǔn)試樣移動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線透射檢查裝置，其特征在于，
該X射線透射檢查裝置設(shè)置有多個(gè)由彼此對置的所述X射線源和所述X射線檢測器構(gòu)成的檢查部，
所述配置變更機(jī)構(gòu)能夠使多個(gè)所述檢查部移動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X射線透射檢查裝置，其特征在于，
所述標(biāo)準(zhǔn)試樣移動機(jī)構(gòu)能夠在與所述延伸方向平行的方向上以與所述試樣相同的速度移動。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X射線透射檢查裝置，其特征在于，
該X射線透射檢查裝置具有控制部，該控制部與所述X射線源和所述X射線檢測器連接，控制所述X射線源和所述X射線檢測器，
所述控制部根據(jù)檢查所述標(biāo)準(zhǔn)試樣時(shí)的結(jié)果，在檢查所述試樣時(shí)進(jìn)行所述X射線源和所述X射線檢測器的調(diào)整。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線透射檢查裝置，其特征在于，
所述配置變更機(jī)構(gòu)在檢查所述試樣時(shí)能夠使多個(gè)所述檢查部移動至所述試樣的寬度方向上彼此不同的位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線透射檢查裝置，其特征在于，
所述配置變更機(jī)構(gòu)在檢查所述試樣時(shí)能夠使多個(gè)所述檢查部移動至所述試樣的寬度方向上相同的位置。
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