[發明專利]半導體元件測試用分選機及該分選機中的測試支持方法在審
| 申請號： | 201710701226.8 | 申請日： | 2015-03-04 |
| 公開（公告）號： | CN107617583A | 公開（公告）日： | 2018-01-23 |
| 發明（設計）人： | 咸鍾仁;金善真 | 申請（專利權）人： | 泰克元有限公司 |
| 主分類號： | B07C5/344 | 分類號： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產權代理有限公司11286 | 代理人： | 孫昌浩,李盛泉 |
| 地址： | 韓國京畿*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 元件 測試 分選 中的 支持 方法 | ||
1.一種半導體元件測試用分選機，其特征在于，包括：
測試批量堆垛機，能夠收納裝載有需要測試的半導體元件的客戶托盤；
測試支持部，從由所述測試批量堆垛機向引出位置移動過來的客戶托盤中引出半導體元件之后將該半導體元件電連接于測試機側，并根據測試結果而將半導體元件進行分類而引入到位于引入位置的客戶托盤或位于重新測試位置的客戶托盤，其中，所述引出位置是將需要測試的半導體元件從客戶托盤引出的位置，所述引入位置是將通過測試的半導體元件引入到客戶托盤的位置，所述重新測試位置是將作為重新測試對象的半導體元件引入到客戶托盤的位置；
第一收納堆垛機，能夠收納所裝載的半導體元件被所述測試支持部全部引出之后經過收納位置而到來的客戶托盤，其中，所述收納位置是所裝載的半導體元件被全部引出的空置的客戶托盤從引出位置移送過來的位置；
第二收納堆垛機，能夠收納來自所述引入位置的客戶托盤；
第三收納堆垛機，能夠收納來自所述重新測試位置的客戶托盤；
托盤移送器，能夠在引出位置、引入位置、重新測試位置之間移送客戶托盤，
所述托盤移送器包括：
拾取器，能夠拾取客戶托盤；
升降器，能夠使所述拾取器升降；
水平移動器，能夠將所述拾取器移動到引出位置、引入位置、重新測試位置的上方。
2.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，所述拾取器具有：
防脫罩，用于防止裝載于客戶托盤的半導體元件的脫離。
3.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，還包括：
重新測試失敗堆垛機，能夠收納裝載有重新測試過程中失敗的半導體元件的客戶托盤。
4.一種半導體元件測試用分選機，其特征在于，包括：
測試批量堆垛機，能夠收納裝載有需要測試的半導體元件的客戶托盤；
測試支持部，從由所述測試批量堆垛機向引出位置移動過來的客戶托盤中引出半導體元件之后將該半導體元件電連接于測試機側，并根據測試結果而將半導體元件進行分類而引入到位于引入位置的客戶托盤或位于重新測試位置的客戶托盤，其中，所述引出位置是將需要測試的半導體元件從客戶托盤引出的位置，所述引入位置是將通過測試的半導體元件引入到客戶托盤的位置，所述重新測試位置是將作為重新測試對象的半導體元件引入到客戶托盤的位置；
第一收納堆垛機，能夠收納所裝載的半導體元件被所述測試支持部全部引出之后經過收納位置而到來的客戶托盤，其中，所述收納位置是所裝載的半導體元件被全部引出的空置的客戶托盤從引出位置移送過來的位置；
第二收納堆垛機，能夠收納來自所述引入位置的客戶托盤；
托盤移送器，能夠在引出位置、引入位置、重新測試位置之間移送客戶托盤；
重新測試批量堆垛機，能夠收納裝載有作為重新測試對象的半導體元件的客戶托盤，
其中，所述托盤移送器包括：
拾取器，能夠拾取客戶托盤；
升降器，能夠使所述拾取器升降；
水平移動器，能夠將所述拾取器移動到引出位置、引入位置、重新測試位置的上方，
裝載有作為重新測試對象的半導體元件的客戶托盤借助于所述托盤移送器而被移送到所述重新測試批量堆垛機的后方位置，然后被收納于所述重新測試批量堆垛機。
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