[發(fā)明專利]斜面型脹差校驗(yàn)儀及其校驗(yàn)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710699227.3
• 申請(qǐng)日: 2017-08-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107388949B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-06-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 程衛(wèi)國(guó);陳海兵;陸文華;范凱;張星晴;徐輝平;錢(qián)安家
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計(jì)研究院有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01B7/00
• 分類號(hào): G01B7/00
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 翁若瑩

1.一種斜面型脹差校驗(yàn)儀，其特征在于，包括帶刻度的底盤(pán)(2)，帶刻度的底盤(pán)(2)的兩端分別與兩個(gè)固定支架連接，每個(gè)固定支架上分別設(shè)有一個(gè)測(cè)量探頭，帶刻度的底盤(pán)(2)上設(shè)有精密平移滑塊(11)，精密平移滑塊(11)與平移測(cè)微螺桿(12)連接，精密平移滑塊(11)上設(shè)有用于放置測(cè)量靶塊(7)的帶刻度的精密旋轉(zhuǎn)滑塊(14)，帶刻度的精密旋轉(zhuǎn)滑塊(14)與旋轉(zhuǎn)微調(diào)螺桿(15)和粗調(diào)手柄(16)連接，兩個(gè)測(cè)量探頭相對(duì)設(shè)置，測(cè)量靶塊(7)設(shè)于兩個(gè)測(cè)量探頭之間。

2.如權(quán)利要求1所述的一種斜面型脹差校驗(yàn)儀，其特征在于，所述的帶刻度的精密旋轉(zhuǎn)滑塊(14)內(nèi)部設(shè)有確保帶刻度的精密旋轉(zhuǎn)滑塊(14)能夠均勻、平穩(wěn)、旋轉(zhuǎn)的平面軸承。

3.如權(quán)利要求1所述的一種斜面型脹差校驗(yàn)儀，其特征在于，每個(gè)所述的固定支架上設(shè)有V型槽，測(cè)量探頭設(shè)于V型槽內(nèi)。

4.如權(quán)利要求3所述的一種斜面型脹差校驗(yàn)儀，其特征在于，所述的測(cè)量探頭通過(guò)設(shè)于固定支架上的帶紫銅壓塊的固定螺釘緊固。

5.如權(quán)利要求1所述的一種斜面型脹差校驗(yàn)儀，其特征在于，所述的測(cè)量探頭為被校驗(yàn)的斜面型脹差監(jiān)視器所使用的傳感器。

6.如權(quán)利要求1所述的一種斜面型脹差校驗(yàn)儀，其特征在于，所述的精密平移滑塊(11)采用精密滾珠式雙V型滑動(dòng)導(dǎo)軌。

7.一種使用如權(quán)利要求1所述的斜面型脹差校驗(yàn)儀的校驗(yàn)方法，其特征在于，包括以下步驟：將兩個(gè)測(cè)量探頭分別固定在兩個(gè)固定支架上的V型槽內(nèi)，按照汽輪機(jī)大軸上的脹差被測(cè)位置的表面斜角角度，調(diào)整帶刻度的精密旋轉(zhuǎn)滑塊(14)的角度，使帶刻度的精密旋轉(zhuǎn)滑塊(14)的角度與汽輪機(jī)大軸上的脹差被測(cè)位置的表面斜角角度完全相同；旋轉(zhuǎn)平移測(cè)微螺桿(12)，可移動(dòng)固定在精密平移滑塊(11)上的測(cè)量靶塊(7)，將此位置作為儀表的測(cè)量“零位”，在完成把測(cè)量靶塊(7)固定在測(cè)量“零位”后，按照現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際使用時(shí)兩個(gè)測(cè)量探頭分別與測(cè)量靶塊(7)之間的距離，通過(guò)兩個(gè)帶紫銅壓塊的固定螺釘分別將安裝于固定支架V型槽內(nèi)的兩個(gè)測(cè)量探頭可靠固定，旋轉(zhuǎn)平移測(cè)微螺桿(12)，記錄測(cè)量靶塊(7)的移動(dòng)量和斜面型脹差監(jiān)視保護(hù)儀表的指示和儀表的記錄輸出，通過(guò)計(jì)算得出斜面型脹差監(jiān)視保護(hù)儀表的指示和儀表記錄輸出的精度和線性度，判斷斜面型脹差監(jiān)視保護(hù)測(cè)量回路是否滿足測(cè)量要求，完成對(duì)斜面型脹差監(jiān)視保護(hù)儀表的回路校驗(yàn)。

8.如權(quán)利要求7所述的一種斜面型脹差校驗(yàn)儀的校驗(yàn)方法，其特征在于，所述的斜面型脹差監(jiān)視保護(hù)儀表的指示和儀表記錄輸出的精度計(jì)算方法如下：校驗(yàn)并記錄多組數(shù)據(jù)，并與理論值進(jìn)行比較，按照誤差理論的有關(guān)計(jì)算方法，得出各點(diǎn)的誤差值進(jìn)行判斷，如果每一點(diǎn)的誤差都小于±5％，即被校驗(yàn)的監(jiān)視保護(hù)儀表合格，否則為不合格；所述的線性度采用常規(guī)的最小二乘法的計(jì)算方法得出，具體的操作步驟和計(jì)算方法如下：按照上述的操作步驟，校驗(yàn)并記錄多組數(shù)據(jù)，根據(jù)試驗(yàn)得出的多組數(shù)據(jù)，用最小二乘法，擬合成一根直線方程，得出平均靈敏度和各點(diǎn)的理論輸出值，并與理論輸出值進(jìn)行比較，按照誤差理論的有關(guān)計(jì)算方法，得出各點(diǎn)的誤差值進(jìn)行判斷，如果每一點(diǎn)的誤差都小于±1％，即被校驗(yàn)的監(jiān)視保護(hù)儀表合格，否則為不合格。