[發(fā)明專利]一種缺陷管理方法及設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710698534.X | 申請(qǐng)日: | 2017-08-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107480065A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 荊帥帥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鄭州云海信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11262 | 代理人: | 李紅爽,李丹 |
| 地址: | 450018 河南省鄭州市*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 缺陷 管理 方法 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及軟件缺陷管理,具體涉及一種缺陷管理方案。
背景技術(shù)
在軟件項(xiàng)目開(kāi)發(fā)的過(guò)程中,缺陷管理是一個(gè)不可避免的環(huán)節(jié)。沒(méi)有任何一個(gè)項(xiàng)目或者任何一個(gè)人可以保證自己的開(kāi)發(fā)的軟件不存在任何缺陷,而出現(xiàn)缺陷后,如何深入分析,快速修復(fù),并對(duì)后續(xù)的開(kāi)發(fā)和交付產(chǎn)生恰如其分的指導(dǎo)作用,是一個(gè)軟件開(kāi)發(fā)領(lǐng)域持續(xù)討論的話題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種缺陷管理方法及設(shè)備,可以解決相關(guān)技術(shù)中軟件開(kāi)發(fā)生無(wú)法深入分析修復(fù)缺陷的問(wèn)題。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明公開(kāi)了一種缺陷管理方法,包括:
從預(yù)先配置的缺陷模板中提取缺陷信息;
在缺陷的生命周期內(nèi)根據(jù)所提取的缺陷信息確定缺陷狀態(tài);
從所述缺陷模板中導(dǎo)出缺陷狀態(tài)為確認(rèn)缺陷的缺陷信息,進(jìn)行多維度缺陷分析。
可選地,上述方法中,所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息:
缺陷標(biāo)識(shí),缺陷優(yōu)先級(jí)、缺陷發(fā)生位置、缺陷狀態(tài)、缺陷描述、打開(kāi)時(shí)間、結(jié)束時(shí)間、確認(rèn)時(shí)間。
可選地,上述方法中,所述缺陷模板中的缺陷信息還包括:
影響版本、打開(kāi)原理、是否自動(dòng)化。
可選地,上述方法中,所述缺陷狀態(tài)至少包括確認(rèn)缺陷、有爭(zhēng)議、關(guān)閉、打開(kāi)、已修復(fù)。
可選地,上述方法中,所述多維度缺陷分析包括如下一種或幾種分析:
缺陷易發(fā)生的模塊/人/時(shí)間段;
缺陷發(fā)生的原因;
缺陷的數(shù)量以及在項(xiàng)目/產(chǎn)品階段的趨勢(shì);
指導(dǎo)缺失用例的補(bǔ)充,包括補(bǔ)充用例的順序或者優(yōu)先級(jí)。
本文還公開(kāi)了一種缺陷管理設(shè)備,包括:
第一單元,從預(yù)先配置的缺陷模板中提取缺陷信息;
第二單元,在缺陷的生命周期內(nèi)根據(jù)所提取的缺陷信息確定缺陷狀態(tài);
第三單元,從所述缺陷模板中導(dǎo)出缺陷狀態(tài)為確認(rèn)缺陷的缺陷信息,進(jìn)行多維度缺陷分析。
可選地,上述設(shè)備中,所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息:
缺陷標(biāo)識(shí),缺陷優(yōu)先級(jí)、缺陷發(fā)生位置、缺陷狀態(tài)、缺陷描述、打開(kāi)時(shí)間、結(jié)束時(shí)間、確認(rèn)時(shí)間。
可選地,上述設(shè)備中,所述缺陷模板中的缺陷信息還包括:
影響版本、打開(kāi)原理、是否自動(dòng)化。
可選地,上述設(shè)備中,所述缺陷狀態(tài)至少包括確認(rèn)缺陷、有爭(zhēng)議、關(guān)閉、打開(kāi)、已修復(fù)。
可選地,上述設(shè)備中,所述第三單元,進(jìn)行的多維度缺陷分析包括如下一種或幾種分析:
缺陷易發(fā)生的模塊/人/時(shí)間段;
缺陷發(fā)生的原因;
缺陷的數(shù)量以及在項(xiàng)目/產(chǎn)品階段的趨勢(shì);
指導(dǎo)缺失用例的補(bǔ)充,包括補(bǔ)充用例的順序或者優(yōu)先級(jí)。
借助缺陷跟蹤管理工具JIRA完成了缺陷工作流和缺陷模版的配置,并且通過(guò)對(duì)已有缺陷的分析,在人力資源有限的情況下,完成了有目的性的自動(dòng)化測(cè)試用例的覆蓋,規(guī)范化了項(xiàng)目產(chǎn)生的缺陷的管理流程,標(biāo)準(zhǔn)化缺陷信息,提供了多維度的分析方式,并且避免了研發(fā)人員在簡(jiǎn)單問(wèn)題定位上的重復(fù)性勞動(dòng),從而節(jié)約時(shí)間去做更多更深入的優(yōu)化,提高了工作的效率。具體地,具有如下有益效果:
通過(guò)預(yù)定義缺陷模板使得缺陷信息規(guī)范化,避免了由于缺陷信息看不懂,不確定,二義性等問(wèn)題帶來(lái)的溝通成本;
合理的缺陷流程,方便對(duì)缺陷現(xiàn)狀的把控和管理;
深入的缺陷分析,能讓已經(jīng)發(fā)生的缺陷產(chǎn)生最大的價(jià)值,通過(guò)分析數(shù)據(jù)來(lái)完成對(duì)易發(fā)缺陷的規(guī)避,指導(dǎo)如自動(dòng)化測(cè)試開(kāi)發(fā),開(kāi)發(fā)規(guī)范等等工作的進(jìn)行,最終達(dá)到減少缺陷數(shù)量的目的。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例中缺陷管理方法流程圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例中基于物理主機(jī)CPU共享L2緩存的虛擬機(jī)CPU綁定流程圖。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,下文將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。需要說(shuō)明的是,在不沖突的情況下,本申請(qǐng)的實(shí)施例和實(shí)施例中的特征可以任意相互組合。
本申請(qǐng)發(fā)明人結(jié)合相關(guān)技術(shù)在項(xiàng)目開(kāi)發(fā)的經(jīng)歷,針對(duì)缺陷有效信息不足,缺陷修復(fù)慢,周期長(zhǎng),重復(fù)打開(kāi)率高,缺陷后續(xù)分析不足等痛點(diǎn),提出一種缺陷管理方法,其主要由三部分構(gòu)成:缺陷模版,缺陷工作流和缺陷分析方案。該方法的實(shí)現(xiàn)過(guò)程如圖1所示,主要包括如下步驟操作:
步驟100,從預(yù)先配置的缺陷模板中提取缺陷信息;
步驟200,在缺陷的生命周期內(nèi)根據(jù)所提取的缺陷信息確定缺陷狀態(tài);
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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