[發(fā)明專利]一種缺陷管理方法及設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710698534.X
• 申請(qǐng)日: 2017-08-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107480065A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-12-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 荊帥帥
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11262
• 代理人: 李紅爽,李丹

1.一種缺陷管理方法，其特征在于，包括：

從預(yù)先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；

在缺陷的生命周期內(nèi)根據(jù)所提取的缺陷信息確定缺陷狀態(tài)；

從所述缺陷模板中導(dǎo)出缺陷狀態(tài)為確認(rèn)缺陷的缺陷信息，進(jìn)行多維度缺陷分析。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：

缺陷標(biāo)識(shí)，缺陷優(yōu)先級(jí)、缺陷發(fā)生位置、缺陷狀態(tài)、缺陷描述、打開(kāi)時(shí)間、結(jié)束時(shí)間、確認(rèn)時(shí)間。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息還包括：

影響版本、打開(kāi)原理、是否自動(dòng)化。

4.如權(quán)利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，

所述缺陷狀態(tài)至少包括確認(rèn)缺陷、有爭(zhēng)議、關(guān)閉、打開(kāi)、已修復(fù)。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述多維度缺陷分析包括如下一種或幾種分析：

缺陷易發(fā)生的模塊/人/時(shí)間段；

缺陷發(fā)生的原因；

缺陷的數(shù)量以及在項(xiàng)目/產(chǎn)品階段的趨勢(shì)；

指導(dǎo)缺失用例的補(bǔ)充，包括補(bǔ)充用例的順序或者優(yōu)先級(jí)。

6.一種缺陷管理設(shè)備，其特征在于，包括：

第一單元，從預(yù)先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；

第二單元，在缺陷的生命周期內(nèi)根據(jù)所提取的缺陷信息確定缺陷狀態(tài)；

第三單元，從所述缺陷模板中導(dǎo)出缺陷狀態(tài)為確認(rèn)缺陷的缺陷信息，進(jìn)行多維度缺陷分析。

7.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息包括如下信息：

缺陷標(biāo)識(shí)，缺陷優(yōu)先級(jí)、缺陷發(fā)生位置、缺陷狀態(tài)、缺陷描述、打開(kāi)時(shí)間、結(jié)束時(shí)間、確認(rèn)時(shí)間。

8.如權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其特征在于，所述缺陷模板中的缺陷信息還包括：

影響版本、打開(kāi)原理、是否自動(dòng)化。

9.如權(quán)利要求6、7或8所述的設(shè)備，其特征在于，

所述缺陷狀態(tài)至少包括確認(rèn)缺陷、有爭(zhēng)議、關(guān)閉、打開(kāi)、已修復(fù)。

10.如權(quán)利要求9所述的設(shè)備，其特征在于，所述第三單元，進(jìn)行的多維度缺陷分析包括如下一種或幾種分析：

缺陷易發(fā)生的模塊/人/時(shí)間段；

缺陷發(fā)生的原因；

缺陷的數(shù)量以及在項(xiàng)目/產(chǎn)品階段的趨勢(shì)；

指導(dǎo)缺失用例的補(bǔ)充，包括補(bǔ)充用例的順序或者優(yōu)先級(jí)。