[發明專利]一種電子元器件的吸頭裝置以及吸頭裝置的加工方法在審
| 申請號: | 201710683820.9 | 申請日: | 2017-08-11 |
| 公開(公告)號: | CN107634028A | 公開(公告)日: | 2018-01-26 |
| 發明(設計)人: | 李波;夏俊生;李文才;侯育增;張靜 | 申請(專利權)人: | 北方電子研究院安徽有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683 |
| 代理公司: | 安徽省蚌埠博源專利商標事務所34113 | 代理人: | 尹杰 |
| 地址: | 233030 安徽省*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子元器件 吸頭 裝置 以及 加工 方法 | ||
技術領域
本發明涉及電子元器件加工技術領域,特別涉及一種電子元器件的吸頭裝置以及吸頭裝置的加工方法。
背景技術
在電路加工過程中,需要將半導體和混合電路元器件粘結到指定位置,半導體和混合電路元器件粘片工藝有如下兩種方式:1、采用真空管道連接吸嘴,通過控制器控制進行吸片和放片;2、采用人工手動粘片或取料。第一種方式是當粘片設備粘片時,設備移動吸嘴到指定元件表面,通過設備真空控制閥打開吸嘴真空,吸嘴吸附芯片并移動到指定粘接位置,該位置已預置粘接膠,然后放置芯片到粘接膠上,輕壓芯片后,關閉吸嘴真空控制閥上抬吸嘴,完成粘片,在此過程中有如下兩個弊端:a、需要用到管道真空或真空發生及控制裝置,結構較為復雜,不僅成本高,而且在長時間時候后,易產生故障,b、吸嘴由鎢鋼、聚合物或陶瓷等材料制成,其材質較硬容易損傷芯片表面,塑料吸嘴還容易磨損,而報廢,造成了浪費。第二種方式是,通過鑷子或手持吸筆完成器件夾取或放置,對于易損傷器件,如多引腳塑封集成電路、半導體裸芯片、靜電敏感器件等鑷子夾持特別容易受損傷,為避免鑷子造成的損傷,目前也有采用手持式吸筆進行吸片,但這種手持式吸筆對于較小的器件、表面不平整的器件、較重器件,常因吸力小或吸頭與器件貼合不嚴而脫落。
發明內容
本發明的目的是為了解決背景技術中存在的缺點,而提出的一種用于電子元器件的吸頭裝置。
為了實現上述目的,本發明采用了如下技術方案:
一種用于電子元器件的吸頭裝置,其特征在于:包括柱狀柄,在柱狀柄的端部連接吸頭,吸頭由硅膠制成。
在上述技術方案的基礎上,可以有以下進一步的技術方案:
所述吸頭裝置用于粘片機時,所述柱狀柄為直桿結構,且在柱狀柄的前側設有錐形桿,在錐形桿上連接所述吸頭,吸頭裝置用于人工手動粘片時,所述柱狀柄上設有手持柄,柱狀柄與手持柄形成L型桿狀結構。
所述吸頭的前端設有吸附面,吸附面為平面結構。
所述吸附面的面積與吸附對象電子元器件的面積相對應,它們的對應關系如下:
a、電子元器件的面積為0.2mm2~0.5mm2時,吸附面的面積為對應電子元器件的1-2倍;
b、電子元器件的面積為0.5mm2~1mm2時,吸附面的面積為對應電子元器件的0.5-1;
c、電子元器件的面積為1mm2~8mm2時,吸附面的面積為對應電子元器件的1/3-1/2;
d、電子元器件的面積為大于8mm2時,吸附面的面積為對應電子元器件的1-2倍。
一種電子元器件吸頭裝置的加工方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一、制造所述柱狀柄1;
步驟二、制作硅膠溶液;
步驟三、使用柱狀柄蘸取適量大小硅膠的膠滴;
步驟四、將蘸取膠滴的柱狀柄置于室溫中固化,得到所述吸頭。
所述的加工方法,還可以有以下技術方案:
制作模板,在模板上設有圓形凹槽,把步驟四處于半固化狀態的硅膠,沿著所述柱狀柄1垂直方向硅膠放入圓形凹槽內擠壓得到所述吸附面。
本發明的優點在于:本裝置與傳統吸嘴、吸筆相比優點在于,不需要額外的真空通道、真空發生或控制裝置,硅膠材質柔軟不會對器件造成損傷,可隔離人體防止靜電損傷,裝置制作簡單,可根據器件的大小或重量制作相應形狀,其操作靈活,當吸頭被污染時,使用酒精棉球擦洗即可,清洗方便,且本裝置耐磨、耐用、耐高溫,本裝置與傳統粘片工藝相比,不需要真空發生和控制裝置,對器件損傷小,操作快鍵簡便,硅膠成本低廉,具有很高經濟效益和應用前景。
附圖說明
圖1是本發明中用于粘片機的吸頭裝置基本結構示意圖;
圖2是本發明中用于人工手動操作的吸頭裝置基本結構示意圖。
具體實施方式
為了使本發明更加清楚明白,以下結合附圖對本裝置詳細說明,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明,并不用于限定本發明。
本發明提供的一種用于電子元器件的吸頭裝置,包括柱狀柄1,在柱狀柄1的端部連接吸頭2。
如圖1所示,所述吸頭裝置用于粘片機時,所述柱狀柄1為直桿結構,且在柱狀柄1的前側設有錐形桿5,在錐形桿5上連接所述吸頭2。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





