[發(fā)明專利]SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710676150.8
• 申請(qǐng)日: 2017-08-09
• 公開（公告）號(hào): CN107578796A
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李璘;孫金泉;蔡登勝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣西柳工機(jī)械股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/02
• 分類號(hào): G11C29/02
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種SRAM芯片線路檢測(cè)，更具體地說，涉及一種SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

SRAM是控制器電路中重要的元器件，控制器硬件出廠時(shí)，要對(duì)所有元器件進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)SRAM某個(gè)地址讀寫，可以判斷SRAM芯片是否損壞，以及數(shù)據(jù)線是否虛焊。申請(qǐng)?zhí)枮?01410848838.6中國專利文獻(xiàn)公開了一種SRAM的現(xiàn)有檢測(cè)方法，該方法只能識(shí)別SRAM芯片引腳焊接不良如未焊接或虛焊的故障情況，不能檢測(cè)地址引腳線之間的短路(焊錫將相鄰引腳粘連)的情況。申請(qǐng)?zhí)枮?01610298683.2中國專利文獻(xiàn)公開了另一種SRAM的現(xiàn)有檢測(cè)方法，該方法需要借助外部裝置才能檢測(cè)，而且不能精確定位故障引腳，只能判斷SRAM正常或異常，并需要全片SRAM讀寫，時(shí)間較長。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中不能對(duì)SRAM芯片地址引腳線短路故障進(jìn)行快速精確檢測(cè)定位的問題，而提供一種能夠快速精確定位SRAM芯片短路的地址引腳線的SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法。

本發(fā)明為實(shí)現(xiàn)其目的的技術(shù)方案是這樣的：提供一種SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟：

S1：根據(jù)SRAM芯片地址引腳的排列特性，列出地址引腳間可能短路的待檢引腳組；

S2：根據(jù)電路的編址規(guī)則，獲得SRAM芯片的起始地址，并確定所有與待檢引腳組相對(duì)應(yīng)的相關(guān)地址；每個(gè)相關(guān)地址中除了與該相關(guān)地址對(duì)應(yīng)的待檢引腳組之外的其他地址引腳賦值均為0且待檢引腳組中所有地址引腳賦值不全相同；

S3：依次向所有相關(guān)地址中寫入與起始地址中數(shù)據(jù)不同的校驗(yàn)數(shù)據(jù)，比較校驗(yàn)數(shù)據(jù)寫入前后起始地址中的數(shù)據(jù)，若起始地址中的數(shù)據(jù)發(fā)生變化則與該對(duì)應(yīng)相關(guān)地址的待檢引腳組中引腳間具有短路故障，即每次向相關(guān)地址中寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)之后讀取起始地址中的數(shù)據(jù)值并與向相關(guān)地址中寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)之前的起始地址中數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，若向相關(guān)地址中寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)之前的起始地址中數(shù)據(jù)與向相關(guān)地址中寫入數(shù)據(jù)之后的起始地址中數(shù)據(jù)相同，則與該相關(guān)地址對(duì)應(yīng)的待檢引腳組中各引腳之間為短路連接。

上述SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法中，每個(gè)待檢引腳組包括兩個(gè)相鄰的地址引腳。

上述SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法中，列出的待檢引腳組包括由兩個(gè)至六個(gè)依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組，也即包括由兩個(gè)相鄰地址引腳組成的待檢引腳組、三個(gè)依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組、四個(gè)依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組、五個(gè)依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組、六個(gè)依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組。

上述SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法中，步驟S3中，每次向相關(guān)地址中寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)之前都向起始地址中寫入數(shù)據(jù)，寫入到起始地址中的數(shù)據(jù)與寫入到各相關(guān)地址中的校驗(yàn)數(shù)據(jù)均不相同。例如寫入到起始地址中的數(shù)據(jù)值為0，寫入到各相關(guān)地址中的數(shù)據(jù)為非0值，寫入到各相關(guān)地址中的數(shù)據(jù)值可以相同，也可以不同。

上述SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法中，起始地址中的數(shù)據(jù)、寫入到各相關(guān)地址中的各數(shù)據(jù)均不相同。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明可以檢測(cè)地址線引腳線是否短路，檢測(cè)速度較快且精確，提高了SRAM的檢測(cè)效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明中SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法的流程圖。

圖2是本發(fā)明中SRAM芯片的地址引腳分布圖。

圖3是本發(fā)明中SRAM芯片的相鄰兩路地址引腳間可能短路的所有待檢引腳組列表。

圖4是本發(fā)明中SRAM芯片的兩路短路待檢引腳組與對(duì)應(yīng)相關(guān)地址的計(jì)算列表。

圖5是本發(fā)明中SRAM芯片的地址引腳間所有短路可能的待檢引腳組列表。

圖6是本發(fā)明中SRAM芯片的所有短路可能的待檢引腳組與對(duì)應(yīng)相關(guān)地址的計(jì)算列表。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖說明具體實(shí)施方案。

如圖1所示，本實(shí)施例中的SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法包括如下步驟：