[發(fā)明專利]SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710676150.8
• 申請(qǐng)日: 2017-08-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107578796A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李璘;孫金泉;蔡登勝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣西柳工機(jī)械股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/02
• 分類號(hào): G11C29/02
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫

1.一種SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟：

S1：根據(jù)SRAM芯片地址引腳的排列特性，列出地址引腳間可能短路的待檢引腳組；

S2：根據(jù)電路的編址規(guī)則，獲得SRAM芯片的起始地址，并確定所有與待檢引腳組相對(duì)應(yīng)的相關(guān)地址；每個(gè)相關(guān)地址中除了與該相關(guān)地址對(duì)應(yīng)的待檢引腳組之外的其他地址引腳賦值均為0且待檢引腳組中所有地址引腳賦值不全相同；

S3：依次向所有相關(guān)地址中寫(xiě)入與起始地址中數(shù)據(jù)不同的校驗(yàn)數(shù)據(jù)，比較校驗(yàn)數(shù)據(jù)寫(xiě)入前后起始地址中的數(shù)據(jù)，若起始地址中的數(shù)據(jù)發(fā)生變化則與該對(duì)應(yīng)相關(guān)地址的待檢引腳組中引腳間具有短路故障。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法，其特征在于每個(gè)待檢引腳組包括兩個(gè)相鄰的地址引腳。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法，其特征在于列出的待檢引腳組包括由兩個(gè)至六個(gè)依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法，其特征在于步驟S3中，每次向相關(guān)地址中寫(xiě)入校驗(yàn)數(shù)據(jù)之前都向起始地址中寫(xiě)入數(shù)據(jù)，寫(xiě)入到起始地址中的數(shù)據(jù)與寫(xiě)入到各相關(guān)地址中的校驗(yàn)數(shù)據(jù)均不相同。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測(cè)方法，其特征在于起始地址中的數(shù)據(jù)、寫(xiě)入到各相關(guān)地址中的數(shù)據(jù)各不相同。