[發明專利]SRAM芯片地址引腳線短路檢測方法在審
| 申請號： | 201710676150.8 | 申請日： | 2017-08-09 |
| 公開（公告）號： | CN107578796A | 公開（公告）日： | 2018-01-12 |
| 發明（設計）人： | 李璘;孫金泉;蔡登勝 | 申請（專利權）人： | 廣西柳工機械股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/02 | 分類號： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 廣州三環專利商標代理有限公司44202 | 代理人： | 郝傳鑫 |
| 地址： | 545007 廣*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | sram 芯片 地址 引腳 短路 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種SRAM芯片地址引腳線短路檢測方法，其特征在于包括以下步驟：
S1：根據SRAM芯片地址引腳的排列特性，列出地址引腳間可能短路的待檢引腳組；
S2：根據電路的編址規則，獲得SRAM芯片的起始地址，并確定所有與待檢引腳組相對應的相關地址；每個相關地址中除了與該相關地址對應的待檢引腳組之外的其他地址引腳賦值均為0且待檢引腳組中所有地址引腳賦值不全相同；
S3：依次向所有相關地址中寫入與起始地址中數據不同的校驗數據，比較校驗數據寫入前后起始地址中的數據，若起始地址中的數據發生變化則與該對應相關地址的待檢引腳組中引腳間具有短路故障。
2.根據權利要求1所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測方法，其特征在于每個待檢引腳組包括兩個相鄰的地址引腳。
3.根據權利要求1所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測方法，其特征在于列出的待檢引腳組包括由兩個至六個依次相鄰地址引腳組成的待檢引腳組。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測方法，其特征在于步驟S3中，每次向相關地址中寫入校驗數據之前都向起始地址中寫入數據，寫入到起始地址中的數據與寫入到各相關地址中的校驗數據均不相同。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的SRAM芯片地址引腳線短路檢測方法，其特征在于起始地址中的數據、寫入到各相關地址中的數據各不相同。
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