[發明專利]一種陶瓷禮品表面化質量檢測系統

在審

• 申請號: 201710655854.7
• 申請日: 2017-08-03
• 公開（公告）號: CN107421954A
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 王永斌
• 申請（專利權）人: 合肥祥國電子商務有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 溫州知遠專利代理事務所(特殊普通合伙)33262
• 代理人: 湯時達

技術領域

本發明屬于工藝禮品檢測技術領域，特別是涉及一種陶瓷禮品表面化質量檢測系統。

背景技術

工藝禮品是對一組有一定藝術價值和經濟價值的藝術品的總稱。許多人在走親訪友的時候，會帶上一些比較好看的工藝禮品給朋友親戚。而陶瓷類禮品是工藝禮品中重要組成部分，陶瓷類的工藝禮品最講究的就是要美觀，這樣會給人一種賞心悅目的情懷。

而工藝禮品在制作過程中，會存在一些雜質或條件不當操作，導致陶瓷工藝禮品的成品上出現一些凹陷、凸起或是其它外觀缺陷，如何有效的檢測出這些存在異常的工藝禮品，成為保證產品質量輸出的重要前提。

發明內容

本發明的目的在于提供一種陶瓷禮品表面化質量檢測系統，本發明通過采用表面化檢測系統對陶瓷工藝禮品的表面進行全面化檢測操作，有效的降低了工藝禮品的出廠不合格率。

為解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的：

本發明為一種陶瓷禮品表面化質量檢測系統，包括表面化檢測系統，表面化檢測系統包括表面定位分析單元、光線散射檢測單元、圖像調控檢測單元和工件定位輸出單元。

表面化檢測系統通過數據及位置信息定位模塊與表面定位分析單元相聯；光線散射檢測單元通過信息檢測及信息模擬轉換模塊與表面化檢測系統相聯；表面化檢測系統通過信號傳輸及驅動控制模塊與圖像調控檢測單元相聯；表面化檢測系統通過信號傳輸及驅動控制模塊與工件定位輸出單元相聯。

其中，表面定位分析單元通過信號傳輸線路與與陶瓷禮品檢測裝置內的三維空間定位模塊相聯，三維空間定位模塊通過分析工藝禮品占據的三維空間信息，將工藝禮品的三維空間信息轉換傳輸給表面定位分析單元。

其中，光線散射檢測單元通過信號驅動模塊與陶瓷禮品檢測裝置內的光線檢測模塊相聯，光線檢測模塊通過對工藝禮品進行光線勻速掃描，并通過光線收集傳感模塊對掃描過程中的光線進行收集處理，將光線掃描收集信息傳輸給光線散射檢測單元。

其中，圖像調控單元通過信號控制線路與陶瓷禮品檢測裝置內的拍照監測模塊相聯，拍照檢測模塊調節攝像頭對存在異常狀態的工藝禮品的表面進行拍照，拍照照片通過數據轉換傳輸線路傳輸給表面化檢測系統。

其中，表面化檢測系統獲取異常狀態的工藝禮品，并根據異常狀態的工藝禮品的實時位置信息，采用工件定位輸出單元將異常狀態的工藝禮品進行物件傳輸操作。

本發明具有以下有益效果：

本發明通過采用表面化檢測系統對陶瓷工藝禮品的表面進行全面化檢測操作，利用表面定位方便對陶瓷禮品進行表面化定位，利用光線散射檢測和圖像調控檢測，能夠傳感檢測到不合格陶瓷產品的異常及其所在的表面區域，并利用工件定位輸出將異常陶瓷禮品進行輸出，有效的降低了工藝禮品的出廠不合格率。

當然，實施本發明的任一產品并不一定需要同時達到以上所述的所有優點。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例的技術方案，下面將對實施例描述所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明的陶瓷禮品表面化質量檢測系統結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發明保護的范圍。

在本發明的描述中，需要理解的是，術語“開孔”、“上”、“下”、“厚度”、“頂”、“中”、“長度”、“內”、“四周”等指示方位或位置關系，僅是為了便于描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的組件或元件必須具有特定的方位，以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。

請參閱附圖1所示，本發明為一種陶瓷禮品表面化質量檢測系統，包括表面化檢測系統，表面化檢測系統包括表面定位分析單元、光線散射檢測單元、圖像調控檢測單元和工件定位輸出單元。

表面化檢測系統通過數據及位置信息定位模塊與表面定位分析單元相聯；光線散射檢測單元通過信息檢測及信息模擬轉換模塊與表面化檢測系統相聯；表面化檢測系統通過信號傳輸及驅動控制模塊與圖像調控檢測單元相聯；表面化檢測系統通過信號傳輸及驅動控制模塊與工件定位輸出單元相聯。