[發(fā)明專利]一種陶瓷禮品表面化質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710655854.7
• 申請(qǐng)日: 2017-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN107421954A
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王永斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 合肥祥國(guó)電子商務(wù)有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 溫州知遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙)33262
• 代理人: 湯時(shí)達(dá)

1.一種陶瓷禮品表面化質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，包括表面化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：

所述表面化檢測(cè)系統(tǒng)包括表面定位分析單元、光線散射檢測(cè)單元、圖像調(diào)控檢測(cè)單元和工件定位輸出單元；

所述表面化檢測(cè)系統(tǒng)通過數(shù)據(jù)及位置信息定位模塊與表面定位分析單元相聯(lián)；

所述光線散射檢測(cè)單元通過信息檢測(cè)及信息模擬轉(zhuǎn)換模塊與表面化檢測(cè)系統(tǒng)相聯(lián)；

所述表面化檢測(cè)系統(tǒng)通過信號(hào)傳輸及驅(qū)動(dòng)控制模塊與圖像調(diào)控檢測(cè)單元相聯(lián)；

所述表面化檢測(cè)系統(tǒng)通過信號(hào)傳輸及驅(qū)動(dòng)控制模塊與工件定位輸出單元相聯(lián)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陶瓷禮品表面化質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：

所述表面定位分析單元通過信號(hào)傳輸線路與與陶瓷禮品檢測(cè)裝置內(nèi)的三維空間定位模塊相聯(lián)，所述三維空間定位模塊通過分析工藝禮品占據(jù)的三維空間信息，將工藝禮品的三維空間信息轉(zhuǎn)換傳輸給表面定位分析單元。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陶瓷禮品表面化質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：

所述光線散射檢測(cè)單元通過信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊與陶瓷禮品檢測(cè)裝置內(nèi)的光線檢測(cè)模塊相聯(lián)，所述光線檢測(cè)模塊通過對(duì)工藝禮品進(jìn)行光線勻速掃描，并通過光線收集傳感模塊對(duì)掃描過程中的光線進(jìn)行收集處理，將光線掃描收集信息傳輸給光線散射檢測(cè)單元。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陶瓷禮品表面化質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：

所述圖像調(diào)控單元通過信號(hào)控制線路與陶瓷禮品檢測(cè)裝置內(nèi)的拍照監(jiān)測(cè)模塊相聯(lián)，所述拍照檢測(cè)模塊調(diào)節(jié)攝像頭對(duì)存在異常狀態(tài)的工藝禮品的表面進(jìn)行拍照，拍照照片通過數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換傳輸線路傳輸給表面化檢測(cè)系統(tǒng)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陶瓷禮品表面化質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：

所述表面化檢測(cè)系統(tǒng)獲取異常狀態(tài)的工藝禮品，并根據(jù)異常狀態(tài)的工藝禮品的實(shí)時(shí)位置信息，采用工件定位輸出單元將異常狀態(tài)的工藝禮品進(jìn)行物件傳輸操作。