[發(fā)明專利]一種掉電測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710654061.3 | 申請日： | 2017-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN107390063B | 公開（公告）日： | 2020-11-06 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 底明輝 | 申請（專利權(quán)）人： | 恒寶股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京卓特專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11572 | 代理人： | 陳變花 |
| 地址： | 212355 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 掉電 測試 方法 裝置 | ||
1.一種掉電測試方法，其特征在于，包括:
將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設(shè)置為一初始值，所述初始值小于4us;其中，通過提高掉電計時器的輸入頻率，將計時計數(shù)器擴(kuò)展成4字節(jié)的方式，將掉電時間間隔減少至1us；
通過所述掉電讀寫器對智能卡進(jìn)行掉電測試，在掉電測試過程中，對預(yù)設(shè)種類的指令進(jìn)行測試時，減小掉電讀寫器的最小掉電時間間隔；
在將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設(shè)置為一初始值之后，接收外部指令，根據(jù)所述外部指令中指示的目標(biāo)正整數(shù)，將所述掉電讀寫器的最小掉電時間間隔更改為所述初始值的目標(biāo)正整數(shù)倍。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過所述掉電讀寫器對智能卡進(jìn)行掉電測試，包括:
通過所述掉電讀寫器對使用非接觸界面時的所述智能卡，和/或使用接觸界面時的所述智能卡進(jìn)行掉電測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始值為1us。
4.一種掉電測試裝置，其特征在于，包括:
設(shè)置模塊，用于將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設(shè)置為一初始值，所述初始值小于4us；其中，通過提高掉電計時器的輸入頻率，將計時計數(shù)器擴(kuò)展成4字節(jié)的方式，將掉電時間間隔減少至1us；
測試模塊，用于通過所述掉電讀寫器對智能卡進(jìn)行掉電測試；
測試模塊還用于，在掉電測試過程中，對預(yù)設(shè)種類的指令進(jìn)行測試時，減小掉電讀寫器的最小掉電時間間隔；
更改模塊，用于在將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設(shè)置為一初始值之后接收外部指令，根據(jù)所述外部指令中指示的目標(biāo)正整數(shù)，將所述掉電讀寫器的最小掉電時間間隔更改為所述初始值的目標(biāo)正整數(shù)倍。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述測試模塊用于:
通過所述掉電讀寫器對使用非接觸界面時的所述智能卡，和/或使用接觸界面時的所述智能卡進(jìn)行掉電測試。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述初始值為1us。
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