[發明專利]一種掉電測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201710654061.3
• 申請日: 2017-08-03
• 公開（公告）號: CN107390063B
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 底明輝
• 申請（專利權）人: 恒寶股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京卓特專利代理事務所(普通合伙) 11572
• 代理人: 陳變花

本發明的主要目的在于提供一種掉電測試方法及裝置，以解決相關技術中智能卡掉電測試效率降低的問題。該方法包括：將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設置為一初始值，該初始值小于4us；通過設置后的掉電讀寫器對智能卡進行掉電測試，本申請提高了掉電測試的效率。

技術領域

本發明涉及智能卡領域，尤其涉及一種掉電測試方法及裝置。

背景技術

眾所周知，金融芯片卡與磁條卡相比存在諸多優勢，如安全性高，壽命長，不會被消磁，可支持多個應用以及支付功能便捷等。但芯片卡在寫EEPROM(ElectricallyErasable Programmable Read-Only Memory，電可擦可編程只讀存儲器)或者Flash過程中掉電會造成芯片內數據錯誤，導致芯片卡不可用或者關鍵數據錯誤，例如，卡內金額錯誤的問題。為了避免出現該問題，會在芯片卡的程序中加入掉電保護機制，通過掉電讀寫器驗證掉電保護機制的實現是否成功。由于芯片制造工藝的升級，存儲器的性能越來越快，擦寫時間也越來越短，已經由原來的15us縮短到現在的5us左右。要模擬用戶在使用過程中突然拔卡或將卡移開，掉電讀寫器的的掉電時間間隔則需要更加準確。

在產品測試過程中存在如下問題，在使用掉電間隔為10us的掉電讀寫器測試時，某些問題不能復現或者不能穩定復現，由于在芯片卡大量使用過程中的掉電時機是不可控的，當使用10us的掉電讀寫器進行測試時，測試結果是不準確的。對于一些特殊指令寫EEPROM或者Flash時間較長，能達到700ms甚至更長，使用40us掉電讀寫器測試，需要大約1.8萬次才能遍歷所有掉電點，測試時間40小時(測試中需要執行其它指令驗證掉電保護機制功能)。可見，掉電讀寫器的測試時間間隔并不能適用于不同場景下的掉電測試，在一些場景下可能會導致測試效率較低的問題出現。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種掉電測試方法及裝置，以解決相關技術中智能卡掉電測試效率降低的問題。

本發明提供了一種掉電測試方法，包括：將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設置為一初始值，所述初始值小于4us；通過所述掉電讀寫器對智能卡進行掉電測試。

可選的，所述通過所述掉電讀寫器對智能卡進行掉電測試，包括：通過所述掉電讀寫器對使用非接觸界面時的所述智能卡，和/或使用接觸界面時的所述智能卡進行掉電測試。

可選的，所述初始值為1us。

可選的，所述方法還包括：在將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設置為一初始值之后，接收外部指令，根據所述外部指令中指示的目標正整數，將所述掉電讀寫器的最小掉電時間間隔更改為所述初始值的目標正整數倍。

可選的，所述通過所述掉電讀寫器對智能卡進行掉電測試，包括：在所述掉電測試的過程中，在對預設種類的指令進行測試時，減小所述掉電讀寫器的最小掉電時間間隔。

本發明還提供了一種掉電測試裝置，包括：設置模塊，用于將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設置為一初始值，所述初始值小于4us；測試模塊，用于通過所述掉電讀寫器對智能卡進行掉電測試。

可選的，所述測試模塊用于：通過所述掉電讀寫器對使用非接觸界面時的所述智能卡，和/或使用接觸界面時的所述智能卡進行掉電測試。

可選的，所述初始值為1us。

可選的，所述裝置還包括：更改模塊，用于在將掉電讀寫器的最小掉電時間間隔設置為一初始值之后，接收外部指令，根據所述外部指令中指示的目標正整數，將所述掉電讀寫器的最小掉電時間間隔更改為所述初始值的目標正整數倍。

可選的，所述測試模塊用于：在所述掉電測試的過程中，在對預設種類的指令進行測試時，減小所述掉電讀寫器的最小掉電時間間隔。

本發明實施例提供的掉電測試方法，提高了掉電讀寫器的最小掉電時間間隔的精度，提高了掉電測試的效率。