[發明專利]一種基于元件的閉環測試方法

有效

• 申請號: 201710653680.0
• 申請日: 2017-08-03
• 公開（公告）號: CN107450516B
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 鄭松;張瑜;王敏;黃香平;邱菊;羅巧珍;熊華鋒;何俊欣
• 申請（專利權）人: 愛普（福建）科技有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙) 35212
• 代理人: 林曉琴

本發明提供一種基于元件的閉環測試方法，通過組態軟件進行元件組態，將每個元件的輸出作為下一個元件的輸入，下一個元件通過逆向組態上一個元件的算法使其得到的輸出為上一個元件的輸入，直到最后一個元件的輸出給第一個元件的輸入形成一個閉環回路的邏輯組態進行測試。本發明的閉環測試方法可以很直觀看出元件執行的正確性，操作簡單，且效率高。

技術領域

本發明涉及工業控制技術領域，特別涉及一種檢測元件執行結果是否正確的方法。

背景技術

在工業控制技術領域中，控制邏輯是由許多元件通過輸入、輸出的連接組態而成的。

基于元件的控制邏輯組態是分布式控制系統常用的開發方法。人們利用元件的不同組合來直觀地表示控制策略的基本原理和控制算法。每個元件的內部通常包含特定的算法，元件的組合包含了元件之間的數據類型、數據連接關系、數據之間的順序和元件內部屬性參數的合理配置。

但目前對元件的測試通常只是基于功能正確性的驗證，對后期的算法修正工作沒有太大的指導性意義。

發明內容

本發明要解決的技術問題，在于提供一種基于元件的閉環測試方法，可以很直觀看出元件執行的正確性，操作簡單，且效率高。

本發明是這樣實現的：一種基于元件的閉環測試方法，其特征在于：通過組態軟件進行元件組態，將每個元件的輸出作為下一個元件的輸入，下一個元件通過逆向組態上一個元件的算法使其得到的輸出為上一個元件的輸入，直到最后一個元件的輸出給第一個元件的輸入形成一個閉環回路的邏輯組態進行測試。

進一步的，測試時，對所述閉環回路的某個元件指定一個輸入值進行自動測試，然后通過觀測下一個元件的輸出值即可直觀地判斷上一個元件執行的正確性；判斷方法是：

若下一個元件的輸出值與上一個元件的輸入值相等，則判斷上一個元件的內部算法的邏輯計算正確；

若下一個元件的輸出值與上一個元件的輸入值不相等，則判斷上一個元件的內部算法的邏輯計算有誤。

進一步的，每所述下一個元件是通過顆粒度更小的元件邏輯組態來實現同等的算法功能。

進一步的，本發明基于元件的閉環測試方法具體包括：

步驟S1、將第一個元件的輸出作為第二個元件的輸入；

步驟S2、第二個元件通過逆向第一個元件的算法，期望其輸出與第一個元件的輸入相等；

步驟S3、將第二個元件的輸出作為第三個元件的輸入；

步驟S4、第三個元件通過逆向第二個元件的算法，期望其輸出與第二個元件的輸入相等；

步驟S5、以此類推直到最后一個元件，將最后一個元件的輸出給第一個元件的輸入，形成一個閉環。

本發明具有如下優點：

1)基于元件的閉環進行測試，可以自動化地進行元件的測試，一定程度上的減少了測試的時間。

2)可以很直觀通過最后一個元件的輸出看出元件執行的正確性。

附圖說明

下面參照附圖結合實施例對本發明作進一步的說明。

圖1為本發明方法執行流程圖。

具體實施方式

本發明的基于元件的閉環測試方法，是通過組態軟件進行元件組態，將每個元件的輸出作為下一個元件的輸入，下一個元件通過逆向組態上一個元件的算法使其得到的輸出為上一個元件的輸入，直到最后一個元件的輸出給第一個元件的輸入形成一個閉環回路的邏輯組態進行測試。