[發(fā)明專利]一種基于元件的閉環(huán)測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710653680.0
• 申請(qǐng)日: 2017-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN107450516B
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭松;張瑜;王敏;黃香平;邱菊;羅巧珍;熊華鋒;何俊欣
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 愛普（福建）科技有限公司
• 主分類號(hào): G05B23/02
• 分類號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 福州市鼓樓區(qū)京華專利事務(wù)所(普通合伙) 35212
• 代理人: 林曉琴

1.一種基于元件的閉環(huán)測(cè)試方法，其特征在于：通過組態(tài)軟件進(jìn)行元件組態(tài)，將每個(gè)元件的輸出作為下一個(gè)元件的輸入，下一個(gè)元件通過逆向組態(tài)上一個(gè)元件的算法使其得到的輸出為上一個(gè)元件的輸入，直到最后一個(gè)元件的輸出給第一個(gè)元件的輸入形成一個(gè)閉環(huán)回路的邏輯組態(tài)進(jìn)行測(cè)試，其中所述逆向組態(tài)是利用組態(tài)軟件對(duì)某元件算法的求解過程進(jìn)行反向組態(tài)，反向組態(tài)所用的算法等同于該元件算法的逆算法。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于元件的閉環(huán)測(cè)試方法，其特征在于：測(cè)試時(shí)，對(duì)所述閉環(huán)回路的某個(gè)元件指定一個(gè)輸入值進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，然后通過觀測(cè)下一個(gè)元件的輸出值即可直觀地判斷該某個(gè)元件執(zhí)行的正確性；判斷方法是：

若下一個(gè)元件的輸出值與上一個(gè)元件的輸入值相等，則判斷上一個(gè)元件的內(nèi)部算法的邏輯計(jì)算正確；

若下一個(gè)元件的輸出值與上一個(gè)元件的輸入值不相等，則判斷上一個(gè)元件的內(nèi)部算法的邏輯計(jì)算有誤。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于元件的閉環(huán)測(cè)試方法，其特征在于：測(cè)試時(shí)采用同時(shí)輸入法進(jìn)行，具體是先對(duì)所述閉環(huán)回路的每個(gè)元件指定同一個(gè)輸入值，從而使任意的上一個(gè)元件和下一個(gè)元件的首次輸入值相同，下一個(gè)元件的后續(xù)輸入值則為上一個(gè)元件的輸出值，最后一個(gè)元件輸出結(jié)果則作為第一個(gè)元件的后續(xù)輸入值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于元件的閉環(huán)測(cè)試方法，其特征在于：每所述下一個(gè)元件是通過顆粒度更小的元件邏輯組態(tài)來實(shí)現(xiàn)同等的算法功能。