[發明專利]用于測試被測設備的電波暗室

有效

• 申請號: 201710650661.2
• 申請日: 2017-08-02
• 公開（公告）號: CN108957162B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 馬庫斯·赫爾布里格;丹尼爾·馬克特;科比特·羅威爾
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R29/08
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華;李欣

本發明公開了一種用于測試被測設備的電波暗室。所述電波暗室包括：至少一個氣體輸入部件，所述至少一個氣體輸入部件用于將氣體輸入所述電波暗室中；以及至少一個氣體輸出部件，所述至少一個氣體輸出部件用于將所述氣體從所述電波暗室輸出。除此之外，所述氣體輸入部件和所述氣體輸出部件產生相對于所述電波暗室的預定義區域的定向氣流。

技術領域

本發明涉及電波暗室，更具體地涉及用于測試被測設備的電波暗室。

背景技術

通常，在電子設備的數量日益增加的時期，用于在無來自環境的各種干擾的情況下測試這類設備的電波暗室的需求日益增長。除此之外，由于這些電子設備中的許多設備不得不經受多個環境條件(諸如進入設備的氣體、示例性潮濕空氣、以及高或低的操作溫度)的事實，電波暗室尤其應當允許也相對于這類環境條件測試電子設備。

US 5,134,405涉及用于電子設備的電磁兼容性測試的電磁式電波暗室。不利地，所述電磁式電波暗室不提供將氣體輸入暗室中以便專門相對于上文提及的環境條件測試被測設備的可能性。

發明內容

因此，需要提供允許專門相對于被測設備所暴露于的環境條件(諸如氣體)測試該被測設備的電波暗室。

根據本發明的第一方面，提供了一種用于測試被測設備的電波暗室。所述電波暗室包括：至少一個氣體輸入部件，所述至少一個氣體輸入部件用于將氣體輸入所述電波暗室中；以及至少一個氣體輸出部件，所述至少一個氣體輸出部件用于將所述氣體從所述電波暗室輸出。所述氣體輸入部件和所述氣體輸出部件產生相對于所述電波暗室的預定義區域的定向氣流。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述電波暗室包括至少一個吸收器、至少一個測量天線、用于所述被測設備的定位器或保持器，其中，所述被測設備布置在所述電波暗室的所述預定義區域中。有利地，可以專門相對于在進入被測設備的定向氣流的幫助下模擬的不同環境條件測試該被測設備。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述電波暗室在所述氣體輸入部件和所述氣體輸出部件之間具有壓力差。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述電波暗室的所述預定義區域包括用于導向所述定向氣流的導向部件。有利地，該定向氣流以最準確且高效的方式進入被測設備。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述定向氣流包括溫度可變的氣體。有利地，可以在溫度可變的氣體的幫助下模擬相對于被測設備的或被測設備的多個部分的操作溫度的環境條件。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述預定義區域的維度中的至少一者不小于由所述電波暗室包括的被測設備的直徑。有利地，相對于環境條件測試整個被測設備。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述氣體輸入部件和所述氣體輸出部件中的至少一者在所述電波暗室內部的方向上的表面包括電磁吸收材料、電磁中性材料、或其組合。有利地，氣體輸入部件和/或氣體輸出部件不影響相對于電磁測試和測量對被測設備的測試。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述至少一個氣體輸入部件和/或所述至少一個氣體輸出部件包括至少一個電磁捕獲結構。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述至少一個電磁捕獲結構基于電磁反射材料、電磁吸收材料、電磁中性材料、或其組合來形成。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述氣體輸入部件的形狀為噴嘴的形式。有利地，可以在噴嘴的幫助下使定向氣流聚焦。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述氣體輸出部件的形狀為漏斗的形式。有利地，可以以最高效的方式將輸入的氣體從電波暗室排出。

根據第一方面的另一優選實現形式，所述定向氣流為可轉向的。有利地，可以將定向氣流聚焦在被測設備的不同部分上而不改變該被測設備的位置。