[發(fā)明專利]圓盤類工件的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710640160.6
• 申請(qǐng)日: 2017-07-31
• 公開（公告）號(hào): CN107289837A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 齊鐵城;王斌;黃運(yùn)忠;李超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中核(天津)科技發(fā)展有限公司
• 主分類號(hào): G01B5/00
• 分類號(hào): G01B5/00;G01B5/20
• 代理公司: 天津創(chuàng)智天誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)12214
• 代理人: 周慶路

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及產(chǎn)品檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置。

背景技術(shù)

圓盤類工件是常見的機(jī)械零件，其具有平面式圓形主體和形成在圓形主體環(huán)周的弧形或斜面式側(cè)邊，在側(cè)邊上形成有側(cè)孔，對(duì)于該設(shè)有中心孔，且中心孔的周向方向設(shè)計(jì)有軸線呈一定夾角的多個(gè)側(cè)孔的圓盤類工件，中心孔和側(cè)孔之間存在一定空間位置關(guān)系。

側(cè)孔以中心孔為基準(zhǔn)通常有一定的位置度精度要求，在精密測量領(lǐng)域，普遍會(huì)采用坐標(biāo)測量法或光學(xué)測量法進(jìn)行測量，測量過程較為復(fù)雜，單件檢測時(shí)間較長，很難適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的在線檢測。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)缺陷，而提供一種空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置，可以將復(fù)雜的空間孔組形位誤差檢測轉(zhuǎn)化為簡單的銷孔配合，從而簡化對(duì)圓盤類工件環(huán)布空間孔組位置度的檢測流程的位置度檢測具。

為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的所采用的技術(shù)方案是：

一種圓盤類工件的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置，包括，

底座，包括設(shè)置在中心的圓盤體以及與所述的圓盤體一體形成的側(cè)擋環(huán)，所述的側(cè)擋環(huán)上設(shè)置有多個(gè)與圓盤類工件的側(cè)孔對(duì)應(yīng)的檢測孔，

中軸柱，下端與所述的底座固定連接，中部形成有定位環(huán)，所述的定位環(huán)上部的頭段與所述的圓盤類工件的中心孔間隙配合；

壓環(huán)，與所述的中軸柱的頭段間隙配合并將所述的圓盤類工件夾持其中；

活動(dòng)檢測銷，包括至少端部與所述的側(cè)孔間隙配合的穿柱和與所述的穿柱一體形成的柱帽。

所述的穿柱上形成有突出部以與柱帽配合將其定位在底座的檢測孔處。

所述的穿柱包括與檢測孔匹配地連接部以及與所述的側(cè)孔匹配的檢測部，所述的檢測部直徑大于所述的連接部。

所述的穿柱上套設(shè)有復(fù)位機(jī)構(gòu)。

至少其中一個(gè)所述的活動(dòng)檢測銷的柱帽與側(cè)擋環(huán)間設(shè)置有磁吸機(jī)構(gòu)。

所述的磁吸機(jī)構(gòu)為設(shè)置在側(cè)擋環(huán)上的磁鐵和鐵質(zhì)柱帽。

所述的圓盤體上設(shè)置有中心孔，所述的中軸柱下端與所述的圓盤體螺栓連接且在所述的定位環(huán)與底座間設(shè)置有墊片環(huán)。

所述的底座的側(cè)擋環(huán)與中心圓盤體的夾角與圓盤類工件的側(cè)孔與軸線所成夾角相對(duì)應(yīng)，所述的檢測孔與所述的側(cè)孔同軸設(shè)置。

所述的壓環(huán)與所述的定位環(huán)間設(shè)置有磁吸機(jī)構(gòu)。

所述的間隙配合的配合精度為0.005mm。

一種所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟，

1)將中軸柱與底座固定連接并將使其頭端穿過所述的圓盤類工件的中心孔，

2)將壓環(huán)與中軸柱頭端間隙配合，若壓環(huán)和定位環(huán)將圓盤類工件貼合夾持且該中心孔檢測合格；

3)翻轉(zhuǎn)使以壓環(huán)背離圓盤類工件的端面為止端放在水平工作臺(tái)上；

4)將活動(dòng)檢測銷逐個(gè)穿插對(duì)應(yīng)的側(cè)孔，若能插入則該側(cè)孔檢測合格。

活動(dòng)檢測銷插入預(yù)定深度后釋放由復(fù)位機(jī)構(gòu)將穿柱自側(cè)孔中抽出，若不能自主抽出則不合格。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

本發(fā)明通過合理的配合設(shè)計(jì)，將復(fù)雜的空間孔組形位誤差檢測轉(zhuǎn)化為簡單的銷孔配合通過性驗(yàn)證，檢測人員無需具備大型計(jì)量儀器或復(fù)雜光學(xué)儀器操作技能也能順利完成對(duì)圓盤類工件上設(shè)有的空間環(huán)形陣列孔組位置度的檢測，大大簡化了檢測流程，在保證測量精度的同時(shí)提高了檢測效率。

附圖說明

圖1所示為本發(fā)明的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

本發(fā)明所針對(duì)的圓盤類工件其具有平面式圓形主體和形成在圓形主體環(huán)周的弧形或斜面式側(cè)邊，在側(cè)邊上形成有多個(gè)對(duì)稱設(shè)置側(cè)孔，該側(cè)孔呈空間陣列排布構(gòu)成空間孔組，即該圓盤類工件設(shè)有中心孔，且中心孔的周向方向設(shè)計(jì)有軸線呈一定夾角的多個(gè)側(cè)孔，中心孔和側(cè)孔之間存在一定空間位置關(guān)系。

為實(shí)現(xiàn)對(duì)上述側(cè)孔及中心孔的加工精度、位置精度等的檢測，本發(fā)明公開了一種圓盤類工件的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測裝置，包括，

底座2，包括位于中心的圓盤體以及與所述的圓盤體一體形成的側(cè)擋環(huán)，所述的側(cè)擋環(huán)上設(shè)置有多個(gè)與圓盤類工件的側(cè)孔對(duì)應(yīng)的檢測孔，

中軸柱4，下端與所述的底座固定連接，中部形成有定位環(huán)，所述的定位環(huán)上部的頭段與所述的圓盤類工件的中心孔間隙配合；