[發明專利]圓盤類工件的空間環形陣列孔位置度檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 201710640160.6
• 申請日: 2017-07-31
• 公開（公告）號: CN107289837A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 齊鐵城;王斌;黃運忠;李超
• 申請（專利權）人: 中核(天津)科技發展有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/20
• 代理公司: 天津創智天誠知識產權代理事務所(普通合伙)12214
• 代理人: 周慶路

1.一種圓盤類工件的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，包括，

底座，包括位于中心的圓盤體以及與所述的圓盤體一體形成的側擋環，所述的側擋環上設置有多個與圓盤類工件的側孔對應的檢測孔，

中軸柱，下端與所述的底座固定連接，中部形成有定位環，所述的定位環上部的頭段與所述的圓盤類工件的中心孔間隙配合；

壓環，與所述的中軸柱的頭段間隙配合并將所述的圓盤類工件夾持其中；

活動檢測銷，包括至少端部與所述的側孔間隙配合的穿柱和與所述的穿柱一體形成的柱帽。

2.如權利要求1所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的穿柱上形成有突出部以與柱帽配合將其定位在底座的檢測孔處。

3.如權利要求1所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的穿柱包括與檢測孔匹配地連接部以及與所述的側孔匹配的檢測部，所述的檢測部直徑大于所述的連接部。

4.如權利要求2或3所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的穿柱上套設有復位機構。

5.如權利要求2或3所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，至少其中一個所述的活動檢測銷的柱帽與側擋環間設置有磁吸機構。

6.如權利要求5所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的磁吸機構為設置在側擋環上的磁鐵和鐵質柱帽。

7.如權利要求1所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的圓盤體上設置有中心孔，所述的中軸柱下端與所述的圓盤體螺栓連接且在所述的定位環與底座間設置有墊片環。

8.如權利要求1所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的底座的側擋環與中心的圓盤體的夾角與圓盤類工件的側孔與軸線所成夾角相對應，所述的檢測孔與所述的側孔同軸設置。

9.如權利要求1所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的壓環與所述的定位環間設置有磁吸機構。

10.如權利要求1所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述的間隙配合的配合精度為0.005mm。

11.一種如權利要求1-10任一項所述的空間環形陣列孔位置度檢測裝置的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟，

1)將中軸柱與底座固定連接并將使其頭端穿過所述的圓盤類工件的中心孔，

2)將壓環與中軸柱頭端間隙配合，若壓環和定位環將圓盤類工件貼合夾持且該中心孔檢測合格；

3)翻轉使以壓環背離圓盤類工件的端面為止端放在水平工作臺上；

4)將活動檢測銷逐個穿插對應的側孔，若能插入則該側孔檢測合格。

12.如權利要求11所述的檢測方法，其特征在于，活動檢測銷插入預定深度后釋放由復位機構將穿柱自側孔中抽出，若不能自主抽出則不合格。