[發(fā)明專(zhuān)利]FPGA器件并行模式配置的裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710625068.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107390116A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡凱;楊海鋼;賈一平;張超 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中科億海微電子科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/3185 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/3185 |
| 代理公司: | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
| 地址: | 215028 江蘇省蘇州市工業(yè)園*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | fpga 器件 并行 模式 配置 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及一種基于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment,簡(jiǎn)稱ATE)測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn)FPGA器件并行模式配置的裝置及方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)場(chǎng)FPGA(Field Programmable Gate Array,F(xiàn)PGA),它是可編程陣列邏輯(Programmable Array Logic,PAL)、通用陣列邏輯(Generic Array Logic,GAL)、復(fù)雜FPGA(Complex Programmable Logic Device,CPLD)等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。它是作物專(zhuān)用集成電路(ASIC)領(lǐng)域中一種半定制電路而出現(xiàn),即解決了定制電路的不足,又克服了原有可編程器件門(mén)電路數(shù)有限的缺點(diǎn),廣泛應(yīng)用在航天、通信、計(jì)算機(jī)硬件系統(tǒng)、程序控制、消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、汽車(chē)、醫(yī)療等領(lǐng)域.
FPGA器件采用了邏輯單元陣列LCA(Logic Cell Array)的新概念,內(nèi)部包括可配置邏輯模塊CLB(Configurable Logic Block)、輸入輸出模塊IOB(Input Output Block)和內(nèi)部連線(Interconnect)三個(gè)部分,該器件可以通過(guò)編程把通用集成電路快速配置成用戶需要的專(zhuān)用數(shù)字電路。
近年來(lái),為了適應(yīng)當(dāng)前電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)需要,F(xiàn)PGA器件的規(guī)模已經(jīng)越來(lái)越大,復(fù)雜,最新的FPGA器件內(nèi)部的等效門(mén)數(shù)已經(jīng)達(dá)到了百萬(wàn)門(mén)、幾百萬(wàn)門(mén)以上,并且內(nèi)部包括高速I(mǎi)/O,嵌入式微處理器和RAM,高速時(shí)鐘處理等模塊,器件測(cè)試面對(duì)的挑戰(zhàn)也越來(lái)越大,傳統(tǒng)的并行模式配置的裝置是將FPGA芯片置于特制的開(kāi)發(fā)板上,將配置位流碼文件下載到芯片中,通過(guò)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生相應(yīng)的輸入信號(hào)激勵(lì)施加到器件的輸入引腳,再通過(guò)示波器或邏輯分析儀等儀器觀察器件輸出引腳信號(hào)變化是否符合預(yù)期,人工判斷位流碼文件正確性,這種方法效率低,只能粗略的觀察有限個(gè)輸出引腳的信號(hào)變化情況,測(cè)試精度難以保證,只能用于實(shí)驗(yàn)室研究和驗(yàn)證,不能進(jìn)行批量測(cè)試。
公開(kāi)內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題
本公開(kāi)提供了一種基于ATE測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn)FPGA器件并行模式配置的裝置及方法,以至少部分解決以上所提出的技術(shù)問(wèn)題。
(二)技術(shù)方案
根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)方面,提供了一種FPGA器件并行模式配置的裝置,包括:配置PROM,其輸入連接到ATE輸出,輸出連接到被測(cè)FPGA的并行IO接口,用于存儲(chǔ)FPGA器件預(yù)定待測(cè)功能電路的配碼文件,接收ATE控制信號(hào)并將配置數(shù)據(jù)發(fā)送給被測(cè)FPGA;ATE,其輸入連接到被測(cè)FPGA功能電路引腳,輸出連接到配置PROM及被測(cè)FPGA輸入端,用于控制PROM對(duì)FPGA進(jìn)行并行配置,為配置PROM電路及被測(cè)FPGA器件提供配置所需的CCLK時(shí)鐘信號(hào),所述ATE通過(guò)被測(cè)FPGA反饋的完成標(biāo)志DONE信號(hào)判斷配置完成后,根據(jù)被測(cè)FPGA功能電路引腳輸出信號(hào)對(duì)配置完成后的功能電路進(jìn)行測(cè)試及結(jié)果判定。
在本公開(kāi)一些實(shí)施例中,所述ATE監(jiān)測(cè)配置完成標(biāo)志DONE信號(hào)的變化:當(dāng)ATE監(jiān)測(cè)到DONE信號(hào)指示配置成功完成后,開(kāi)始對(duì)被測(cè)FPGA器件的預(yù)定待測(cè)功能電路進(jìn)行測(cè)試、結(jié)果對(duì)比判定及反饋對(duì)比結(jié)果,從而完成被測(cè)FPGA器件的某一個(gè)預(yù)定待測(cè)功能電路的測(cè)試。
在本公開(kāi)一些實(shí)施例中,所述ATE根據(jù)CCLK的頻率,計(jì)算配置完成所需時(shí)間長(zhǎng)度并開(kāi)始等待,在時(shí)間到達(dá)后,開(kāi)始檢測(cè)DONE端口的狀態(tài),當(dāng)監(jiān)測(cè)到DONE端口信號(hào)由“L”變?yōu)椤癏”,并處于“H”狀態(tài)不變,表明配置完成。
在本公開(kāi)一些實(shí)施例中,所述FPGA配置所需時(shí)鐘信號(hào)由所述ATE提在CCLK端口提供、配置所需的數(shù)據(jù)信號(hào)由所述PROM在D0-D7端口提供。
在本公開(kāi)一些實(shí)施例中,所述配置PROM可以搭載在ATE測(cè)試板上;所述配置PROM上存儲(chǔ)的FPGA器件預(yù)定待測(cè)功能電路的配碼文件是通過(guò)被測(cè)FPGA相對(duì)應(yīng)的設(shè)計(jì)工具生成的,配置PROM在ATE控制下對(duì)被測(cè)FPGA器件輸入D[0..7]并行8位配置數(shù)據(jù),對(duì)被測(cè)FPGA進(jìn)行配置。
在本公開(kāi)一些實(shí)施例中,所述ATE還用于為配置PROM電路及被測(cè)FPGA器件提供工作所需Vcc電源信號(hào)。
根據(jù)本公開(kāi)的另一個(gè)方面,提供了一下FPGA器件并行模式配置的方法,包括以下步驟:
步驟A,通過(guò)被測(cè)FPGA相對(duì)應(yīng)的設(shè)計(jì)工具生成該器件預(yù)定待測(cè)功能電路的配碼文件,所述配碼文件為位流碼格式;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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