[發(fā)明專利]一種二合一智能卡測(cè)試儀及測(cè)試系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710624300.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107271887A | 公開(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 雷玉雄;毛濤;胡碧豐;李譚德;王浩;劉彩霞;張煒發(fā) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 惠州TCL移動(dòng)通信有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44268 | 代理人: | 王永文,劉文求 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 二合一 智能卡 測(cè)試儀 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
1.一種二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,包括測(cè)試卡本體,測(cè)試卡本體上設(shè)置有模擬區(qū)、插卡區(qū)和設(shè)置在插卡區(qū)內(nèi)的測(cè)試區(qū);
所述模擬區(qū)用于模擬二合一卡托的外形、SIM卡和SD卡的連接腳;插卡區(qū)用于插入SIM卡和/或SD卡,測(cè)試區(qū)用于引出卡信號(hào);模擬區(qū)的連接腳、插卡區(qū)的卡座引腳和測(cè)試區(qū)的測(cè)試焊盤根據(jù)引腳類型對(duì)應(yīng)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,在測(cè)試卡本體的TOP面上,模擬區(qū)內(nèi)設(shè)置有模擬卡托上SIM卡的第一輪廓線、以及模擬SD卡或SIM卡的第二輪廓線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,所述SIM卡和SD卡的連接腳的焊盤設(shè)置在測(cè)試卡本體的BOT面上;
第一SIM卡的各個(gè)連接腳的焊盤、與TOP面上的第一輪廓線相對(duì)應(yīng)并位于第一輪廓線內(nèi);SD卡和第二SIM卡的各個(gè)連接腳的焊盤、與TOP面上的第二輪廓線相對(duì)應(yīng)并位于第二輪廓線內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,所述測(cè)試區(qū)上設(shè)置有若干個(gè)測(cè)試焊盤,測(cè)試焊盤的個(gè)數(shù)與插卡區(qū)的卡座引腳匹配。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,在測(cè)試卡本體的TOP面上,所述插卡區(qū)內(nèi)設(shè)置有第一SIM卡座、第二SIM卡座和SD卡座。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,第一SIM卡座的VCC腳、RST腳、CLK腳、VPP腳、I/O腳分別與第一SIM卡的VCC腳的焊盤、RST腳的焊盤、CLK腳的焊盤、VPP腳的焊盤、I/O腳的焊盤一對(duì)一連接;第一SIM卡的GND腳的焊盤接地,第一SIM卡的REV1腳的焊盤與REV2腳的焊盤懸空;第一SIM卡座的GND腳和A_GND腳接地。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,所述第二SIM卡座的VCC腳、RST腳、CLK腳、VPP腳、I/O腳分別與第二SIM卡的VCC腳的焊盤、RST腳的焊盤、CLK腳的焊盤、VPP腳的焊盤、I/O腳的焊盤一對(duì)一連接;第二SIM卡的GND腳的焊盤接地,第二SIM卡的REV1腳的焊盤與REV2腳的焊盤懸空;第二SIM卡座的GND腳和A_GND腳接地。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的二合一智能卡測(cè)試儀,其特征在于,所述SD卡座的DATA2腳、CD/DATA3腳、CMD腳、VDD腳、CLK腳、VSS腳、DATA0腳、DATA1腳分別與SD卡的DATA2腳的焊盤、CD/DATA3腳的焊盤、CMD腳的焊盤、VDD腳的焊盤、CLK腳的焊盤、VSS腳的焊盤、DATA0腳的焊盤、DATA1腳的焊盤一對(duì)一連接;SD卡座的SLG1腳、SLG2腳、SLG3腳、SLG4腳、SLG5腳、SLG6腳、SLG7腳和COMMON腳接地;SD卡座的VSS腳接地。
9.一種測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括待測(cè)的移動(dòng)終端、測(cè)試設(shè)備和如權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的二合一智能卡測(cè)試儀;
所述二合一智能卡測(cè)試儀的模擬區(qū)與移動(dòng)終端的卡槽插接,模擬區(qū)的連接腳與卡槽內(nèi)卡座的引腳對(duì)應(yīng)電連接;插卡區(qū)內(nèi)插入SIM卡和/或SD卡;測(cè)試設(shè)備與測(cè)試區(qū)的測(cè)試焊盤電連接,接出相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備為示波器時(shí),示波器探頭勾住二合一智能卡測(cè)試儀上的測(cè)試焊盤,SD卡和/或SIM卡信號(hào)的時(shí)序波形引出至示波器上顯示。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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