[發明專利]一種快速測定α圓片上鈾同位素組成的方法

有效

• 申請號: 201710607835.7
• 申請日: 2017-07-24
• 公開（公告）號: CN107389661B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 崔榮榮;劉艷成;周偉;張嵐;胡偉青;叢海霞;羅艷
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海應用物理研究所
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N1/28
• 代理公司: 31002 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 鄧琪;宋麗榮

1.一種快速測定α圓片上鈾同位素組成的方法，其特征在于，包括步驟：

S1，將含鈾化合物的溶液通過電鍍或滴樣制樣法使鈾負載到α圓片上，得到待分析樣品片，所述含鈾化合物選自二氧化鈾、四氟化鈾、六氟化鈾和硝酸鈾酰中的至少一種，所述電鍍制樣法包括在含鈾化合物的溶液中依次加入硝酸、高氯酸、鹽酸和電沉積液進行電鍍，所述滴樣制樣法包括將含鈾化合物的溶液滴樣到α圓片表面上后在干燥箱中烘干或在紅外烤燈下烤干，所述待分析樣品片上負載的鈾的含量為0.05-5mg；

S2，將六氟化鈾標準物質的溶液通過電鍍或滴樣制樣法使鈾負載到α圓片上，得到標準樣品片，所述電鍍制樣法包括在六氟化鈾標準物質的溶液中依次加入硝酸、高氯酸、鹽酸和電沉積液進行電鍍，所述滴樣制樣法包括將六氟化鈾標準物質的溶液滴樣到α圓片表面上后在干燥箱中烘干或在紅外烤燈下烤干，所述標準樣品片上負載的鈾的含量為0.05-5mg；

S3，優化激光剝蝕固體進樣系統和電感耦合等離子體質譜儀，得到儀器的優化參數，使得儀器達到最佳工作狀態的同時，使高豐度²³⁸U核素的計數達到最大；

S4，使用儀器的優化參數對標準樣品片進行測定，得到²³⁴U、²³⁵U、²³⁶U、²³⁸U的計數，分別使用每個核素的計數除以所有核素的計數之和，得到各個核素的未校正的豐度值，使用所述未校正的豐度值除以標準物質的證書值得到每個核素豐度的校正因子；

S5，使用儀器的優化參數，采用線掃描方式剝蝕待分析樣品片進行測定，得到²³⁴U、²³⁵U、²³⁶U、²³⁸U的測定值，并分別使用每個核素的測定值除以所有核素的測定值之和，再除以每個核素豐度的校正因子校正質量歧視效應，得到各個核素的校正的豐度值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S1包括將二氧化鈾、四氟化鈾或六氟化鈾通過加熱溶解形成溶液。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S1包括使用天然豐度的硝酸鈾酰溶液。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S3包括：在樣品及空白處分別先做預測試，使用線掃描，由低到高調節能量及光斑尺寸，找到使²³⁸U計數達到180萬-200萬CPS，且空白圓片幾乎測不出計數的條件范圍。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟S5包括：僅選取²³⁸U計數達到180萬-200萬CPS范圍附近的數據進行取平均值計算，舍去其他核素的測定值。