[發(fā)明專利]一種液晶模組缺陷檢測后的復(fù)判分層方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710607070.7 | 申請日： | 2017-07-24 |
| 公開（公告）號： | CN107390393B | 公開（公告）日： | 2020-09-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 汪杰;鄒偉金;姜涌;魏斌;孫成 | 申請（專利權(quán)）人： | 惠州高視科技有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 廣州市華學(xué)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人： | 葉敏明 |
| 地址： | 516006 廣東省惠*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 液晶 模組 缺陷 檢測 分層 方法 | ||
本發(fā)明公開一種液晶模組缺陷檢測后的復(fù)判分層方法，包括如下步驟：根據(jù)預(yù)先定義的液晶層的物理位置，調(diào)節(jié)相機(jī)的聚焦點以獲取液晶層的最佳成像物理位置，定義最佳成像物理位置為原點位置；通過相機(jī)檢測缺陷是否存在于液晶層；根據(jù)預(yù)先獲得的上偏光片距液晶層的距離及下偏光片距液晶層的距離，調(diào)節(jié)相機(jī)的聚焦點至上偏光片或下偏光片，以檢測缺陷是否存在于上偏光片或下偏光片；根據(jù)缺陷是否存在，從而確定該缺陷的真實物理層級；根據(jù)上表面到液晶層的物理距離，調(diào)節(jié)相機(jī)的聚焦點至上表面，檢測上表面是否有灰塵，從而判斷是否為灰塵誤判。本發(fā)明可以解決現(xiàn)有技術(shù)中自動檢測設(shè)備中無法實現(xiàn)的缺陷分層問題，判斷是否為檢測時未濾除的表面灰塵的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶模組技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種液晶模組缺陷檢測后的復(fù)判分層方法。
背景技術(shù)
LCD(Liquid Crystal Display)液晶屏典型組成由上至下依次為TP(TouchPanel，觸摸屏)玻璃、上偏光片、彩色濾光片、液晶層、TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶體管)基板、下偏光片以及背光源。隨著LCD技術(shù)的發(fā)展，它以分辨率高、體積小、重量輕、無輻射、平板化和功耗低等特點，迅速成為顯示市場的主角，從手機(jī)到便攜式游戲機(jī)、從工業(yè)設(shè)備的人工操作平臺到銀行自助設(shè)備ATM(Automatic Teller Machine)等諸多領(lǐng)域，LCD無所不在。因此，對于LCD液晶屏的質(zhì)量檢測變得尤為重要。
LCD液晶屏的工藝流程及質(zhì)量檢測主要包括：面板切割、貼片、COG(chinponglass，將IC搭載在玻璃面板上)/FOG(film on glass，將FPC搭載在玻璃面板上)、點膠、組背光。其中主要的質(zhì)量檢測包括面板切割后、貼片后和組背光后的點燈檢查和外觀檢查。
目前，現(xiàn)有技術(shù)中已經(jīng)可以實現(xiàn)對各階段自動點燈的質(zhì)量檢測，但是，現(xiàn)有技術(shù)中的自動檢測裝置無法實現(xiàn)檢測后的缺陷的真實物理層以及是否為檢測時未濾除的表面灰塵。尤其是在后工序貼片和背光組裝中，由于工藝的組裝過程中引入缺陷，針對各層都需要檢測，且不同層的檢測標(biāo)準(zhǔn)不一致，但不同缺陷在檢測過程中的狀態(tài)難以確定，因此對缺陷的精確層級定義在LCD檢測設(shè)備中一直處于空白狀態(tài)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處，提供一種液晶模組缺陷檢測后的復(fù)判分層方法，以解決目前技術(shù)中自動檢測設(shè)備中缺陷無法分層以及判斷是否為檢測時未濾除的表面灰塵的問題。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的：
一種液晶模組缺陷檢測后的復(fù)判分層方法，通過相機(jī)對液晶模組進(jìn)行分層檢測，所述液晶模組包括依序排列的上偏光片、液晶層、下偏光片，并設(shè)定所述上偏光片遠(yuǎn)離所述液晶層的一面為上表面，包括如下步驟：
根據(jù)預(yù)先定義的所述液晶層的物理位置，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點以獲取所述液晶層的最佳成像物理位置，定義所述最佳成像物理位置為原點位置，從所述原點位置往所述上偏光片一側(cè)為正方向，從所述原點位置往所述下偏光片一側(cè)為負(fù)方向；
通過所述相機(jī)對所述液晶層進(jìn)行檢測，以檢測缺陷是否存在于所述液晶層；
根據(jù)預(yù)先獲得的所述上偏光片距所述液晶層的物理距離及所述下偏光片距所述液晶層的物理距離，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點至所述上偏光片或所述下偏光片，以檢測缺陷是否存在于所述上偏光片或所述下偏光片；
根據(jù)缺陷是否存在，從而確定該缺陷的真實物理層級；
根據(jù)所述上表面到所述液晶層的物理距離，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點至所述上表面，檢測所述上表面是否有灰塵，從而判斷是否為灰塵誤判。
在其中一個實施例中，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點以獲取所述液晶層的最佳成像物理位置包括：
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào)，上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的；用于上述操作的技術(shù)或工藝；變頻；非線性光學(xué)；光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如，轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制；非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
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