[發(fā)明專利]一種液晶模組缺陷檢測(cè)后的復(fù)判分層方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710607070.7
• 申請(qǐng)日: 2017-07-24
• 公開（公告）號(hào): CN107390393B
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪杰;鄒偉金;姜涌;魏斌;孫成
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 惠州高視科技有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245
• 代理人: 葉敏明

1.一種液晶模組缺陷檢測(cè)后的復(fù)判分層方法，通過相機(jī)對(duì)液晶模組進(jìn)行分層檢測(cè)，所述液晶模組包括依序排列的上偏光片、液晶層、下偏光片，并設(shè)定所述上偏光片遠(yuǎn)離所述液晶層的一面為上表面，其特征在于，包括如下步驟：

根據(jù)預(yù)先定義的所述液晶層的物理位置，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點(diǎn)以獲取所述液晶層的最佳成像物理位置，定義所述最佳成像物理位置為原點(diǎn)位置，從所述原點(diǎn)位置往所述上偏光片一側(cè)為正方向，從所述原點(diǎn)位置往所述下偏光片一側(cè)為負(fù)方向；

通過所述相機(jī)對(duì)所述液晶層進(jìn)行檢測(cè)，以檢測(cè)缺陷是否存在于所述液晶層；

根據(jù)預(yù)先獲得的所述上偏光片距所述液晶層的物理距離及所述下偏光片距所述液晶層的物理距離，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點(diǎn)至所述上偏光片或所述下偏光片，以檢測(cè)缺陷是否存在于所述上偏光片或所述下偏光片；

根據(jù)缺陷是否存在，從而確定該缺陷的真實(shí)物理層級(jí)；

根據(jù)所述上表面到所述液晶層的物理距離，調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點(diǎn)至所述上表面，檢測(cè)所述上表面是否有灰塵，從而判斷是否為灰塵誤判；

調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點(diǎn)以獲取所述液晶層的最佳成像物理位置包括：

點(diǎn)亮所述液晶模組，切換到檢測(cè)畫面，從預(yù)先定義的所述液晶層的物理位置的正方向位置開始，負(fù)方向位置結(jié)束，按照運(yùn)動(dòng)采圖設(shè)置采集圖像，獲取N幅檢測(cè)畫面圖像；

在N幅檢測(cè)畫面圖像中獲取所述液晶層的最佳成像圖像，并獲取所述最佳成像圖像的實(shí)際位置，定義所述最佳成像圖像的實(shí)際位置為原點(diǎn)位置；

在調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點(diǎn)至所述上表面之前，關(guān)閉檢測(cè)畫面，點(diǎn)亮同軸光源；

調(diào)節(jié)所述相機(jī)的聚焦點(diǎn)至上偏光片或下偏光片，以檢測(cè)缺陷是否存在于上偏光片或下偏光片，若該缺陷存在，還判斷該缺陷的銳度。