[發明專利]IGBT簡易測試裝置及測試方法在審
| 申請號: | 201710602279.4 | 申請日: | 2017-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN107290641A | 公開(公告)日: | 2017-10-24 |
| 發明(設計)人: | 許博;趙曉明;陳保棟;潘廣;黃鍵 | 申請(專利權)人: | 青島港國際股份有限公司;青島前灣集裝箱碼頭有限責任公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 青島聯智專利商標事務所有限公司37101 | 代理人: | 邵新華 |
| 地址: | 266000 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | igbt 簡易 測試 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明屬于檢測裝置技術領域,具體地說,是涉及一種用于檢測IGBT器件是否損壞的測試裝置及測試方法。
背景技術
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)絕緣柵雙極型晶體管,是由BJT(雙極型三極管)和MOS(絕緣柵型場效應管)組成的復合全控型電壓驅動式功率半導體器件,兼具有MOSFET的高輸入阻抗和GTR的低導通壓降兩方面優點,非常適合應用于直流電壓在600V以上的變流系統中,例如交流電機、變頻器、牽引傳動裝置等領域。
目前,海洋運輸是國際物流中最主要的運輸方式,國際貿易總運量中的2/3以上、中國進出口貨運總量的約90%都是利用海上運輸。而橋吊作為碼頭上用于進行裝卸作業的起重機,是碼頭的心臟力量,橋吊作業能力決定著一個碼頭的貨物吞吐能力。而IGBT是橋吊驅動器變頻裝置的核心功率器件,在橋吊變頻器發生的故障中,IGBT損壞占有很大的比例。但是,IGBT損壞后,有的具有明顯的損壞跡象,很容易辨識;而有的僅從外觀無法辨別出好壞,從而給故障排查工作帶來一定的困難,嚴重影響著碼頭的作業效率以及海洋貨物運輸的整體速度。因此,設計一款簡單易用的IGBT測試裝置就顯得非常有必要。
發明內容
本發明的目的在于提供一種IGBT簡易測試裝置及測試方法,能夠對IGBT器件是否出現故障實現快速、準確的檢測。
為解決上述技術問題,本發明采用以下技術方案予以實現:
一方面,本發明提出了一種IGBT簡易測試裝置,包括柵極插孔、集電極插孔、發射極插孔、電源、指示燈、測試開關和試燈開關;其中,所述柵極插孔用于連通IGBT的柵極;所述集電極插孔用于連通IGBT的集電極;所述發射極插孔用于連通IGBT的發射極;所述電源的正極連通所述的集電極插孔,所述電源的負極連通所述的發射極插孔;所述指示燈串聯在所述電源的正極與集電極插孔之間;所述測試開關連接在所述電源的正極與柵極插孔之間;所述試燈開關跨接在所述集電極插孔與發射極插孔之間。
進一步的,在所述IGBT簡易測試裝置中還設置有限流電阻,所述限流電阻與所述指示燈串聯后,連接在所述電源的正極與集電極插孔之間。
優選的,所述電源可以選用大于等于6V的電池。
為了便于現場操作,在所述IGBT簡易測試裝置中還設置有外殼和三根探針;在所述外殼的殼體上布設所述的柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔;所述三根探針外置于所述外殼,使用時,分別通過導線一一對應地插接在所述的柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔中。利用三根探針接觸待測IGBT的柵極、集電極和發射極,由此無需將待測IGBT從原設備上拆下,即可在現場完成IGBT的測試任務,方便快捷。
為了便于技術人員手持操作所述的IGBT簡易測試裝置,優選將所述柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔布設在外殼的左側,所述測試開關布設在外殼的右側,所述指示燈布設在外殼的頂部,所述試燈開關布設在外殼的底部;所述電源布設在外殼的內部。
另一方面,本發明還基于所述IGBT簡易測試裝置提出了一種IGBT測試方法,其中,所述IGBT簡易測試裝置包括外殼、布設在外殼上的柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔以及電源、指示燈、測試開關、試燈開關和三根探針;其中,所述柵極插孔用于連通IGBT的柵極;所述集電極插孔用于連通IGBT的集電極;所述發射極插孔用于連通IGBT的發射極;所述電源的正極連通所述的集電極插孔,所述電源的負極連通所述的發射極插孔;所述指示燈串聯在所述電源的正極與集電極插孔之間;所述測試開關連接在所述電源的正極與柵極插孔之間;所述試燈開關跨接在所述集電極插孔與發射極插孔之間;所述三根探針外置于所述外殼,使用時,分別通過導線一一對應地插接在所述的柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔中;所述IGBT測試方法包括指示燈測試過程:按下試燈開關,若指示燈發光,則抬起試燈開關,執行IGBT測試過程:利用插入到柵極插孔中的探針接觸待測IGBT的柵極;利用插入到集電極插孔中的探針接觸待測IGBT的集電極;利用插入到發射極插孔中的探針接觸待測IGBT的發射極;若指示燈發光,則判定待測IGBT的集電極與發射極擊穿,所述待測IGBT已損壞;若指示燈不發光,則按下測試開關,若指示燈發光,則判定所述待測IGBT無故障;若指示燈不發光,則判定所述待測IGBT已損壞。
進一步的,在所述指示燈測試過程中,若指示燈不發光,則判定指示燈損壞,在更換正常的指示燈后,執行所述的IGBT測試過程。
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