[發明專利]IGBT簡易測試裝置及測試方法

在審

• 申請號: 201710602279.4
• 申請日: 2017-07-21
• 公開（公告）號: CN107290641A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 許博;趙曉明;陳保棟;潘廣;黃鍵
• 申請（專利權）人: 青島港國際股份有限公司;青島前灣集裝箱碼頭有限責任公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 青島聯智專利商標事務所有限公司37101
• 代理人: 邵新華

1.一種IGBT簡易測試裝置，其特征在于，包括：

柵極插孔，用于連通IGBT的柵極；

集電極插孔，用于連通IGBT的集電極；

發射極插孔，用于連通IGBT的發射極；

電源，其正極連通所述的集電極插孔，其負極連通所述的發射極插孔；

指示燈，其串聯在所述電源的正極與集電極插孔之間；

測試開關，其連接在所述電源的正極與柵極插孔之間；

試燈開關，其跨接在所述集電極插孔與發射極插孔之間。

2.根據權利要求1所述的IGBT簡易測試裝置，其特征在于，還包括：

限流電阻，其與所述指示燈串聯后，連接在所述電源的正極與集電極插孔之間。

3.根據權利要求1所述的IGBT簡易測試裝置，其特征在于，所述電源為大于等于6V的電池。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的IGBT簡易測試裝置，其特征在于，還包括：

外殼，其殼體上布設所述的柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔；

三根探針，其外置所述外殼，使用時，分別通過導線一一對應地插接在所述的柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔中。

5.根據權利要求4所述的IGBT簡易測試裝置，其特征在于，所述柵極插孔、集電極插孔和發射極插孔布設在外殼的左側，所述測試開關布設在外殼的右側，所述指示燈布設在外殼的頂部，所述試燈開關布設在外殼的底部；所述電源布設在外殼的內部。

6.一種基于權利要求4或5所述的IGBT簡易測試裝置的測試方法，其特征在于，包括：

指示燈測試過程：

按下試燈開關，若指示燈發光，則抬起試燈開關，執行IGBT測試過程；

IGBT測試過程：

利用插入到柵極插孔中的探針接觸待測IGBT的柵極；

利用插入到集電極插孔中的探針接觸待測IGBT的集電極；

利用插入到發射極插孔中的探針接觸待測IGBT的發射極；

若指示燈發光，則判定待測IGBT的集電極與發射極擊穿，所述待測IGBT已損壞；

若指示燈不發光，則按下測試開關，若指示燈發光，則判定所述待測IGBT無故障；若指示燈不發光，則判定所述待測IGBT已損壞。

7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，在所述指示燈測試過程中，若指示燈不發光，則判定指示燈損壞，在更換正常的指示燈后，執行所述的IGBT測試過程。