[發(fā)明專利]一種測試標(biāo)片制作方法及測試標(biāo)片

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710594645.6
• 申請日: 2017-07-20
• 公開（公告）號: CN109285895A
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王雪亮;胡冰峰;羅茂盛
• 申請（專利權(quán)）人: 奧特斯維能源（太倉）有限公司;太倉海潤太陽能有限公司
• 主分類號: H01L31/0216
• 分類號: H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/068;H01L31/18
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發(fā)明涉及晶體硅太陽能電池制造領(lǐng)域，尤其涉及一種測試標(biāo)片制作方法及測試標(biāo)片。其中，測試標(biāo)片制作方法包括：對硅片的雙面進(jìn)行制絨；對硅片的正面進(jìn)行擴(kuò)散；對硅片的雙面進(jìn)行邊緣刻蝕；在硅片的正面印刷細(xì)柵；對硅片進(jìn)行一次燒結(jié)；對硅片的正面鍍減反膜；在硅片的背面印刷背極；在硅片的背面印刷背場；在硅片的正面印刷主柵；對硅片進(jìn)行二次燒結(jié)。通過在鍍減反膜之前先進(jìn)行細(xì)柵的印刷和一次燒結(jié)，在鍍減反膜之后進(jìn)行主柵的印刷和二次燒結(jié)，測試標(biāo)片在使用的過程中能夠減少細(xì)柵與外界氧氣的接觸，避免細(xì)柵的磨損，從而降低測試標(biāo)片在使用過程中的衰減，延長測試標(biāo)片的使用壽命。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及晶體硅太陽能電池制造領(lǐng)域，尤其涉及一種測試標(biāo)片制作方法及測試標(biāo)片。

背景技術(shù)

光電轉(zhuǎn)換效率是太陽能電池的重要產(chǎn)品指標(biāo)，太陽能電池制造商會在太陽能電池片出廠前對此指標(biāo)進(jìn)行測試，獲得的效率稱為出廠效率，根據(jù)不同的出廠效率以不同的價(jià)格賣給購買商。購買商在收到產(chǎn)品后，也會對太陽能電池進(jìn)行效率測試，所測得效率稱為檢驗(yàn)效率，如果檢驗(yàn)效率與出廠效率不符合，便會引起制造商和購買商之間的糾紛。所以太陽能電池效率測試的準(zhǔn)確性在光伏行業(yè)中起著十分重要的作用。

獲得光電轉(zhuǎn)換效率的方式如下：準(zhǔn)備一張?zhí)柲茈姵販y試標(biāo)片，通過調(diào)整測試機(jī)的光強(qiáng)、溫度補(bǔ)償系數(shù)等參數(shù)，使標(biāo)片的測試值等于其標(biāo)稱效率，從而完成測試機(jī)的校準(zhǔn)。然而，隨著太陽能電池測試標(biāo)片的使用次數(shù)增多，其上設(shè)置的細(xì)柵不斷的磨損及氧化，標(biāo)片的測試效率發(fā)生衰減，使測試效率偏離標(biāo)稱效率，造成測試標(biāo)片的使用壽命較短。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一個(gè)目的是提出一種測試標(biāo)片制作方法，用來解決測試標(biāo)片使用壽命短的問題。

本發(fā)明的另一個(gè)目的是提出一種測試標(biāo)片，用來解決現(xiàn)有的測試標(biāo)片使用壽命短的問題。

為達(dá)此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種測試標(biāo)片制作方法，包括以下步驟：

步驟A：對硅片的雙面進(jìn)行制絨；

步驟B：對步驟A處理后的硅片的正面進(jìn)行擴(kuò)散；

步驟C：對步驟B處理后的硅片的雙面進(jìn)行邊緣刻蝕；

步驟D：在步驟C處理后的硅片的正面印刷細(xì)柵；

步驟E：對步驟D處理后的硅片進(jìn)行一次燒結(jié)；

步驟F：對步驟E處理后的硅片的正面鍍減反膜；

步驟G：在步驟F處理后的硅片的背面印刷背極；

步驟H：在步驟G處理后的硅片的背面印刷背場；

步驟I：在步驟H處理后的硅片的正面印刷主柵；

步驟J：對步驟I處理后的硅片進(jìn)行二次燒結(jié)。

作為一種測試標(biāo)片制作方法的優(yōu)選方案，步驟D中印刷所述細(xì)柵的漿料為非燒穿型漿料。

作為一種測試標(biāo)片制作方法的優(yōu)選方案，步驟D在印刷所述細(xì)柵的同時(shí)還印刷定位點(diǎn)，所述定位點(diǎn)用于印刷所述主柵時(shí)的定位。

作為一種測試標(biāo)片制作方法的優(yōu)選方案，步驟D中印刷的所述細(xì)柵為多條，多條所述細(xì)柵平行設(shè)置。

作為一種測試標(biāo)片制作方法的優(yōu)選方案，步驟I中印刷的所述主柵與步驟D中印刷的所述細(xì)柵相垂直。

作為一種測試標(biāo)片制作方法的優(yōu)選方案，步驟I中印刷所述主柵的漿料為燒穿型漿料。

作為一種測試標(biāo)片制作方法的優(yōu)選方案，步驟F中的所述減反膜為氮化硅的薄膜。

一種測試標(biāo)片，應(yīng)用如上所述的測試標(biāo)片制作方法制成。