[發明專利]針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法及用途、測量裝置

在審

• 申請號: 201710582783.2
• 申請日: 2017-07-17
• 公開（公告）號: CN107623650A
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: 熊軍;郭曉峰;夏傳榮;王立新
• 申請（專利權）人: 西安宇飛電子技術有限公司
• 主分類號: H04L27/00
• 分類號: H04L27/00;H04L27/26
• 代理公司: 北京力量專利代理事務所(特殊普通合伙)11504
• 代理人: 宋林清

1.針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

S110，接收同步信號；

S120，根據所述同步信號的相鄰兩段序列的相位差計算粗頻偏Δf_coarse；

S130，獲取導頻，所述導頻變換到時域，以獲取當前的信噪比；

S140，所述信噪比大于門限；

S150，獲取常規時隙下多個符號的導頻，并通過所述多個符號的導頻重復相關進行精頻偏Δf_offset的測量；

S160，計算目標頻偏Δf_all＝Δf_coarse+Δf_offset。

2.根據權利要求1所述的針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法，其特征在于，在步驟S120中，所述粗頻偏的計算步驟包括：

S1201，基于以下公式，所述相鄰兩段序列首先分別與各自的本地序列共軛相乘，然后再共軛相乘，以計算共軛相關值

其中，synr₁(k)與synr₂(k)為相鄰兩段同步序列，synt₁(k)與synt₂(k)為相鄰兩段本地同步序列，所述共軛相關值R代入步驟S1202中的公式；

S1202，基于以下公式，根據所述共軛相關值R計算相位差所述相位差代入步驟S1203中的公式；

S1203，根據所述相位差計算粗頻偏

其中，為相位差，L為采樣點數，f_s為采樣速度，所述粗頻偏Δf_coarse代入步驟S160中的公式。

3.根據權利要求2所述的針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法，其特征在于，在步驟S130中，所述導頻變換到時域的信號特性為k＝1:L/2，其中，synr₁(k)為同步序列，synt₁(k)為本地同步序列。

4.根據權利要求1所述的針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法，其特征在于，在步驟S140中，當所述信噪比小于門限時，則返回至步驟S110。

5.根據權利要求1所述的針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法，其特征在于，在步驟S150中，所述精頻偏Δf_offset的計算步驟，包括：

S1501，將導頻信道估計得到的信道H按導頻所在的OFDM符號排列，排列后的導頻信道估計表示為其中m＝1,2,…M表示一個時隙中包含列導頻符號，nrs＝1,2…N表示一個OFDM符號中含導頻的個數；

S1502，計算不同符號同一頻點對的共軛相關值之和，為了進行子載波對齊，采用第一列和第三列的導頻符號作共軛相關，第二列和第四列的導頻符號作共軛相關：

R_sum＝R_sum₁+R_sum₂

其中，R_sum₁為第一列和第三列的導頻符號的共軛相關值，R_sum₂為第二列和第四列的導頻符號的共軛相關值，R_sum為第一列、第二列、第三列和第四列的導頻符號的共軛相關值之和，conj()表示求共軛運算；

S1503，求所述共軛相關值之和R_sum對應的角度φ＝angle(R_sum)，其中，angle()表示求角度運算，用Cordic函數來實現；

S1504，計算共軛相關對所在兩列導頻符號的時間間隔；

L＝2*(N_FFT+N_CP)，N_FFT為FFT變換所選取的點數，N_CP循環前綴點數，因此，無需區分CP類型，L是一個與下行系統帶寬綁定的正整數；

S1505，計算精頻偏其中，分母中的π可以與分子中的單位相抵消。

6.根據權利要求1至5所述的針對高速環境下OFDM系統頻偏的測量方法用于校準頻偏。