[發明專利]一種介電測試樣品的制樣方法和應用

有效

• 申請號: 201710571334.8
• 申請日: 2017-07-13
• 公開（公告）號: CN107271242B
• 公開（公告）日: 2019-11-15
• 發明（設計）人: 李俊玲;劉寶峰
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春應用化學研究所
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N27/22
• 代理公司: 11227 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 趙青朵<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種介電測試樣品的制樣方法，包括以下步驟：

a)在下電極放置隔離柱和介電測試樣品，得到放置有介電測試樣品的下電極；所述介電測試樣品分布在以下電極中心為圓心的圓內；所述介電測試樣品選自聚乙烯、聚丙烯或聚丁烯；

b)將步驟a)得到的放置有介電測試樣品的下電極進行真空干燥，再覆蓋上電極進行壓制，得到待測樣品；所述真空干燥的溫度為介電測試樣品玻璃化溫度或熔點以上30℃～50℃。

2.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，所述下電極為圓形銅片，所述下電極的直徑為20mm～50mm，厚度為1mm～2mm；

所述上電極為圓形銅片，所述上電極的直徑為10mm～40mm，厚度為1mm～2mm。

3.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，所述下電極和上電極在使用前，還分別進行預處理；

所述預處理的過程具體為：將下電極和上電極分別進行打磨、拋光、清洗和烘干，分別得到預處理后的下電極和預處理后的上電極。

4.根據權利要求3所述的制樣方法，其特征在于，所述打磨采用由粗到細的砂紙依次進行打磨；所述拋光采用金屬拋光劑反復進行拋光；所述清洗采用的清洗劑為乙醇和/或甲醇。

5.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，步驟a)中所述隔離柱為圓柱體，所述隔離柱的直徑為0.05mm～0.15mm；

所述隔離柱的個數為3個，隔離柱之間的間距為5mm，且中間一根隔離柱要通過下電極中心點。

6.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，所述介電測試樣品的用量為15mg～240mg。

7.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，步驟b)中所述真空干燥的時間為10h～15h。

8.根據權利要求1所述的制樣方法，其特征在于，步驟b)中所述壓制采用夾子夾住上、下電極的方式進行，所述夾子的個數為2個；

所述壓制的方向垂直于隔離柱柱狀體高的方向；

所述壓制的時間為10h～15h。

9.一種權利要求1～8任一項所述的制樣方法得到的待測樣品在進行介電測試中的應用。