[發明專利]一種拉伸試樣標距測劃裝置及方法

有效

• 申請號: 201710569334.4
• 申請日: 2017-07-13
• 公開（公告）號: CN109253902B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 梁笑;劉仁東;林利;陸曉峰;徐鑫;蘇洪英;呂冬;丁庶煒;李春林;李蕭彤
• 申請（專利權）人: 鞍鋼股份有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28
• 代理公司: 鞍山嘉訊科技專利事務所(普通合伙) 21224
• 代理人: 張群

本發明涉及一種拉伸試樣標距測劃裝置及方法，所述裝置包括基準架、左固定架、右固定架、縱向定位架、橫向定位塊及長螺栓；基準架設基準定位桿和第一滑槽；左固定架可沿第一滑槽滑動，其上設第二滑槽；右固定架可沿第二滑槽滑動，其上設第三滑槽；縱向定位架可沿第三滑槽滑動；各滑槽的開口方向相同且滑動方向一致；左、右固定架和縱向定位架分別設左定位桿、右定位桿和縱向定位桿；左定位桿、右定位桿上設橫向定位塊，同一定位桿上的橫向定位塊通過長螺栓串連后鎖緊固定。本發明克服了傳統測劃方法準確性低、穩定性差的缺點，能夠實現多個拉伸試樣初始標距同時刻劃，刻劃一致性較好、效率高，尤其適應于實驗室中非標拉伸試樣斷后延伸率的測算。

技術領域

本發明涉及材料拉伸試驗技術領域，尤其涉及一種方便拉伸試樣標距刻劃及測定的裝置及方法。

背景技術

在材料拉伸試驗過程中，拉伸試樣初始標距的刻劃及斷后標距的測量是測算拉伸試樣斷后延伸率的重要環節，但是由于標距刻劃時極易受人工操作的影響，往往會產生較大的測量誤差。如果拉伸試樣的標距刻劃及測量精度不高，那么材料斷后延伸率的計算結果就會失真，因此，保證每個拉伸試樣的初始標距刻劃精度及斷后標距的測量精度十分重要。

傳統的拉伸試樣斷后延伸率的測算方法，一般是在拉伸試驗之前通過標距打點機在每個拉伸試樣的標距位置打點刻劃，待拉伸試樣斷裂后采用卡尺人工逐個測量斷后點距，然后通過公式計算。還有直接利用卡尺在拉伸試樣上劃線確定初始標距，待試樣斷裂后再用卡尺測量斷后的線距來計算延伸率的方法。然而，這些延伸率的測算方法精度較低，人工誤差及隨機性較大，難以滿足對延伸率計算精度要求較高的場合，也無法保證每個拉伸試樣的初始標距刻劃及斷后標距測量的一致性和穩定性，不能適應目前科研試驗的需求。

發明內容

本發明提供了一種拉伸試樣標距測劃裝置及方法，克服了傳統測劃方法準確性低、穩定性差的缺點，能夠實現多個拉伸試樣初始標距同時刻劃，刻劃一致性較好、效率高，尤其適應于實驗室中非標拉伸試樣斷后延伸率的測算。

為了達到上述目的，本發明采用以下技術方案實現：

一種拉伸試樣標距測劃裝置，包括基準架、左固定架、右固定架、縱向定位架、多個橫向定位塊及2個長螺栓；所述基準架為F形結構，由上部2個平行的橫桿及與橫桿垂直設置的基準定位桿組成，2條橫桿組成單側開放的第一滑槽；左固定架的上部外側卡設在第一滑槽中并可沿第一滑槽滑動，其上部內側形成單側開放的第二滑槽；右固定架的上部外側卡設在第二滑槽中并可沿第二滑槽滑動，其上部內側形成單側開放的第三滑槽；縱向定位架為L形結構，其上部橫桿卡設在第三滑槽內并可沿第三滑槽滑動；第一滑槽、第二滑槽、第三滑槽的開口方向相同，且滑動方向一致，各滑槽的底部分別設鎖緊螺釘；左固定架、右固定架和縱向定位架的下部分別設左定位桿、右定位桿和縱向定位桿，該3個定位桿分別與基準定位桿平行設置；左定位桿、右定位桿上一一對應地設有多個橫向定位塊，橫向定位塊能夠沿對應定位桿滑動，同一定位桿上的橫向定位塊通過同一長螺栓串連后鎖緊固定。

所述橫向定位塊一側設水平延伸桿，橫向定位塊安裝在左定位桿上時，水平延伸桿朝向基準定位桿一側，橫向定位塊安裝在右定位桿上時，水平延伸桿朝向縱向定位桿一側。

所述基準定位桿、左定位桿、右定位桿和縱向定位桿的橫截面均為矩形。

所述第一滑槽、第二滑槽、第三滑槽底部設置的鎖緊螺釘分別設于靠近對應滑槽的開口一側。

所述橫向定位塊位于左、右固定架之下的底邊高度大于拉伸試樣的厚度。

基于所述裝置的拉伸試樣標距測劃方法，包括如下步驟：

1)在標距刻劃之前，將拉伸試樣清洗干凈，擺放在水平桌面上；