[發(fā)明專利]一種拉伸試樣標距測劃裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710569334.4 | 申請日: | 2017-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN109253902B | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 梁笑;劉仁東;林利;陸曉峰;徐鑫;蘇洪英;呂冬;丁庶煒;李春林;李蕭彤 | 申請(專利權(quán))人: | 鞍鋼股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N1/28 | 分類號: | G01N1/28 |
| 代理公司: | 鞍山嘉訊科技專利事務(wù)所(普通合伙) 21224 | 代理人: | 張群 |
| 地址: | 114000 *** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 拉伸 試樣 標距測劃 裝置 方法 | ||
1.一種拉伸試樣標距測劃裝置,其特征在于,包括基準架、左固定架、右固定架、縱向定位架、多個橫向定位塊及2個長螺栓;所述基準架為F形結(jié)構(gòu),由上部2個平行的橫桿及與橫桿垂直設(shè)置的基準定位桿組成,2條橫桿組成單側(cè)開放的第一滑槽;左固定架的上部外側(cè)卡設(shè)在第一滑槽中并可沿第一滑槽滑動,其上部內(nèi)側(cè)形成單側(cè)開放的第二滑槽;右固定架的上部外側(cè)卡設(shè)在第二滑槽中并可沿第二滑槽滑動,其上部內(nèi)側(cè)形成單側(cè)開放的第三滑槽;縱向定位架為L形結(jié)構(gòu),其上部橫桿卡設(shè)在第三滑槽內(nèi)并可沿第三滑槽滑動;第一滑槽、第二滑槽、第三滑槽的開口方向相同,且滑動方向一致,各滑槽的底部分別設(shè)鎖緊螺釘;左固定架、右固定架和縱向定位架的下部分別設(shè)左定位桿、右定位桿和縱向定位桿,該3個定位桿分別與基準定位桿平行設(shè)置;左定位桿、右定位桿上一一對應(yīng)地設(shè)有多個橫向定位塊,橫向定位塊能夠沿對應(yīng)定位桿滑動,同一定位桿上的橫向定位塊通過同一長螺栓串連后鎖緊固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種拉伸試樣標距測劃裝置,其特征在于,所述橫向定位塊一側(cè)設(shè)水平延伸桿,橫向定位塊安裝在左定位桿上時,水平延伸桿朝向基準定位桿一側(cè),橫向定位塊安裝在右定位桿上時,水平延伸桿朝向縱向定位桿一側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種拉伸試樣標距測劃裝置,其特征在于,所述基準定位桿、左定位桿、右定位桿和縱向定位桿的橫截面均為矩形。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種拉伸試樣標距測劃裝置,其特征在于,所述第一滑槽、第二滑槽、第三滑槽底部設(shè)置的鎖緊螺釘分別設(shè)于靠近對應(yīng)滑槽的開口一側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種拉伸試樣標距測劃裝置,其特征在于,所述橫向定位塊位于左、右固定架之下的底邊高度大于拉伸試樣的厚度。
6.基于權(quán)利要求1所述裝置的拉伸試樣標距測劃方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)在標距刻劃之前,將拉伸試樣清洗干凈,擺放在水平桌面上;
2)將具有相同標距要求的多個拉伸試樣依次排放在拉伸試樣標距測劃裝置內(nèi),并間隔置于各橫向定位塊之間;調(diào)整縱向定位桿的位置,使拉伸試樣的一端與基準定位桿的內(nèi)側(cè)貼緊對齊,另一端與縱向定位桿的內(nèi)側(cè)貼緊對齊,實現(xiàn)拉伸試樣的縱向定位;
3)縱向定位完成后,調(diào)整左固定架和右固定架的位置,使左定位桿位于標距刻劃位置的左側(cè),右定位桿位于標距刻劃位置的右側(cè);調(diào)整各橫向定位塊的位置,使拉伸試樣的兩側(cè)分別貼緊在相鄰橫向定位塊上,然后將左固定架和右固定架上的橫向定位塊分別用對應(yīng)長螺栓串在一起后鎖緊固定,實現(xiàn)拉伸試樣的橫向定位和固定;
4)最后將各滑槽底部的鎖緊螺釘擰緊固定,完成拉伸試樣的縱向固定;至此,拉伸試樣長度方向和寬度方向的自由度均被完全限制;
5)選擇刻劃工具根據(jù)同一標尺同時刻劃多個拉伸試樣的標距。
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