[發明專利]一種蒙脫石的質量檢測方法在審
| 申請號: | 201710566978.8 | 申請日: | 2017-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN107179327A | 公開(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發明(設計)人: | 高帆;龐國強;謝景濤;吳慶;楊華承;馮雋穎;董波;楊文玉 | 申請(專利權)人: | 四川維奧制藥有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/207 | 分類號: | G01N23/207 |
| 代理公司: | 北京精金石專利代理事務所(普通合伙)11470 | 代理人: | 劉曄 |
| 地址: | 611930 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 蒙脫石 質量 檢測 方法 | ||
1.一種蒙脫石的質量檢測方法,包括以下步驟:取蒙脫石樣品,于15-30℃時RH30-80%濕度的干燥器中干燥,取出,將載樣架樣品壓平,X射線衍射儀測試。
2.根據權利要求1所述的質量檢測方法,其特征在于,所述蒙脫石樣品,先滴加由多元醇和一元醇組成的的混合試劑,混勻后再進行干燥,干燥時間為5-20小時。
3.根據權利要求2所述的質量檢測方法,其特征在于,所述混合試劑中多元醇的含量為1-15wt%,一元醇的含量為1-15wt%。
4.根據權利要求3所述的質量檢測方法,其特征在于,所述混合試劑與蒙脫石樣品的質量比為:2-20:100。
5.根據權利要求1所述的質量檢測方法,其特征在于,所述X射線衍射儀的測試條件:X射線源為Co靶、Cu靶和Mo靶中的一種,波長為1.5406埃,管電壓35-45KV和管電流分別為35-45mA,掃描速度:0.3-0.8sec/step采樣間隔:0.02°(step),角度2~90°。
6.根據權利要求1-5任一項所述的質量檢測方法,其特征在于,所述檢測方法采用Rietveld與全譜擬合多相定量分析法進行計算蒙脫石及其雜質的含量。
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