[發(fā)明專利]工件批量檢測(cè)設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710556039.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107377415B | 公開(公告)日: | 2023-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林平源 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 原秀科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | B07C5/342 | 分類號(hào): | B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 215200 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 工件 批量 檢測(cè) 設(shè)備 | ||
1.一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,包括:沿導(dǎo)軌依次設(shè)置的檢測(cè)工位和出料工位,其特征在于,所述檢測(cè)工位上設(shè)置檢測(cè)光源,所述檢測(cè)光源正上方設(shè)置有檢測(cè)CCD,所述出料工位包括沿導(dǎo)軌軸向分布的正品工位和次品工位,所述正品工位和所述次品工位上均設(shè)置有一個(gè)第一漏孔板,所述漏孔板上設(shè)置有若干個(gè)漏孔,每個(gè)漏孔下部均連接一個(gè)承接袋;
一載件體安轉(zhuǎn)在所述導(dǎo)軌上并能夠沿導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)到檢測(cè)工位、正品工位和次品工位上,所述載件體包括第二漏孔板和位于所述第二漏孔板底部的抽拉板,所述抽拉板由透明材料制作,所述抽拉板與所述第二漏孔板疊合時(shí)能夠封堵所述第二漏孔板上的漏孔;
所述載件體位于所述檢測(cè)工位時(shí),所述載件體位于所述檢測(cè)光源和所述檢測(cè)CCD之間;所述載件體均位于所述第一漏孔板正上方。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,其特征在于:所述第二漏孔板位于第一漏孔板正上方時(shí),所述第二漏孔板上的漏孔和所述第一漏孔板上漏孔的位置一一上下對(duì)應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,其特征在于:所述第二漏孔板也由透明材料制作。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,其特征在于:所述承接袋均為筒形結(jié)構(gòu),筒形的所述承接袋上開口銜接所述第一漏孔板的漏孔,下開口通過夾子或扎繩封住。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,其特征在于:所述抽拉板由氣缸控制進(jìn)行抽拉動(dòng)作。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,其特征在于:所述檢測(cè)光源包括透明或半透明的面體,所述面體下方設(shè)置有燈體。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件批量檢測(cè)設(shè)備,其特征在于:所述導(dǎo)軌為相互平行的兩個(gè),兩個(gè)導(dǎo)軌之間存在間距,所述第一漏孔板和所述檢測(cè)光源均位于兩個(gè)導(dǎo)軌之間。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于原秀科技(蘇州)有限公司,未經(jīng)原秀科技(蘇州)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710556039.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





