[發明專利]工件批量檢測設備

有效

• 申請號: 201710556039.5
• 申請日: 2017-07-10
• 公開（公告）號: CN107377415B
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 林平源
• 申請（專利權）人: 原秀科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

本發明公開了一種工件批量檢測設備，包括：沿導軌依次設置的檢測工位和出料工位，檢測工位上設置檢測光源，所述檢測光源正上方設置有檢測CCD，所述出料工位包括沿導軌軸向分布的正品工位和次品工位，所述正品工位和所述次品工位上均設置有一個第一漏孔板，所述漏孔板上設置有若干個漏孔，每個漏孔下部均連接一個承接袋；一載件體安轉在所述導軌上并能夠沿導軌運動到檢測工位、正品工位和次品工位上，所述載件體包括第二漏孔板和位于所述第二漏孔板底部的抽拉板，所述抽拉板由透明材料制作，所述抽拉板與所述第二漏孔板疊合時能夠封堵所述第二漏孔板上的漏孔。

技術領域

本發明涉及一種物料檢測裝置，尤其涉及一種工件批量檢測設備。

背景技術

透光鍵帽，通常是在鍵帽上設置有個通孔，而在通孔內嵌入透明或半透明的材料。即使用時在鍵帽底部設置有光源，光源發光時光線可以從透明或半透明的材料處透過，鍵盤上部分鍵帽設置成透光鍵帽，便于使用者識別。

現有技術中需要針對透光鍵帽上透明或半透明材料處的透光性進行檢查，以確保鍵帽安裝到鍵盤前其透光性是良好的，不會出現透明或半透明材料處不透光或透光收到瑕疵的影響。

發明內容

本發明克服了現有技術的不足，提供一種工件批量檢測設備。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案為：一種工件批量檢測設備，包括：沿導軌依次設置的檢測工位和出料工位，所述檢測工位上設置檢測光源，所述檢測光源正上方設置有檢測CCD，所述出料工位包括沿導軌軸向分布的正品工位和次品工位，所述正品工位和所述次品工位上均設置有一個第一漏孔板，所述漏孔板上設置有若干個漏孔，每個漏孔下部均連接一個承接袋；

一載件體安轉在所述導軌上并能夠沿導軌運動到檢測工位、正品工位和次品工位上，所述載件體包括第二漏孔板和位于所述第二漏孔板底部的抽拉板，所述抽拉板由透明材料制作，所述抽拉板與所述第二漏孔板疊合時能夠封堵所述第二漏孔板上的漏孔。

本發明一個較佳實施例中，所述載件體位于所述檢測工位時，所述載件體位于所述檢測光源和所述檢測CCD之間。

本發明一個較佳實施例中，所述載件體位于所述正品工位或次品工位時，所述載件體均位于所述第一漏孔板正上方。

本發明一個較佳實施例中，所述第二漏孔板位于第一漏孔板正上方時，所述第二漏孔板上的漏孔和所述第一漏孔板上漏孔的位置一一上下對應。

本發明一個較佳實施例中，所述第二漏孔板也由透明材料制作。

本發明一個較佳實施例中，所述承接袋均為筒形結構，筒形的所述承接袋上開口銜接所述第一漏孔板的漏孔，下開口通過夾子或扎繩封住。

本發明一個較佳實施例中，所述抽拉板由氣缸控制進行抽拉動作。

本發明一個較佳實施例中，所述檢測光源包括透明或半透明的面體，所述面體下方設置有燈體。

本發明一個較佳實施例中，所述導軌為相互平行的兩個，兩個導軌之間存在間距，所述第一漏孔板和所述檢測光源均位于兩個導軌之間。

本發明解決了背景技術中存在的缺陷，本發明具備以下有益效果：

（1）由于每個鍵帽組包括若干個一起開模生產的不同結構的透光鍵帽，不同結構的鍵帽對應一個漏孔，每個漏孔對應一個承接袋，因此同一個承接袋接收到的鍵帽均為相同結構的鍵帽。先在檢測工位針對鍵帽進行檢測，然后通過檢測結果判斷載件體下一步運動到正品工位或次品工位，正品工位的布袋承接本批次全部為合格正品鍵帽的膠帽組；次品工位的布袋承接本批次至少有一個次品鍵帽的膠帽組。