[發(fā)明專利]具有可變鰭片間距的垂直傳輸FINFET裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710550344.3 | 申請日: | 2017-07-07 |
| 公開(公告)號: | CN107591400B | 公開(公告)日: | 2020-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 布蘭特·安德森;愛德華·J·諾瓦克 | 申請(專利權(quán))人: | 格羅方德半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號: | H01L27/088 | 分類號: | H01L27/088;H01L21/8234 |
| 代理公司: | 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽 |
| 地址: | 英屬開曼群*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 可變 間距 垂直 傳輸 finfet 裝置 | ||
本發(fā)明涉及具有可變鰭片間距的垂直傳輸FINFET裝置,其中,一種半導(dǎo)體裝置包括以局部可變的鰭片間距布置的多個垂直傳輸鰭式場效應(yīng)晶體管。在該裝置的第一區(qū)域內(nèi),多個第一鰭片以第一間距(d1)布置,且在該裝置的第二區(qū)域內(nèi),多個第二鰭片以小于該第一間距的第二間距(d2)布置。該多個第二鰭片共享合并的源、漏及柵區(qū),而該多個第一鰭片的源、漏及柵區(qū)未合并。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請通常涉及半導(dǎo)體裝置,尤其涉及垂直傳輸鰭式場效應(yīng)晶體管(vertical-transport fin field effect transistor;VT-FinFET)及其制造方法。
背景技術(shù)
完全耗盡裝置例如鰭式場效應(yīng)晶體管(FinFET)是能夠使下一代柵極長度縮小至14納米及以下的候選裝置。鰭式場效應(yīng)晶體管(FinFET)提供三維架構(gòu),其中,將晶體管溝道抬升于半導(dǎo)體襯底的表面上方,而不是將溝道設(shè)置于該表面或在該表面下方。抬升式溝道使柵極可包覆溝道的側(cè)面,以提供裝置的改進靜電控制。
FinFET的制造通常運用自對準制程,以通過使用選擇性蝕刻技術(shù)在襯底的表面上生產(chǎn)極薄的鰭片,例如10納米厚或更小。接著,沉積柵極結(jié)構(gòu)以接觸各鰭片的多個表面,從而形成多柵極架構(gòu)。不過,盡管該薄溝道支持裝置的魯棒控制,但其形狀限制裝置開啟時電流的流動。在這點上,通常平行布置多個鰭片,以提供較高的驅(qū)動強度。
垂直傳輸FET是源-漏電流沿襯底表面法線方向流動的裝置。在垂直傳輸FinFET裝置中,鰭片通過位于鰭片的相對端(也就是上下端)的源漏區(qū)定義溝道。該垂直傳輸場效應(yīng)晶體管的一個優(yōu)點是溝道長度不通過光刻定義,而是通過例如外延或?qū)映练e等方法定義,以支持精確的尺寸控制。另一個優(yōu)點是最大柵極長度不受晶體管密度或間距限制。
與垂直傳輸FET架構(gòu)相關(guān)聯(lián)的一個限制是低有效溝道寬度(Weff)。與其中可增加鰭片高度以提供額外的溝道剖面的傳統(tǒng)FinFET相比,在垂直傳輸結(jié)構(gòu)中增加鰭片尺寸或是不利地消耗額外的實體區(qū)域,或是增加源漏極之間的距離并因此增加電阻。相應(yīng)地,提供與現(xiàn)有電路設(shè)計兼容同時支持高驅(qū)動強度的魯棒垂直傳輸FinFET制程及相關(guān)結(jié)構(gòu)將是有利的。
發(fā)明內(nèi)容
依據(jù)本申請的實施例,一種垂直傳輸FinFET裝置包括局部可變的鰭片間距,也就是局部可變的鰭片周期性。具體地說,在該裝置的分立區(qū)域內(nèi)分別合并源、漏及溝道區(qū),以形成合并架構(gòu),其中,鰭片間距小于在未合并(隔離)結(jié)構(gòu)中可實現(xiàn)的鰭片間距。該更緊密的鰭片間距可有意義地改進邏輯電路密度、性能以及可制造性。而且,該更緊密的鰭片間距及伴隨的合并架構(gòu)改進相關(guān)聯(lián)的電路的驅(qū)動及電容,其尤其有利于各種電路(包括反相器電路)的操作。
依據(jù)各種實施例,在半導(dǎo)體襯底上形成半導(dǎo)體裝置。在該半導(dǎo)體襯底上以第一間距(d1)布置多個第一鰭片,并以第二間距(d2)布置多個第二鰭片,以使該第一間距與該第二間距之比(d1/d2)大于1。
在另外的示例實施例中,半導(dǎo)體裝置包括以15至30納米的間距在半導(dǎo)體襯底上布置的多個鰭片。源區(qū)在多個鰭片的相應(yīng)第一端與該多個鰭片共同電性接觸,且漏區(qū)在多個鰭片的相應(yīng)第二端與該多個鰭片共同電性接觸,從而在該源區(qū)及該漏區(qū)之間定義溝道區(qū)。在該溝道區(qū)的側(cè)壁上設(shè)置柵極介電層,以及設(shè)置位于該柵極介電層上方并通過該柵極介電層與該溝道區(qū)電性隔離的柵極導(dǎo)體層。
一種形成垂直傳輸半導(dǎo)體裝置的方法包括在半導(dǎo)體襯底上形成多個第一鰭片及第二鰭片,以使該多個第一鰭片以第一間距(d1)布置且該多個第二鰭片以第二間距(d2)布置,其中d1d2。形成在多個該第二鰭片的相應(yīng)第一端與該多個該第二鰭片電性接觸的合并源區(qū);以及形成在多個該第二鰭片的相應(yīng)第二端與該多個該第二鰭片電性接觸的合并漏區(qū)。該多個第二鰭片還包括定義于該合并源區(qū)及該合并漏區(qū)之間的溝道區(qū)。
附圖說明
下面有關(guān)本申請的具體實施例的詳細說明與下面的附圖結(jié)合閱讀時可被最好地理解,附圖中,類似的附圖標記表示類似的結(jié)構(gòu),且其中:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





