[發(fā)明專利]基于機(jī)器視覺的標(biāo)簽外觀檢測(cè)方法及終端設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710546278.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107492091B | 公開(公告)日: | 2020-09-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孔慶杰;孫旭光;陳智慧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東莞理工學(xué)院;精銳視覺智能科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 523808 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 機(jī)器 視覺 標(biāo)簽 外觀 檢測(cè) 方法 終端設(shè)備 | ||
本發(fā)明適用于標(biāo)簽外觀檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種基于機(jī)器視覺的標(biāo)簽外觀檢測(cè)方法及終端設(shè)備,包括:采集待檢測(cè)標(biāo)簽圖像;對(duì)所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量;根據(jù)所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像的第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量,以及標(biāo)準(zhǔn)圖像模板的第二特征點(diǎn)和第二特征描述向量,將所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行匹配和差值比對(duì),得到差值圖像;所述差值比對(duì)為像素差值比對(duì);在所述差值圖像的像素值大于預(yù)設(shè)像素值時(shí),判定所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像存在缺陷。本發(fā)明能夠提高標(biāo)簽外觀檢測(cè)效率,降低錯(cuò)誤率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于標(biāo)簽外觀檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于機(jī)器視覺的標(biāo)簽外觀檢測(cè)方法及終端設(shè)備。
背景技術(shù)
市場(chǎng)上出售的飲料瓶和藥瓶等商品瓶身上通常都貼有標(biāo)簽,目前,瓶身貼上標(biāo)簽后通常由人工對(duì)標(biāo)簽外觀進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè),如檢測(cè)標(biāo)簽是否存在劃痕、污跡、褶皺、缺角等缺陷,這種方法檢測(cè)效率很低。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于機(jī)器視覺的標(biāo)簽外觀檢測(cè)方法及終端設(shè)備,以解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)瓶身標(biāo)簽的外觀質(zhì)量檢測(cè)效率低的問題。
本發(fā)明實(shí)施例的第一方面提供了一種基于機(jī)器視覺的標(biāo)簽外觀檢測(cè)方法,包括:
采集待檢測(cè)標(biāo)簽圖像;
對(duì)所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量;
根據(jù)所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像的第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量,以及標(biāo)準(zhǔn)圖像模板的第二特征點(diǎn)和第二特征描述向量,將所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行匹配和差值比對(duì),得到差值圖像;所述差值比對(duì)為像素差值比對(duì);
所述差值圖像的像素值大于預(yù)設(shè)像素值時(shí),判定所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像存在缺陷。
優(yōu)選的,所述采集待檢測(cè)標(biāo)簽圖像之前,所述方法還包括:
對(duì)標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第二特征點(diǎn)和第二特征描述向量。
優(yōu)選的,所述對(duì)標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第二特征點(diǎn)和第二特征描述向量,具體為:
將所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板分成N部分,分別對(duì)每部分進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第二特征點(diǎn)和第二特征描述向量;
所述對(duì)所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量,具體為:
將所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像分成N部分,分別對(duì)每部分進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),得到第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量;
所述將所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行匹配和差值比對(duì),得到差值圖像,具體為:
將所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像的每一部分分別與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板的對(duì)應(yīng)部分進(jìn)行匹配和差值比對(duì),得到差值圖像;
所述N為大于1的整數(shù)。
優(yōu)選的,所述根據(jù)所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像的第一特征點(diǎn)和第一特征描述向量,以及標(biāo)準(zhǔn)圖像模板的第二特征點(diǎn)和第二特征描述向量,將所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行匹配和差值比對(duì),得到差值圖像,具體包括:
將所述第一特征點(diǎn)和所述第一特征描述向量分別與所述第二特征點(diǎn)和所述第二特征描述向量進(jìn)行匹配,并生成匹配誤差值;
若所述匹配誤差值大于預(yù)設(shè)誤差值,則去除所述匹配點(diǎn),再通過隨機(jī)抽樣一致性算法去除錯(cuò)誤的匹配點(diǎn),得到剩余匹配點(diǎn);
通過剩余匹配點(diǎn)生成仿射變換矩陣;所述仿射變換矩陣為所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板與所述待檢測(cè)標(biāo)簽圖像之間的轉(zhuǎn)換矩陣;
通過所述仿射變換矩陣對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)圖像模板進(jìn)行變換,得到變換標(biāo)準(zhǔn)圖像模板;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東莞理工學(xué)院;精銳視覺智能科技(深圳)有限公司,未經(jīng)東莞理工學(xué)院;精銳視覺智能科技(深圳)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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