[發(fā)明專利]一種QLED器件的制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710542313.3 | 申請日: | 2017-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN109216568A | 公開(公告)日: | 2019-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王宇;曹蔚然;錢磊 | 申請(專利權(quán))人: | TCL集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/50 | 分類號: | H01L51/50;H01L51/56 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;劉文求 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光層 量子點 高壓處理 傳輸層 制備 載流子 致密 非輻射復(fù)合 結(jié)晶化作用 載流子傳輸 復(fù)合發(fā)光 高壓作用 納米材料 注入效率 功能層 薄膜 | ||
1.一種QLED器件的制備方法,其特征在于,包括當(dāng)量子點發(fā)光層完成沉積后,在惰性環(huán)境下,對所述量子點發(fā)光層進行高壓處理的步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的QLED器件的制備方法,其特征在于,還包括當(dāng)功能傳輸層完成沉積后,在惰性環(huán)境下,對所述功能傳輸層進行高壓處理的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的QLED 器件的制備方法,其特征在于,所述功能傳輸層為空穴傳輸層和/或電子傳輸層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的QLED器件的制備方法,其特征在于,所述高壓處理的壓力為1-10MPa,時間為5-120min。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的QLED器件的制備方法,其特征在于,所述高壓處理的過程包括如下步驟:
(1)當(dāng)量子點發(fā)光層或功能傳輸層在器件上完成沉積后,將器件固定在一高壓處理裝置的密閉容器中,高壓處理裝置還包括進氣閥和出氣閥,通過打開進氣閥和出氣閥,將惰性氣體通入密閉容器并將密閉容器內(nèi)的空氣清除;
(2)關(guān)閉出氣閥,繼續(xù)通入惰性氣體直至密閉容器內(nèi)的壓力達到預(yù)定壓力,高壓處理預(yù)定時間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的QLED器件的制備方法,其特征在于,所述步驟(2)完成后,打開出氣閥,并調(diào)節(jié)進氣閥和出氣閥壓力,使密閉容器形成流動的惰性氣體,清除器件表面吸附的惰性氣體。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的QLED器件的制備方法,其特征在于,還包括所述量子點發(fā)光層或功能傳輸層經(jīng)高壓處理后,進行退火處理的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的QLED 器件的制備方法,其特征在于,所述量子點發(fā)光層經(jīng)高壓處理后,退火處理的退火溫度為60℃-80℃,時間為10 min-30min。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的QLED器件的制備方法,其特征在于,所述功能傳輸層經(jīng)高壓處理后,退火處理的退火溫度為120℃-180℃,時間為10 min-30min。
10.一種QLED器件,其特征在于,由權(quán)利要求1至9任意一項所述制備方法制備得到。
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