[發(fā)明專(zhuān)利]垂直型存儲(chǔ)器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710541567.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107689392B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-01-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 南泌旭;金成吉;崔至薰;S.金;安宰永;金泓奭 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/10 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/10;H01L29/423;H01L29/792 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 屈玉華 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 垂直 存儲(chǔ) 器件 | ||
一種垂直型存儲(chǔ)器件可以包括:在襯底上垂直地延伸的溝道層;在襯底上在溝道層的一側(cè)的地選擇晶體管,地選擇晶體管包括第一柵絕緣部分和第一替代柵電極;在第一替代柵電極上的蝕刻控制層;以及在蝕刻控制層上的存儲(chǔ)單元,存儲(chǔ)單元包括第二柵絕緣部分和第二替代柵電極。蝕刻控制層可以包括用碳、N型雜質(zhì)或P型雜質(zhì)摻雜的多晶硅層,或者可以包括包含碳、N型雜質(zhì)或P型雜質(zhì)的多晶硅氧化物層。第一替代柵電極的厚度可以與第二替代柵電極的厚度相同,或者第一替代柵電極可以比第二替代柵電極更厚。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及存儲(chǔ)器件,且更具體地,涉及垂直型存儲(chǔ)器件。
背景技術(shù)
電子產(chǎn)品在尺寸上正逐漸減小,但仍被期望執(zhí)行高容量數(shù)據(jù)處理。因此,期望增加這樣的電子產(chǎn)品中使用的存儲(chǔ)器件的集成度。已經(jīng)提出了提高存儲(chǔ)器件的集成度的一種可行方法,在該方法中使用了具有垂直晶體管結(jié)構(gòu)而非平面晶體管結(jié)構(gòu)的垂直型存儲(chǔ)器件。
發(fā)明內(nèi)容
本公開(kāi)可以提供一種可以更可靠且更易制造的垂直型存儲(chǔ)器件。
根據(jù)本公開(kāi)的一方面,提供一種垂直型存儲(chǔ)器件,其包括:在襯底上垂直地延伸的溝道層;在襯底上在溝道層的一側(cè)的地選擇晶體管,地選擇晶體管包括第一柵絕緣部分和第一替代柵電極;在第一替代柵電極上的蝕刻控制層;以及在蝕刻控制層上的存儲(chǔ)單元,存儲(chǔ)單元包括第二柵絕緣部分和第二替代柵電極。
根據(jù)本公開(kāi)的另一方面,提供一種垂直型存儲(chǔ)器件,其包括:在襯底上垂直地延伸的溝道層;在溝道層的一側(cè)的柵絕緣層,柵絕緣層在襯底上垂直地延伸;在柵絕緣層的一側(cè)的蝕刻控制層,蝕刻控制層相對(duì)于襯底水平地延伸并且相對(duì)于襯底由第一開(kāi)口垂直地分開(kāi);在蝕刻控制層下方的第一開(kāi)口中的第一替代柵電極;多個(gè)層間絕緣層,相對(duì)于襯底垂直地堆疊在蝕刻控制層上并由于多個(gè)第二開(kāi)口而彼此分開(kāi);以及在所述多個(gè)第二開(kāi)口的每個(gè)中的第二替代柵電極。
根據(jù)本公開(kāi)的另一方面,提供一種垂直型存儲(chǔ)器件。該垂直型存儲(chǔ)器件可以包括在襯底上垂直地延伸的溝道層以及在襯底上的墊絕緣材料層。蝕刻控制層可以在墊絕緣材料層上方。該垂直型存儲(chǔ)器件可以包括在溝道層的一側(cè)的柵絕緣層,柵絕緣層可以在蝕刻控制層的壁上垂直地延伸并水平地延伸到蝕刻控制層與墊絕緣材料層之間的凹陷中。該垂直型存儲(chǔ)器件可以包括在蝕刻控制層與墊絕緣材料層之間的柵絕緣層的壁上的第一替代柵電極。
附圖說(shuō)明
本公開(kāi)的方面將從以下結(jié)合附圖的詳細(xì)描述中被更清楚地理解,附圖中:
圖1是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件的電路圖;
圖2A和2B是根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件的主要部分的剖面圖;
圖3A和3B是根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件的主要部分的剖面圖;
圖4至19是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件及其制造方法的圖;
圖20和21是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件及其制造方法的剖面圖;
圖22是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件及其制造方法的剖面圖;
圖23是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件及其制造方法的剖面圖;以及
圖24是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件的示意框圖。
具體實(shí)施方式
在下文中,將參照附圖詳細(xì)描述本公開(kāi)的示例性實(shí)施方式。在此使用的單數(shù)形式“一”和“該”也旨在包括復(fù)數(shù)形式,除非上下文清楚地另有所指。
圖1是用于描述根據(jù)本公開(kāi)的方面的垂直型存儲(chǔ)器件1100的電路圖。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于三星電子株式會(huì)社,未經(jīng)三星電子株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710541567.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 上一篇:薄膜晶體管基板及其制備方法
- 下一篇:一種半導(dǎo)體器件及其制造方法
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
- 動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)管理裝置及方法
- 一種存儲(chǔ)方法、服務(wù)器及存儲(chǔ)控制器
- 一種基于存儲(chǔ)系統(tǒng)的控制方法及裝置
- 一種信息的存儲(chǔ)控制方法
- 一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法及裝置
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制方法及裝置
- 存儲(chǔ)設(shè)備、存儲(chǔ)系統(tǒng)及存儲(chǔ)方法
- 物料存儲(chǔ)方法及系統(tǒng)
- 基于雙芯智能電表的數(shù)據(jù)分類(lèi)存儲(chǔ)方法和裝置





