[發明專利]一種免疫層析試條定量檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 201710535471.6
• 申請日: 2017-07-03
• 公開（公告）號: CN107167594B
• 公開（公告）日: 2019-12-20
• 發明（設計）人: 劉軍濤;蔡新霞;孔壯;徐聲偉;樊艷;王楊;羅金平
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01N33/558
• 分類號: G01N33/558;G06T7/00;G06T7/12;G06T7/136;G06T7/194;G06T7/90
• 代理公司: 11021 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 方丁一

1.一種免疫層析試條的定量檢測裝置，所述免疫層析試條用于檢測待測物的濃度，其中，包括：

圖像拍攝單元，用于拍攝一個檢測卡和放置在該檢測卡上的免疫層析試條，得到檢測卡和位于其上的免疫層析試條的整體圖像；

圖像處理單元，用于對所述整體圖像進行校正和分割，獲得免疫層析試條的測試圖像；以及

分析處理單元，用于對所述測試圖像進行分析處理，獲得所述待測物濃度，

其中，所述檢測卡具有黑框邊界、以及位于黑框邊界內的試條放置區，所述黑框邊界用于限定拍照范圍，所述試條放置區用于放置反應完全后的免疫層析試條；

所述免疫層析試條包括測試區和非測試區，所述測試區至少包括檢測區、空白區及質控區，所述檢測區用于檢測待測物，所述質控區用于表示該免疫層析試條是否損壞，所述空白區位于所述檢測區與所述質控區之間，

所述分析處理單元用于：

從測試圖像空白區、質控區、檢測區分別提取各區圖像數據D_Bo、D_Co以及D_To；

對所述區圖像數據D_Bo、D_Co以及D_To進行亮度補償；

基于經過補償后的空白區、質控區、檢測區的圖像數據D’_Bo、D’_Co以及D’_To獲得各區亮度值I_Bo，I_Co，I_To；

計算以測試圖像空白區為背景的和檢測區和質控區的相對亮度值的比值：Result＝L_To/L_Co＝(I_To-I_Bo)/(I_Co-I_Bo)；以及

基于所述比值與存儲在所述的定量檢測裝置中的函數獲得待測物濃度，所述函數為所述比值與待測物濃度相關的函數，

其中所述對所述區圖像數據D_Bo、D_Co以及D_To進行亮度補償通過測試圖像空白區、質控區及檢測區的圖像數據D_Bo、D_Co以及D_To分別與補償矩陣D相乘獲得，補償矩陣其中Ro，Go，Bo分別為測試圖像中空白區的三原色分量，Ra，Ga和Ba為存儲在所述定量檢測裝置中的空白區三原色分量的參考值，其采用若干所述免疫層析試條檢測不同已知濃度待測物后，采用掃描儀獲取各免疫層析試條圖像，對圖像的空白區的三原色求均值獲得。

2.根據權利要求1所述的定量檢測裝置，其中，所述圖像處理單元用于：

對拍攝的限定黑框邊界拍照范圍的整體圖像變換為整體灰度圖像；

計算整體灰度圖像中試條的長度方向邊界，沿所述長度方向邊界切割所述整體灰度圖像，保留長度方向邊界內的圖像作為第一圖像；

計算所述長度方向邊界與黑框長度方向的夾角，根據所述夾角校正第一圖像獲得第一校正圖像，使得第一校正圖像的長度方向位于第一方向，所述第一方向為水平方向或垂直方向；

對所述第一校正圖像進行沿第二方向分界，所述第二方向垂直于第一方向，獲得試條的測試區與非測試區之間的分界線及測試區中空白區、質控區以及檢測區之間的分界線，沿測試區與非測試區的分界線對第一校正圖像進行分割，保留測試區圖像作為灰度測試圖像；

在所述整體圖像上截取與所述灰度測試圖像對應的位置的圖像作為測試圖像。

3.根據權利要求1所述的定量檢測裝置，其中，所述相關函數由以下步驟獲得：

選取若干不同已知濃度的待測物，利用若干免疫層析試條分別檢測所述已知濃度的待測物；

對于每一完全反應的免疫層析試條獲得一測試圖像，對每一測試圖像進行分析處理獲得所述比值；

基于所述獲得的若干個比值及已知濃度擬合出比值與帶測物濃度相關的函數。