[發(fā)明專利]一種大豆物理檢測系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710530939.2 | 申請日: | 2017-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN107340039A | 公開(公告)日: | 2017-11-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄔元娟;滕晶;萬春燕;王峰恩;李騰;王文正 | 申請(專利權(quán))人: | 山東省農(nóng)業(yè)科學(xué)院農(nóng)業(yè)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)與檢測技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G01G11/00 | 分類號: | G01G11/00;G01G11/02;G01N5/00;B07C5/18 |
| 代理公司: | 濟(jì)南誠智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司37105 | 代理人: | 侯德玉 |
| 地址: | 250100 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 大豆 物理 檢測 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種大豆物理檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
大豆作為一種經(jīng)濟(jì)作物,在我國有著廣泛的種植面積,大豆的質(zhì)量決定了其價(jià)格與用途,因此質(zhì)量的正確斷定十分重要。大豆質(zhì)量的物理檢驗(yàn)指標(biāo)主要有完整粒率、雜質(zhì)含量、損傷粒率、熱損傷粒率和色澤等,檢驗(yàn)人員在檢驗(yàn)大豆時(shí),主要是依據(jù)GB/5494的規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)。在檢驗(yàn)時(shí),為確定大豆樣品的完整粒率、雜質(zhì)含量、損傷粒率和熱損傷粒率,需要檢驗(yàn)人員對上述指標(biāo)所涉及到的雜質(zhì)及不合格大豆種類進(jìn)行依次分揀及稱重,然后進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),并通過計(jì)算得出相應(yīng)的大豆指標(biāo),在上述檢測過程中,檢測人員需要進(jìn)行多次稱重操作,導(dǎo)致檢驗(yàn)效率低下,且在長時(shí)間作業(yè)下,給檢測人員帶來的勞動強(qiáng)度也大,容易導(dǎo)致后期檢測人員稱重讀數(shù)存在較大誤差,從而影響大豆的質(zhì)量標(biāo)定。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種大豆物理檢測系統(tǒng),利用本系統(tǒng)進(jìn)行大豆抽樣檢測時(shí),系統(tǒng)能夠自動實(shí)現(xiàn)大豆內(nèi)被揀出的雜質(zhì)及相關(guān)不合格豆粒的稱重,并通過統(tǒng)計(jì)主機(jī)實(shí)現(xiàn)各項(xiàng)指標(biāo)的自動計(jì)算,不僅提高了大豆檢測效率,同時(shí),也降低了檢測勞動強(qiáng)度。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是:一種大豆物理檢測系統(tǒng),包括支撐平臺、電動篩選機(jī)、輸送帶、樣品分析裝置、質(zhì)量統(tǒng)計(jì)裝置和自動稱重裝置,所述輸送帶通過輸送帶支架設(shè)置在所述支撐平臺一側(cè),所述電動篩選機(jī)設(shè)置在所述支撐平臺上,且位于所述輸送帶前方,在所述支撐平臺上還設(shè)置一位于所述電動篩選機(jī)前方的第一雜質(zhì)漏孔;
所述樣品分析裝置包括觀察箱、分析盤和鑷子,所述觀察箱為一前側(cè)和底部都沒有側(cè)板的方形箱體,所述觀察箱設(shè)置在所述支撐平臺上,且位于所述輸送帶右側(cè),在所述觀察箱的頂板底平面上設(shè)置有檢測光源,在所述支撐平臺上還設(shè)置有位于所述觀察箱前方的第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔;
所述質(zhì)量統(tǒng)計(jì)裝置設(shè)置在所述支撐平臺上,且位于所述觀察箱右側(cè),所述質(zhì)量統(tǒng)計(jì)裝置包括統(tǒng)計(jì)主機(jī)、鍵盤和鼠標(biāo),在所述統(tǒng)計(jì)主機(jī)上設(shè)置一顯示屏,所述鍵盤和鼠標(biāo)與所述統(tǒng)計(jì)主機(jī)相連接,統(tǒng)計(jì)主機(jī)控制輸送帶的開啟與關(guān)閉;
在所述第一雜質(zhì)漏孔、第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔的下方均相對應(yīng)設(shè)置一所述自動稱重裝置,在所述輸送帶支架的右側(cè)設(shè)置一所述自動稱重裝置,所述自動稱重裝置包括稱重斗和稱重傳感器,所述稱重傳感器的稱重端與所述稱重斗的一側(cè)壁相連接,在所述稱重斗的下部設(shè)置一前端與所述稱重斗的內(nèi)部相吻合的閘板,所述閘板的后端與一電動伸縮桿的活動端頭相連接,所述電動伸縮桿通過一支撐板固定在所述稱重斗外側(cè),所述稱重傳感器、電動伸縮桿與所述統(tǒng)計(jì)主機(jī)相對應(yīng)連接。
優(yōu)選地,該系統(tǒng)還包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒,所述第一收集盒用于收集位于第一雜質(zhì)漏孔下方的稱重斗內(nèi)放出的雜質(zhì);所述第二收集盒用于收集位于所述第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔下方相對應(yīng)的稱重斗內(nèi)放出的雜質(zhì);所述第三收集盒設(shè)置在所述支撐平臺上,且位于所述輸送帶左側(cè)下方。
進(jìn)一步地,在所述分析盤上設(shè)置一分隔板,所述分隔板由三個(gè)豎板構(gòu)成,三個(gè)所述豎板的末端相互連接在一起,且相鄰的兩個(gè)豎板之間的夾角為120°,在所述分析盤的外邊緣上設(shè)置有與所述豎板的前端相對應(yīng)的卡槽。
進(jìn)一步地,在所述支撐平臺上設(shè)置一位于所述觀察箱內(nèi)的分析盤固定槽。
進(jìn)一步地,在所述支撐平臺的下底平面上設(shè)置一與所述第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔相配合的第一擋板。
優(yōu)選地,在所述第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔的一側(cè)分別設(shè)置一位于所述支撐平臺上的標(biāo)簽。
優(yōu)選地,在所述輸送帶的兩側(cè)各設(shè)置一第二擋板。
優(yōu)選地,在所述鑷子的兩個(gè)鑷頭的內(nèi)側(cè)均設(shè)置一橡皮墊。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于山東省農(nóng)業(yè)科學(xué)院農(nóng)業(yè)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)與檢測技術(shù)研究所,未經(jīng)山東省農(nóng)業(yè)科學(xué)院農(nóng)業(yè)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)與檢測技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710530939.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





