[發(fā)明專利]一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710530939.2
• 申請(qǐng)日: 2017-07-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107340039A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-11-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄔元娟;滕晶;萬(wàn)春燕;王峰恩;李騰;王文正
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 山東省農(nóng)業(yè)科學(xué)院農(nóng)業(yè)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)與檢測(cè)技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G01G11/00
• 分類號(hào): G01G11/00;G01G11/02;G01N5/00;B07C5/18
• 代理公司: 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司37105
• 代理人: 侯德玉

1.一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，包括支撐平臺(tái)和電動(dòng)篩選機(jī)，其特征是，該檢測(cè)系統(tǒng)還包括輸送帶、樣品分析裝置、質(zhì)量統(tǒng)計(jì)裝置和自動(dòng)稱重裝置，所述輸送帶通過(guò)輸送帶支架設(shè)置在所述支撐平臺(tái)一側(cè)，所述電動(dòng)篩選機(jī)設(shè)置在所述支撐平臺(tái)上，且位于所述輸送帶前方，在所述支撐平臺(tái)上還設(shè)置一位于所述電動(dòng)篩選機(jī)前方的第一雜質(zhì)漏孔；

所述樣品分析裝置包括觀察箱、分析盤和鑷子，所述觀察箱為一前側(cè)和底部都沒(méi)有側(cè)板的方形箱體，所述觀察箱設(shè)置在所述支撐平臺(tái)上，且位于所述輸送帶右側(cè)，在所述觀察箱的頂板底平面上設(shè)置有檢測(cè)光源，在所述支撐平臺(tái)上還設(shè)置有位于所述觀察箱前方的第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔；

所述質(zhì)量統(tǒng)計(jì)裝置設(shè)置在所述支撐平臺(tái)上，且位于所述觀察箱右側(cè)，所述質(zhì)量統(tǒng)計(jì)裝置包括統(tǒng)計(jì)主機(jī)、鍵盤和鼠標(biāo)，在所述統(tǒng)計(jì)主機(jī)上設(shè)置一顯示屏，所述鍵盤和鼠標(biāo)與所述統(tǒng)計(jì)主機(jī)相連接，統(tǒng)計(jì)主機(jī)控制輸送帶的開(kāi)啟與關(guān)閉；

在所述第一雜質(zhì)漏孔、第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔的下方均相對(duì)應(yīng)設(shè)置一所述自動(dòng)稱重裝置，在所述輸送帶支架的右側(cè)設(shè)置一所述自動(dòng)稱重裝置，所述自動(dòng)稱重裝置包括稱重斗和稱重傳感器，所述稱重傳感器的稱重端與所述稱重斗的一側(cè)壁相連接，在所述稱重斗的下部設(shè)置一前端與所述稱重斗的內(nèi)部相吻合的閘板，所述閘板的后端與一電動(dòng)伸縮桿的活動(dòng)端頭相連接，所述電動(dòng)伸縮桿通過(guò)一支撐板固定在所述稱重斗外側(cè)，所述稱重傳感器、電動(dòng)伸縮桿與所述統(tǒng)計(jì)主機(jī)相對(duì)應(yīng)連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，該系統(tǒng)還包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一雜質(zhì)漏孔下方的稱重斗內(nèi)放出的雜質(zhì)；所述第二收集盒用于收集位于所述第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔下方相對(duì)應(yīng)的稱重斗內(nèi)放出的雜質(zhì)；所述第三收集盒設(shè)置在所述支撐平臺(tái)上，且位于所述輸送帶左側(cè)下方。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，在所述分析盤上設(shè)置一分隔板，所述分隔板由三個(gè)豎板構(gòu)成，三個(gè)所述豎板的末端相互連接在一起，且相鄰的兩個(gè)豎板之間的夾角為120°，在所述分析盤的外邊緣上設(shè)置有與所述豎板的前端相對(duì)應(yīng)的卡槽。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，在所述支撐平臺(tái)上設(shè)置一位于所述觀察箱內(nèi)的分析盤固定槽。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，在所述支撐平臺(tái)的下底平面上設(shè)置一與所述第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔相配合的第一擋板。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，在所述第二雜質(zhì)漏孔、第三雜質(zhì)漏孔和第四雜質(zhì)漏孔的一側(cè)分別設(shè)置一位于所述支撐平臺(tái)上的標(biāo)簽。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，在所述輸送帶的兩側(cè)各設(shè)置一第二擋板。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大豆物理檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是，在所述鑷子的兩個(gè)鑷頭的內(nèi)側(cè)均設(shè)置一橡皮墊。