[發(fā)明專利]內(nèi)嵌式觸摸屏測試電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710524276.3 | 申請日： | 2017-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN107230443B | 公開（公告）日： | 2019-10-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 黃耀立;賀興龍 | 申請（專利權(quán)）人： | 武漢華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黃威 |
| 地址： | 430079 湖北省武漢市*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 觸控電極 短路 掃描電路 測試信號輸出端 測試電路 測試信號 信號線 內(nèi)嵌式觸摸屏 第二信號 觸控屏 反饋端 內(nèi)嵌式 輸入端 顯示區(qū) 線連接 級聯(lián) | ||
本發(fā)明提供一種內(nèi)嵌式觸控屏測試電路，包括：級聯(lián)的多個掃描電路；所述掃描電路至少包括：一測試信號輸入端，一測試信號輸出端，通過第一信號線對應(yīng)連接一所述觸控電極，用以將測試信號輸入至相應(yīng)的所述觸控電極；以及一短路反饋端，通過第二信號線連接上一級的所述掃描電路的測試信號輸出端所連接的所述觸控電極；有益效果：觸控電極與其他觸控電極短路后，短路觸控電極連接的信號線，與被短路觸控電極連接的信號線以及相關(guān)掃描電路形成回路，進(jìn)而拉低短路觸控電極的電壓，使短路觸控電極對應(yīng)的顯示區(qū)亮度暗于其他區(qū)域，從而可區(qū)分出短路觸控電極的位置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種內(nèi)嵌式觸摸屏測試電路。
背景技術(shù)
內(nèi)嵌式觸摸屏在壓合驅(qū)動芯片以及柔性電路板之前，會對觸摸屏進(jìn)行線路通路短路測試，以防止線路有問題的觸摸屏被壓合驅(qū)動芯片及柔性電路板，從而造成物料浪費。
如圖1所示，內(nèi)嵌式觸摸屏包括觸控陣列、及位于觸控陣列上部的顯示陣列(圖中未示出)，觸控陣列形成與陣列基板101上，顯示陣列包括若干垂直相交的掃描線與數(shù)據(jù)線，掃描線與數(shù)據(jù)線形成若干像素單元。
現(xiàn)有的觸摸屏觸控線路測試，采用類似棋盤格的測試方法，面板中的觸控陣列包括若干方塊形的觸控電極每一個觸控電極通過一條金屬線連接一個薄膜晶體管104；為了方便說明,將各觸控電極分為奇型觸控電極102與偶型觸控電極103，奇型觸控電極102與偶型觸控電極103呈棋盤格方式排列；其中，各觸控電極與相對應(yīng)的薄膜晶體管104的漏極連接，各觸控電極對應(yīng)連接的薄膜晶體管104的柵極連接SW(控制信號線)，各偶型觸控電極103對應(yīng)連接的薄膜晶體管104的源極連接TP1(第一測試信號線)，各奇型觸控電極102對應(yīng)連接的薄膜晶體管104的源極連接TP2(第二測試信號線)。
測試時，SW信號線給高電平，使SW信號線控制的薄膜晶體管104導(dǎo)通；TP1信號線和TP2信號線分別給不同電壓，例如，TP1給0V電壓，TP2給±5V電壓；數(shù)據(jù)線全部給0V電壓；由于觸控陣列的觸控電極是顯示陣列的公共電極，當(dāng)偶型觸控電極103和奇型觸控電極102的電壓不一樣時，則偶型觸控電極103和奇型觸控電極102對應(yīng)的區(qū)域顯示亮度會有差異。正常的顯示亮度差異是奇型觸控電極102對應(yīng)的區(qū)域比較亮(TP2電壓高)，偶型觸控電極103對應(yīng)的區(qū)域比較暗(TP1電壓低)；從而通過判斷顯示亮度差異是否正常來判斷觸控電極是否正常導(dǎo)通。
但是，現(xiàn)有技術(shù)的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測試方法，當(dāng)偶型觸控電極103和偶型觸控電極103發(fā)生短路時，無法被檢測出，同樣的奇型觸控電極102和奇型觸控電極102之間發(fā)生短路也無法被測出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種內(nèi)嵌式觸摸屏測試電路，能夠檢測出觸控電極的信號線之間的短路缺陷，以解決現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控屏的觸控線路測試方法，當(dāng)偶型觸控電極和偶型觸控電極發(fā)生短路，或者奇型觸控電極和奇型觸控電極之間發(fā)生短路，無法被檢測出；進(jìn)而增加了觸控屏存在觸控缺陷的風(fēng)險的技術(shù)問題。
為解決上述問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下：
本發(fā)明提供一種內(nèi)嵌式觸控屏測試電路，所述測試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列連接顯示陣列；
所述測試電路包括：級聯(lián)的多個掃描電路，各級所述掃描電路對應(yīng)連接一所述觸控電極；
所述掃描電路至少包括：
一測試信號輸入端，用以接入測試信號源；
一測試信號輸出端，通過第一信號線對應(yīng)連接一所述觸控電極，用以將測試信號輸入至相應(yīng)的所述觸控電極；以及：
一短路反饋端，通過第二信號線連接上一級的所述掃描電路的測試信號輸出端所連接的所述觸控電極；
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