[發明專利]內嵌式觸摸屏測試電路

有效

• 申請號: 201710524276.3
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN107230443B
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發明（設計）人: 黃耀立;賀興龍
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/02
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

1.內嵌式觸控屏測試電路，所述測試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列連接顯示陣列；

所述測試電路包括：級聯的多個掃描電路，各級所述掃描電路對應連接一所述觸控電極；

所述掃描電路至少包括：

一測試信號輸入端，用以接入測試信號源；

一測試信號輸出端，通過第一信號線對應連接一所述觸控電極，用以將測試信號輸入至相應的所述觸控電極；

其特征在于，所述測試電路還包括一短路反饋端，通過第二信號線連接上一級的所述掃描電路的測試信號輸出端所連接的所述觸控電極；

當本級的所述掃描電路的測試信號輸出端連接的所述觸控電極，與上一級的所述掃描電路的測試信號輸出端連接的所述觸控電極之間短路，則所述第一信號線、所述第二信號線以及本級的所述掃描電路之間形成回路，使得本級的所述掃描電路的測試信號輸出端連接的所述觸控電極的電壓值降低，對應的顯示區的亮度較暗。

2.根據權利要求1所述的內嵌式觸控屏測試電路，其特征在于，各所述掃描電路的測試信號輸出端，依序循環向對應的所述觸控電極通入高電平信號，當一所述觸控電極通入高電平信號時，其余各所述觸控電極通入低電平信號。

3.根據權利要求2所述的內嵌式觸控屏測試電路，其特征在于，所述顯示陣列包括若干掃描線及若干數據線，所述掃描線與所述數據線垂直相交形成若干像素單元，每一所述像素單元包括一像素電極以及一薄膜晶體管，所述薄膜晶體管包括有柵極、源極以及漏極，所述薄膜晶體管的柵極連接相應的所述掃描線，所述薄膜晶體管的漏極連接相應的所述像素電極，所述薄膜晶體管的源極連接相應的所述數據線；其中，

在進行觸控電極通路測試時，所述數據線向所述像素單元通入0V電壓。

4.根據權利要求3所述的內嵌式觸控屏測試電路，其特征在于，所述掃描電路的測試信號輸出端輸出高電平信號或低電平信號，所述高電平信號與所述數據線輸出信號的壓差，與所述低電平信號與所述數據線輸出信號的壓差的絕對值相等。

5.內嵌式觸控屏測試電路，所述測試電路連接有觸控電極陣列，所述觸控電極陣列連接顯示陣列；

所述測試電路包括：級聯的多個掃描電路，各級所述掃描電路對應連接一行所述觸控電極；

所述掃描電路至少包括：

一測試信號輸入端，用以接入測試信號源；

一測試信號輸出端，所述測試信號輸出端連接一第一信號線，位于同一行的各所述觸控電極分別通過一第二信號線連接于所述第一信號線；用以將測試信號輸入至相應的所述觸控電極；

其特征在于，本級的所述掃描電路連接的一所述觸控電極為第一觸控電極，上一級的所述掃描電路連接的一所述觸控電極為第二觸控電極，當所述第一觸控電極與所述第二觸控電極發生短路，則所述第一觸控電極連接的所述第二信號線、所述第二觸控電極連接的所述第二信號線、上一級的所述掃描電路、本級的所述掃描電路以及本級的所述掃描電路連接的所述第一信號線之間形成回路，使得所述第一觸控電極的電壓值降低，對應的顯示區的亮度較暗。

6.根據權利要求5所述的內嵌式觸控屏測試電路，其特征在于，各所述掃描電路的測試信號輸出端，依序循環向對應的所述觸控電極通入高電平信號，當一所述觸控電極通入高電平信號時，其余各所述觸控電極通入低電平信號。

7.根據權利要求6所述的內嵌式觸控屏測試電路，其特征在于，所述顯示陣列包括若干掃描線及若干數據線，所述掃描線與所述數據線垂直相交形成若干像素單元，每一所述像素單元包括一像素電極以及一薄膜晶體管，所述薄膜晶體管包括有柵極、源極以及漏極，所述薄膜晶體管的柵極連接相應的所述掃描線，所述薄膜晶體管的漏極連接相應的所述像素電極，所述薄膜晶體管的源極連接相應的所述數據線；其中，

在進行觸控電極通路測試時，所述數據線向所述像素單元通入0V電壓。

8.根據權利要求7所述的內嵌式觸控屏測試電路，其特征在于，所述掃描電路的測試信號輸出端輸出高電平信號或低電平信號，所述高電平信號與所述數據線輸出信號的壓差，與所述低電平信號與所述數據線輸出信號的壓差的絕對值相等。