[發明專利]通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法在審
| 申請號: | 201710514475.6 | 申請日: | 2017-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN107367521A | 公開(公告)日: | 2017-11-21 |
| 發明(設計)人: | 杜亞明 | 申請(專利權)人: | 蘇州浪聲科學儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223;G01N23/22 |
| 代理公司: | 蘇州知途知識產權代理事務所(普通合伙)32299 | 代理人: | 張錦波 |
| 地址: | 215100 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通過 射線 熒光 光譜 測定 玻璃 雜質 方法 | ||
1.一種通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,包括以下步驟:
1)取玻璃纖維標準品和待測玻璃纖維,再將所述玻璃纖維標準品、待測玻璃纖維分別先用混合溶劑混合攪拌均勻后,再滴加碘化氨,得到混合物,然后于10分鐘內升溫至1100~1300℃,再于1100~1300℃將所述標準品混合物和待測品混合物分別熔融15~25分鐘成標準玻璃樣片和待測玻璃樣片,所述混合溶劑為四硼酸鋰和偏硼酸鋰的混合溶劑,所述四硼酸鋰和偏硼酸鋰的質量比為35:65;
2)再將所述標準玻璃樣片和待檢測玻璃樣片通過X射線熒光光譜儀進行檢測,并根據強度與含量確定線性關系,制作校準曲線,得到玻璃中雜質的含量。
2.根據權利要求1所述的通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,其特征在于,在步驟1)中,于1150℃熔融18分鐘制成標準玻璃樣片和待檢測玻璃樣片。
3.根據權利要求1或2所述的通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,其特征在于,在步驟1)中,在升溫之前,還包括將所述混合物預熱3~5min的步驟。
4.根據權利要求1或2所述的通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,其特征在于,在步驟1)中,所述混合溶劑與所述玻璃纖維標準品、待測玻璃纖維的質量比為(12~15):1。
5.根據權利要求1或2所述的通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,其特征在于,在步驟1)中,所述混合溶劑與所述玻璃纖維標準品、待測玻璃纖維的質量比為13:1。
6.根據權利要求5所述的通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,其特征在于,所述碘化銨為濃度為50%的碘化銨。
7.根據權利要求1或2所述的通過X射線熒光光譜法測定玻璃中雜質的方法,其特征在于,在步驟1)中,將所述混合物熔融15~25分鐘成標準玻璃樣片和待測玻璃樣片后,還包括將所述標準玻璃樣片和待測玻璃樣片冷卻的步驟。
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